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本发明提供一种阵列光纤长度差距的测量方法，包括：第一步，准备测试装置，包括：一宽带光源、一具有一输入端口和第一和第二输出端口的光环形器、一1×2光耦合器、一多通道阵列光纤和一光谱分析仪；第二步，将光环形器的输入端口与所述宽带光源光耦合，并使...
该专利属于深圳新飞通光电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳新飞通光电子技术有限公司授权不得商用。

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