多层光学记录介质制造技术

一种多层光学记录介质，包括：多个反射入射光束的界面，且邻近的界面之间具有隔离层。当光入射面侧被定义为上面侧时，包括连续设置的具有不同厚度的隔离层的不同厚度层单元设置在最下层侧上，且均具有与设置在不同厚度层单元中的任何一个隔离层的厚度都不同的厚度的隔离层连续设置在不同厚度层单元的上方。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具有多个反射入射光束的界面的多层光学记录介质。
技术介绍
近年来，诸如⑶(光盘)、DVD (数字通用光盘)以及BD (蓝光光盘(商标名))的光学记录介质已经广泛应用。在这种记录介质中，具有记录膜(记录层)的可记录光学记录介质具有多个记录层以增大记录容量。具体地，近年来，已经开发了具有三层以上记录膜的多层光学记录介质 (例如，参见日本未审查专利申请公开第2004-213720号)。然而，在多层光学记录介质中，产生所谓的层间杂散光(interlayer stray light)。因此，引起多重干涉的问题。如这里所使用的，术语“多重干涉”是指(从其再生信息的)记录膜所反射的光束与不同于用于再生的记录膜的三个以上界面(光反射性界面) 所反射的光束相干涉，因此，在检测器上产生光强度的变化。当然期望防止多重干涉的产生，以便防止再生性能的降低。对于具有三层记录膜的三层光学记录介质，可以通过使记录膜之间形成的隔离层 (spacer)的厚度彼此不同来防止多重干涉的产生。这可以通过着眼于如下情况来理解，即，三层光学记录介质在记录膜LrcO和 Lrcl (LrcO表示最下层记录膜)之间具有隔离层，该隔离层的厚度与记录膜Lrcl和记录膜 Lrc2之间的隔离层的厚度相同，且记录膜LrcO中的信息被再生。即，在这种情况下，聚焦在记录膜LrcO上并被记录膜LrcO反射的光束(再生光束-被干涉光束)的光路长度与被记录膜Lrcl、记录膜Lrc2(下表面)以及记录膜Lrcl连续反射的光束(即，杂散光束)的光路长度相同。由此，这些光束彼此干涉，因此，产生多重干涉。因此，对于三层光学记录介质，通过对形成在记录膜之间的隔离层采用不同厚度， 可以使干涉光束的光路长度与杂散光束的光路长度不同。这样，可以防止多重干涉的产生。然而，对于具有四层以上层的多层光学记录介质，难以仅通过采用不同厚度的隔离层来防止多重干涉的产生。例如，如图17所示，讨论具有5层记录膜Lrc(即，记录膜LrcO Lrc4)的多层光学记录介质。厚度为4的隔离层Sl形成在记录膜LrcO和Lrcl之间。厚度为2的隔离层 S2形成在记录膜Lrcl和Lrc2之间。厚度为3的隔离层S3形成在记录膜Lrc2和Lrc3之间。厚度为1的隔离层S4形成在记录膜Lrc3和Lrc4之间。这样，隔离层的厚度被设定为不同的值。在这种情况下，当记录在最下层记录膜LrcO中的信息被再生时，对于再生光束 (如图17中粗实线箭头所示)，由记录膜Lrc2、Lrc4以及Lrcl以该顺序反射的杂散光束 (如图17中细实线箭头所示)的光路长度与由记录膜LrCl、LrC4以及Lrc2以该顺序反射的杂散光束(如图17中细虚线箭头所示)的光路长度相同。因此，两个杂散光束与再生光束相干涉。这是因为隔离层Sl的厚度与隔离层S3和S4的厚度和之和相同。如上所述，在具有四个以上记录膜的多层光学记录介质中，难以仅通过采用不同厚度的隔离层来防止多重干涉的产生。
技术实现思路
注意，为了增加光学记录介质的层数，记录介质的制造效率是重要的。如从上面的说明可以看出，对于所有隔离层需要采用不同厚度，以便防止多重干涉的产生。这导致对于隔离层需要使用不同的层压工艺。因此，记录介质的制造效率降低。此外，如果层数目进一步增加，以便生产例如具有几十层的多层光学记录介质，完全防止多重干涉的产生是非常困难的。即，为了完全防止多重干涉的产生，如图17所示，不仅需要设定各层的厚度，而且需要设定多个厚度的和，从而使这些厚度不相同。然而，为了实现这种厚度，光学记录介质的整体厚度显著增加。结果，校正每层中产生的球面像差是非常困难的。应该注意，不必完全防止多重干涉的产生，而是可以将多重干涉减小到一定水平， 从而保持一定的再生性能。