一种测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置制造方法及图纸

技术编号:6956529 阅读:317 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置。其低压室由内层密封室和辅助密封室两层密封形成双层密封结构。内层密封室与抽真空装置连通的路管上有两个串联低压室针阀,连通辅助密封室的路管与两个串联低压室针阀之间连通的路管相连。气源阀及隔断阀和与其相邻的高压室针阀之间的连通路管用绝热材料绝热,隔断阀及放空阀和与其相邻的低压室针阀之间的连通路管用绝热材料绝热,测试容器和与其连通的绝热路管放置隔热罩内。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置
技术介绍
目前,基于压差法的是薄膜透气性测试的主要方法之一,国际上基于压差法的薄膜透气性测试标准有ASTM D1434、ISO 15105-1、ISO 2556-2001、JIS K7U6等,我国执行的标准为GB/T 1038-2000。不同的研究机构根据不同的标准已研制出不同类型的薄膜透气性能测试仪。但是,这些测试装置有相似之处,其测试容器由试验气体腔体和测试腔体组成。试验气体腔体设有高压室,测试腔体设有单层密封结构的低压室,高压室导入一个大气压的气体,低压室抽成真空,低压室的泄漏直接影响测试装置的测试结果。针对透气性非常低的高阻隔性薄膜透气性测试,低压室需要几乎没有泄漏的良好密封性能,单层密封结构的密封性能难以满足要求。为此,一些研究机构给出了基于“2”、“ 1,,压差法的薄膜透气性能测试仪,即向高压室导入两个大气压的气体,低压室保持一个大气压,这可减少泄漏、满足一个大气压压差的测试要求,但这与薄膜在真空包装、常压下使用有差别,与实际使用情况不符。也有通过测试与被测气体质量数不同但化学性质相同的同位素气体透气性,来推算测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置,其特征是,它包括具有双层密封结构低压室的测试容器、抽真空装置、气源装置及隔热罩。测试容器通过带有压力传感器、高压室针阀、低压室针阀、隔断阀、气源阀、放空阀及隔热材料的路管和抽真空装置及气源装置连通。

【技术特征摘要】
1.一种测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置,其特征是,它包括具有双层密封结构低压室的测试容器、抽真空装置、气源装置及隔热罩。测试容器通过带有压力传感器、高压室针阀、低压室针阀、隔断阀、气源阀、放空阀及隔热材料的路管和抽真空装置及气源装置连ο2.如权利要求1所述的测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置,其特征是,测试容器由试验气体腔体和测试腔体组成。试验气体腔体设有高压室,测试腔体设有低压室。该低压室由两个密封室组成,一个内层密封室,它与高压室及测试件形成渗透室;一个辅助密封室, 它在内层密封室外部。低压室由内层密封室和辅助密封室两层密封形成双层密封结构。3.如权利要求1所述的测试高阻隔性薄膜透气性的测试装置,其特征是,...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘孝锋汪仁煌周学成李学聪刘洪江
申请(专利权)人:广州标际包装设备有限公司广东工业大学
类型:发明
国别省市:81

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