双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法制造方法及图纸

一种双栅极线显示装置的测试结构及线缺陷测试方法，测试结构包括：第一数据线测试线，通过薄膜晶体管与第一组数据线连接；第二数据线测试线，通过薄膜晶体管与第二组数据线连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体管与第三组数据线连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。根据双栅极显示装置的电路连接结构，将数据线分成三组，每一组数据线分别通过薄膜晶体管与不同的数据线测试线连接，通过控制相应的数据线测试线来控制数据线的导通，可以分别实现Ｒ画面、Ｇ画面和Ｂ画面，在判断数据线断路时可以准确知道同一像素单元内的哪条数据线断路以及短路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示器领域，尤其涉及一种具有双栅极线的液晶显示装置的测试结 构，以及利用该测试结构测试显示装置的线缺陷的方法。
技术介绍
近年来，随着信息通讯领域的迅速发展，对各种类型的显示设备的需求越来越大。 目前主流的显示装置主要有阴极射线管显示器(CRT)，液晶显示器(LCD)，等离子体显示 器(PDP)，电致发光显示器(ELD)和真空荧光显示器(VFD)等。由于液晶显示装置具有轻、薄、占地小、耗电小、辐射小等优点，被广泛应用于各 种数据处理设备中，例如电视、笔记本电脑、移动电话、个人数字助理等。因为源极驱动器成本比栅极驱动器的成本高，所以减少数据线的数量会降低驱动 器的成本，具有双栅极线(dual gate)的液晶显示器通过减少一半数量的数据线，增加1倍 数量的栅极线来降低成本。图1为现有技术的一种具有双栅极线的液晶显示装置的电路结 构示意图，双栅极线的液晶显示装置具有多条数据线Si、S2、S3……S3n-2、S3n_l、S3n，与 数据线垂直的多条栅极线Gl、G2、G3……&1，同一行相邻的像素不共用栅极线，不共用栅极 线的相邻列像素共用一条数据线。图2为现有技术的测试液晶显示装置驱动线线缺陷的测试电路示意图，现有技术 测试液晶显示装置线缺陷的测试结构包括通过薄膜晶体管与栅极线G1、G2、G3……连接 的栅极线电压输入线G，通过薄膜晶体管与数据线Si、S2、S3……S3n-2、S3n_l、S3n连接的 数据线电压输入线S，与薄膜晶体管连接的开关控制线SW，该开关控制线SW控制所有与栅 极线电压输入线G和数据线电压输入线S连接的薄膜晶体管的开关。该现有的测试结构把 所有的数据线短路在一起，所有的栅极线短路在一起，所以相邻的线之间的短路便不能测 出，此测试结构只能测试断路。而且此种测试结构不能分别实现R画面、G画面和B画面， 不能区分断路时是同一像素单元内R数据线、G数据线和B数据线哪条断路。
技术实现思路
本专利技术解决的问题是现有技术的具有双栅极线的显示装置的测试结构不能测试 数据线和栅极线的短路，并且不能分别实现R画面、G画面和B画面，因此数据线断路时不 能区分是同一像素单元内R数据线、G数据线和B数据线哪条断路。为解决上述问题，本专利技术提供一种双栅极线显示装置的测试结构，包括第一数据 线测试线，通过薄膜晶体管与第一组数据线S1、S4、……S3n-2连接；第二数据线测试线，通 过薄膜晶体管与第二组数据线S2、S5、……S3n-1连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体 管与第三组数据线S3、S6、……S3n连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。可选的，第一数据线测试线、第二数据线测试线和第三数据线测试线包括共用的 数据线电压输入线，所述第一数据线测试线还包括第一数据线开关控制线，通过多个薄膜 晶体管的栅极与第一组数据线中对应的数据线连接、源极与所述共用的电压输入线连接；所述第二数据线测试线包括第二数据线开关控制线，通过多个薄膜晶体管的栅极与第二 组数据线中对应的数据线连接、源极与所述共用的电压输入线连接；所述第三数据线测试 线包括第三数据线开关控制线，通过多个薄膜晶体管与第三组数据线中对应的数据线连 接、源极与所述共用的电压输入线连接。本专利技术还提供一种利用以上所述的测试结构测试双栅极线显示装置线缺陷的方 法，包括在前半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压，使奇数栅极线控制的数据线 相应的像素电极处于非导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压即高电压使偶数 栅极线控制的数据线相应的像素电极处于导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电压 控制薄膜晶体管导通第一组数据线处于导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压控 制薄膜晶体管截止第二组数据线处于非导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压控 制薄膜晶体管导通第三组数据线处于导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使显 示屏显示红色画面；在后半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压即高电压，使奇数栅极线控制 的数据线相应的像素电极处于导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压使偶数栅 极线控制的数据线相应的像素电极处于非导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电压 控制薄膜晶体管截止第一组数据线处于非导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压 控制薄膜晶体管导通第二组数据线处于导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压控 制薄膜晶体管导通第三组数据线处于导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使显 示屏显示红色画面。本专利技术提供另一种利用以上所述的测试结构测试双栅极线显示装置线缺陷的方 法，包括在前半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压，使奇数栅极线控制的数据线 相应的像素电极处于非导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压使偶数栅极线控 制的数据线相应的像素电极处于导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电压控制薄膜 晶体管截止第一组数据线处于非导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压控制薄膜 晶体管导通第二组数据线处于导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶 体管导通第三组数据线处于导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使显示屏显示 绿色画面；在后半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压使奇数数栅极线控制的数据线 相应的像素电极处于导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压使偶数栅极线控制 的数据线相应的像素电极处于非导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电压控制薄膜 晶体管导通第一组数据线处于导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶 体管导通第三组数据线处于导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体 管截止第二组数据线处于非导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使显示屏显示 绿色画面。本专利技术还提供一种利用以上所述的测试结构测试双栅极线显示装置线缺陷的方法，包括在前半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压使奇数栅极线控制的数据线相 应的像素电极处于非导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压使偶数栅极线控制 的数据线相应的像素电极处于导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶 体管导通第一组数据线处于导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体 管导通第二组数据线处于导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管 截止第三组数据线处于非导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使显示屏显示蓝 色画面；在后半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅 极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压即高电压使奇数栅极线控制的 数据线相应的像素电极处于导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压使偶数栅极 线控制的数据线相本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，包括：第一数据线测试线，通过薄膜晶体管与第一组数据线（Ｓ１、Ｓ４、……Ｓ３ｎ－２）连接；第二数据线测试线，通过薄膜晶体管与第二组数据线（Ｓ２、Ｓ５、……Ｓ３ｎ－１）连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体管与第三组数据线（Ｓ３、Ｓ６、……Ｓ３ｎ）连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。