因此，本专利技术提供了可生产的多层光学记录介质，其能够在保持优异的制造效率的同时减小多重干涉。因此，本专利技术的多层光学记录介质采用下面的结构。S卩，根据本专利技术的实施方式，多层光学记录介质包括多个反射入射光束的界面，其中界面中邻近的界面之间具有隔离层。当光入射面侧被定义为上面侧时，包括具有不同厚度的连续设置的隔离层的不同厚度层单元设置在最下层侧上，且均具有与设置在不同厚度层单元中的任何一个隔离层的厚度都不同的厚度的隔离层连续设置在不同厚度层单元的上方。这样，根据该实施方式，包括具有不同厚度的隔离层的不同厚度层单元形成在最下层侧上，且包括连续设置的均具有相同厚度的隔离层的相等厚度层单元形成在不同厚度层单元上方。通过在最下层侧上设施不同厚度层单元，可有效减少严重的多重干涉的产生。艮口， 因为，如下所述，干涉光束经由其传播的界面越向下层侧设置，多重干涉的程度越高，所以不同厚度层单元如上所述地设置在最下层侧上。S卩，通过避免最下层侧上具有相同厚度的隔离层的存在，可有效防止严重多重干涉的产生。此外，通过设置包括连续设置在不同厚度层单元上方的均具有相同厚度的隔离层的相等厚度层单元，可有效减少多重干涉的产生，如下所述。这样，根据本专利技术的实施方式，可以有效减少多层光学记录介质中多重干涉的产生。此外，因为结构包括连续设置的均具有相同厚度的隔离层，所以该部分可以使用相同的层压工艺来制造。因此，与例如所有隔离层具有不同厚度的结构相比，可以改善制造效率。此外，因为允许使用均具有相同厚度的隔离层的设置，所以与将隔离层的厚度确定为完全防止多重干涉的产生的结构相比，可以有利减小记录介质的整体厚度。因此，根据本专利技术的实施方式，可以在保持多层光学记录介质的优异制造效率的同时减小多重干涉的产生。附图说明图1示出根据本专利技术实施方式的多层光学记录介质的示例性截面结构；图2示出在根据实施方式的多层光学记录介质上执行的伺服控制的实例；图3是在根据实施方式的多层光学记录介质上执行记录和再生操作的光学系统的示意图；图4A和4B是用于讨论引起实际问题的干涉光的示图；图5示出在比较结构1中隔离层厚度的设定实例；图6示出在比较结构2中隔离层厚度的设定实例；图7示出在比较结构3中隔离层厚度的设定实例；图8示出比较结构3的自相似性；图9示出在比较结构4中隔离层厚度的设定实例；图10示出根据实施方式的示例性结构；图11示出比较结构1至4与根据实施方式的示例性结构中的干涉光束数目的比较；图12示出每个界面的能量反射率和能量透射率的设定实例；图13A和1 示出每个界面的能量反射率和能量透射率以及界面的有效反射率的设定实例；图14示出比较结构1至4与根据实施方式的示例性结构中光强度变化的比较；图15示出根据实施方式的示例性结构(变形后)；图16A和16B示出当确定设置在不同厚度层单元中的隔离层的数目时所使用的设计方针；以及图17示出在包括四个以上记录膜的多层光学记录介质中产生多重干涉的方式。 具体实施例方式下面说明本专利技术的示例性实施方式。按照下面的顺序进行说明1.多层光学记录介质的截面结构以及记录/再生2.防止多重干涉的隔离层厚度的设定2-1对多重干涉的讨论2-2有效减小多重干涉的设计方针2-3根据实施方式的隔离层厚度的设定技术2-4隔离层厚度的设定实例3.变形例1.多层光学记录介质的截面结构以及记录/再生图1示出根据本专利技术实施方式的多层光学记录介质(多层光学记录介质1)的示例性截面结构。多层光本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种多层光学记录介质，包括：多个反射入射光束的界面，所述界面中邻近的界面之间具有隔离层；其中，当光入射面侧被定义为上面侧时，包括具有不同厚度的连续设置的隔离层的不同厚度层单元设置在最下层侧上，且均具有与设置在所述不同厚度层单元中的任何一个隔离层的厚度都不同的厚度的隔离层连续设置在所述不同厚度层单元的上方。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：坂本哲洋，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP