一种冷镜式精密露点仪，其特征在于所述露点探头包括：制冷单元，包括采用帕尔贴制冷的预冷模块和散热系统；气体温度自动补偿单元，对采样气体温度进行补偿；强制成霜单元，在由湿向干测量时，对于在-40℃和-2℃之间的露点，强制在镜面形成霜；光电传感器，包括一个双光路单元。本发明专利技术优点在于，解决了冷镜式露点仪常见的露点霜点区分的问题，进一步提高了测量结果的精度和准确度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种露点仪。
技术介绍
露点仪的测量精度是企业关注的问题。通常来说，冷镜式露点测量方法比其他方 法具有更高的精确度。但是冷镜式露点测量方法存在着两个问题，一是由于感应过程中由 于光线反射、散射、折射等情况造成光线不足，降低光敏感性；另一个是由于冷镜式往往无 法区分露点和霜点，而使得测量结果出现较大误差。由于这两个问题的存在，使得冷镜式露 点仪在应用上受到一定的限制。
技术实现思路
本专利技术的目的就是解决上述问题，防止光线的散失，并解决了露点和霜点的区分 问题。为实现该目的，本专利技术提供一种冷镜式精密露点仪，包括露点探头和显示模块，其特 征在于所述露点探头包括制冷单元，包括采用帕尔贴制冷的预冷模块和散热系统；气体温度自动补偿单元，对采样气体温度进行补偿；强制成霜单元，在由湿向干测量时，对于在-40°C和_2°C之间的露点，强制在镜面 形成霜；光电传感器，包括一个双光路单元。优选的，所述露点探头镜面带有显微镜。优选的，所述露点探头内置流量传感器。优选的，所述双光路单元包括聚光镜和分光镜，所述聚光镜聚焦入射光、放射光以 及反射光；所述分光镜对入射光进行温度补偿，恒定入射光强度。优选的，所述显示模块采用IXD显示。优选的，所述显示模块可多单位显示露点温度Td，霜点温度Tf，相对湿度RH和气 体浓度百万分率PPM。本专利技术的优点在于，利用强制成霜技术解决了冷镜式露点仪无法区分露点和霜点 的问题，同时利用双光路系统，防止光线的散失，从而解决了冷镜式露点仪使用中的主要问 题，进一步提升了其测量精确度。附图说明图1展示了本专利技术的流程图。具体实施例方式实施例一请参见图1，图1是本专利技术的流程。本专利技术制冷单元中的预冷模块采用帕尔贴制冷3方法，配合其散热系统，有效制冷。所采集的样气到达镜面时候，露点探头中所具有的气体 温度自动补偿单元对其进行自动补偿，随后测温。在由湿向干测量时，对于在-40°C和-2°C 之间的露点，强制在镜面形成霜，从而实现冷镜式测量仪器对于露点和霜点的区别，避免误 差的产生。随后利用光电检测器实现对于样气露点的检测，光电检测器包括双光路单元，由 聚光镜和分光镜为主要构成部件，聚光镜可以聚焦入射光、放射光以及反射光，保证高灵敏 度感应器的光接受量，显著提高测量的敏感度，分光镜对入射光进行温度补偿，即使环境温 度不同，也能保证入射光强度恒定，进而保证测量的精度。随后将测量得到的相关数据传输 至显示单元进行显示。本专利技术利用具有双光路单元的光电检测器和强制成霜单元，解决了冷镜式露点仪 最常遇到的两个问题，进一步提高了露点仪检测结果的精确度。本专利技术提供的一种精密度较高的冷镜式露点仪，以上实施例仅用以说明，而非限 制本专利技术的技术方案。本领域的普通技术人员应当理解对本专利技术进行修改或者等同替换， 而不脱离本专利技术的精神和范围的任何修改或局部替换，均应涵盖在本专利技术的权利要求范围 当中。权利要求1.一种冷镜式精密露点仪，包括露点探头和显示模块，其特征在于所述露点探头包括 制冷单元，包括采用帕尔贴制冷的预冷模块和散热系统；气体温度自动补偿单元，对采样气体温度进行补偿；强制成霜单元，在由湿向干测量时，对于在-40°C和-2°C之间的露点，强制在镜面形成 霜；光电传感器，包括一个双光路单元。2.如权利要求1所述冷镜式精密露点仪，其特征在于，露点探头镜面带有显微镜。3.如权利要求1所述冷镜式精密露点仪，其特征在于，露点探头内置流量传感器。4.如权利要求1所述冷镜式精密露点仪，其特征在于，所述双光路单元包括聚光镜和 分光镜，所述聚光镜聚焦入射光、放射光以及反射光；所述分光镜对入射光进行温度补偿， 恒定入射光强度。5.如权利要求1所述冷镜式精密露点仪，其特征在于，所述显示模块采用LCD显示。6.如权利要求1所述冷镜式精密露点仪，其特征在于，所述显示模块可多单位显示露 点温度Td，霜点温度Tf，相对湿度RH和气体浓度百万分率PPM。全文摘要一种冷镜式精密露点仪，其特征在于所述露点探头包括制冷单元，包括采用帕尔贴制冷的预冷模块和散热系统；气体温度自动补偿单元，对采样气体温度进行补偿；强制成霜单元，在由湿向干测量时，对于在-40℃和-2℃之间的露点，强制在镜面形成霜；光电传感器，包括一个双光路单元。本专利技术优点在于，解决了冷镜式露点仪常见的露点霜点区分的问题，进一步提高了测量结果的精度和准确度。文档编号G01N21/17GK102087205SQ20091019998公开日2011年6月8日 申请日期2009年12月4日 优先权日2009年12月4日专利技术者吴伟, 王志兰 申请人:上海莫克电子技术有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种冷镜式精密露点仪，包括露点探头和显示模块，其特征在于所述露点探头包括：制冷单元，包括采用帕尔贴制冷的预冷模块和散热系统；气体温度自动补偿单元，对采样气体温度进行补偿；强制成霜单元，在由湿向干测量时，对于在－４０℃和－２℃之间的露点，强制在镜面形成霜；光电传感器，包括一个双光路单元。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王志兰，吴伟，
申请(专利权)人：上海莫克电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：31
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