【技术特征摘要】
1.一种双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，包括第一数据线测试线，通过薄 膜晶体管与第一组数据线(S1、S4、……S3n-2)连接；第二数据线测试线，通过薄膜晶体管 与第二组数据线(S2、S5、……S3n-1)连接；第三数据线测试线，通过薄膜晶体管与第三组 数据线(S3、S6、……S3n)连接；栅极线测试线，通过薄膜晶体管与栅极线连接。2.如权利要求1所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，所述第一数据线 测试线包括第一数据线开关控制线和数据线电压输入线，通过多个薄膜晶体管的栅极与 所述第一数据线开关控制线连接、源极与数据线电压输入线连接、漏极分别与第一组数据 线中对应的数据线连接。3.如权利要求1所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，所述第二数据线 测试线包括第二数据线开关控制线和数据线电压输入线，通过多个薄膜晶体管的栅极与 所述第二数据线开关控制线连接、源极与数据线电压输入线连接、漏极分别与第二组数据 线中对应的数据线连接。4.如权利要求1所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，所述第三数据线 测试线包括第三数据线开关控制线和数据线电压输入线，通过多个薄膜晶体管的栅极与 所述第二数据线开关控制线连接、源极与数据线电压输入线连接、漏极分别与第三组数据 线中对应的数据线连接。5.如权利要求1所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，第一数据线测试 线、第二数据线测试线和第三数据线测试线包括共用的数据线电压输入线，所述第一数据 线测试线还包括第一数据线开关控制线，通过多个薄膜晶体管的栅极与第一组数据线中 对应的数据线连接、源极与所述共用的电压输入线连接；所述第二数据线测试线包括第 二数据线开关控制线，通过多个薄膜晶体管的栅极与第二组数据线中对应的数据线连接、 源极与所述共用的电压输入线连接；所述第三数据线测试线包括第三数据线开关控制 线，通过多个薄膜晶体管与第三组数据线中对应的数据线连接、源极与所述共用的电压输 入线连接。6.如权利要求1所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，所述栅极线测试 线包括栅极线开关控制线，通过多个薄膜晶体管的栅极与每一条栅极线连接；奇数栅极 线电压输入线，通过所述多个薄膜晶体管中对应的源极与奇数栅极线连接；偶数栅极线电 压输入线，通过所述多个薄膜晶体管中对应的源极与偶数栅极线连接。7.如权利要求5所述的双栅极线显示装置的测试结构，其特征在于，所述栅极线测试 线包括栅极线开关控制线，通过多个薄膜晶体管的栅极与每一条栅极线连接；奇数栅极 线电压输入线，通过所述多个薄膜晶体管中对应的源极与奇数栅极线连接；偶数栅极线电 压输入线，通过所述多个薄膜晶体管中对应的源极与偶数栅极线连接。8.一种利用权利要求1所述的测试结构测试双栅极线显示装置线缺陷的方法，其特征 在于，包括控制第一数据线测试线、第二数据线测试线、第三数据线测试线以及栅极线测 试线，通过控制测试电压，使显示屏上显示红色画面或绿色画面或者蓝色画面。9.一种利用权利要求7所述的测试结构测试双栅极线显示装置线缺陷的方法，其特征 在于，包括在前半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的 栅极线处于导通状态，给奇数栅极线电压输入线输入测试电压，使奇数栅极线控制的数据 线相应的像素电极处于非导通状态，给偶数栅极线电压输入线输入测试电压即高电压使偶数栅极线控制的数据线相应的像素电极处于导通状态；给第一数据线开关控制线一控制电 压控制薄膜晶体管导通第一组数据线处于导通状态，给第二数据线开关控制线一控制电压 控制薄膜晶体管截止第二组数据线处于非导通状态，给第三数据线开关控制线一控制电压 控制薄膜晶体管导通第三组数据线处于导通状态；给数据线电压输入线输入测试电压，使 显示屏显示红色画面；在后半时序中，给栅极线开关控制线一控制电压控制薄膜晶体管导通使所有的栅极线 处于导通状...

【专利技术属性】
技术研发人员：李元，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]