一种阵列光纤长度差距的测量方法技术

本发明专利技术提供一种阵列光纤长度差距的测量方法，包括：第一步，准备测试装置，包括：一宽带光源、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器、一1×2光耦合器、一多通道阵列光纤和一光谱分析仪；第二步，将光环形器的输入端口与所述宽带光源光耦合，并使光环形器的第一输出端与1×2光耦合器的输入端光耦合，所述第二输出端口与光谱分析仪光耦合，1×2光耦合器的两输出端与多通道阵列光纤待测试的任意两路光纤各自光耦合，并自由空间范围(FSR)数据值，再换算成以频率表示的自由空间范围(FSRv)数据值；第三步，通过公式计算出多通道阵列光纤的待测试两路光纤差距d值，当大于0.2mm时，研磨长端光纤，使其达到要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种阵列光纤长度的测试方法，尤其涉及一种阵列光纤长度差距的测量方法。
技术介绍
随着光通讯技术的发展，光网络将升级到40G系统甚至100G系统以满足城域网络 和骨干网的需求和发展。为满足高速率传输的要求，各种相位调制技术得到大量应用，如双 极性正交相位键控调制解调器(DP-QPSK)，差分正交相移键控调制解调器(DQPSK)等光器 件，这些器件有基于自由空间结构或平面光波导(PLC)结构的，自由空间结构光器件一般 采用迈克尔逊干涉结构，而平面光波导结构的光器件，一般采用马赫泽德干涉(MZI)结构。 经过相位调制解调器的光信号通过多通道阵列光纤，如2个、4个或者8个通道输出后进行 差分比较，如果阵列输出通道的各光纤长度不一致，则会造成光脉冲信号叠加，影响光通信 信号脉冲质量，尤其是光纤长度差距大于0. 2mm(时延为1皮秒)，光脉冲信号重叠严重，相 位键控调制解调器的光信号将无法输出。目前，为保证阵列光纤长度差距小于0. 2mm,采用 光时域反射仪(Optical Time Domain Itef lector，简称0TDR)测量阵列光纤的长度差距，但 是该设备价格昂贵本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种阵列光纤长度差距的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步，准备测试装置，包括：一宽带光源（１）、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器（２）、一１×２光耦合器（３）、一多通道阵列光纤（４）和一光谱分析仪（５）；第二步，将所述光环形器（２）的输入端口与所述宽带光源１光耦合，并使所述光环形器（２）的第一输出端与所述１×２光耦合器（３）的输入端光耦合，所述第二输出端口与所述光谱分析仪（５）光耦合，所述１×２光耦合器（３）的两输出端与所述多通道阵列光纤（４）待测试的任意两路光纤各自光耦合，所述宽带光源（１）的光进入光环形器（２）的输入端，并由其第二输出端通过所述１×２光耦合器（３）...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王忠健，陈思乡，
申请(专利权)人：深圳新飞通光电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94