改良的探针检测结构制造技术

本实用新型专利技术是有关于一种改良的探针检测结构，是指检测治具中针板的面板设有上板、下板和夹在上、下板的薄弹性板；探针一端设为尖锥体，可由面板的针孔外侧往内插设抵接在弹性组件一端内径处；导线一端连接在弹性组件另端，另端连接在检测机或接头；因此，探针将具有制作、装卸简易、方便、快速和经济性，而其与弹性组件尤可设为更细小，使得高密度的布设在检测治具，并对具有高密度被检测点的被测物实施精准、确实检测效果。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种探针检测结构，特别是涉及一种设置简单、经济，装卸、使用 具有简易、方便、快速的高效率和经济性，可使探针高密度的布设在检测治具，并对具有高 密度被检测点的被测物实施精准、确实检测效果，而极符实际适用性、理想性和进步性，且 前所未有的改良的探针检测结构。
技术介绍
一般具有多个被测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件或 晶圆等制成后，均需通过一种专用治具予以检测，借以确认是否为良品或有无断路现象。按 现有习知的产业间所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等被测物的方 式，大抵如图1所示，是在一治具10上表面设置有若干支探针20，该若干支探针20且配合 被测物30底面的各被检测点(图中未示)位置设置；另外，在治具10的下方设有一底座 11，及在底座11的四周配置有接头12，而上述接头12且与电路检测机的排线(图中未示) 相连接导通。当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头12，续将被测物30对应放 置在治具10的探针20上，借此探针20与被测物30底面的被检测点接触后，电路测试机便 可显示被测物30是否有断路或不良等现象。另一方面，为了使本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种改良的探针检测结构，是指检测治具的针板内设有预定数目的检测用探针、供探针复位的弹性组件、及供检测值传输至检测机的导线；其中，针板包含有中间承板、底板和面板，它们相互通过数轴销穿置结合，该中间承板设有容纳孔供弹性组件容置，该底板位于中间承板下方承接着弹性组件，设有与中间承板的容纳孔对应并呈较小的穿孔，该导线一端连接在弹性组件一端，另端连接在检测机或接头；其特征在于：该面板设有上板、下板和夹设在上、下板之间的弹性薄板，在上、下板分别设有与弹性组件相对应的针孔，该探针一端设为尖锥体，是由面板的上板针孔处插入，并刺破弹性薄板和经过下板针孔而插置在对应弹性组件的一端内径位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王天泽，
申请(专利权)人：诺亚电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]