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本发明公开了一种延迟故障的测试向量集的生成方法，涉及集成电路可测性设计领域。所述方法包括步骤：根据两帧电路模型统计实物电路中每个触发器的后继集合和前驱集合；根据所述后继集合，将所述触发器进行分组，按组构造以扫描输入端为根节点的扫描树；所述扫...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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