【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种导电性测试棒。
技术介绍
随着科技的进步,电子设备越来越趋向高精度及微型化,因此电路板上出现了大 量的插针式引脚,用于传递各元件之间的信号。而现有的用于测试电路板电气特性的设备, 如万用表等,其探头为一尖状的金属针体。测试时,需要测试人员一直按住所述探头使得所 述探头紧贴待测的插针式引脚,比较麻烦。另外由于各插针式引脚排列紧密,所述探头容易 接触到其他插针式引脚导致各插针式引脚短路,造成测试失误甚至电路板烧毁。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种方便测试人员进行测试的导电性测试棒。一种导电性测试棒,包括一触头,其为金属材质且一端设一开口,所述开口向内凹陷形成一轴向孔,所述触 头的中部向所述轴向孔的中心轴凹陷形成一弹性的卡固部;一连接头,其固定连接于所述触头远离所述开口的一端,所述连接头通过一导线 与一测试装置相连;及一绝缘外壳,所述绝缘外壳包覆在所述触头及连接头的外表面。本专利技术导电性测试棒通过所述卡固部卡住所述插针式引脚,不需要测试人员一直 按住所述导电性测试棒。而所述触头外部的绝缘外壳使得各插针式引脚之间不会短路。附图说明图1是本专利技术导电性测试棒的使用状态图。图2是本专利技术导电性测试棒的立体图。图3是本专利技术导电性测试棒的较佳实施方式剖视图。具体实施例方式下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术做进一步的描述。请参考图1,本专利技术导电性测试棒10用于接触一电路板20上的插针式引脚30以 测试电路板20的电气特性。请继续参考图2及图3,本专利技术导电性测试棒10的较佳实施方式包括一触头100、 一连接头200、一导线 ...
【技术保护点】
一种导电性测试棒,包括:一触头,其为金属材质且一端设一开口,所述开口向内凹陷形成一轴向孔,所述触头的中部向所述轴向孔的中心轴凹陷形成一弹性的卡固部;一连接头,其固定连接于所述触头远离所述开口的一端,所述连接头通过一导线与一测试装置相连;及一绝缘外壳,所述绝缘外壳包覆在所述触头及连接头的外表面。
【技术特征摘要】
1.一种导电性测试棒,包括一触头,其为金属材质且一端设一开口,所述开口向内凹陷形成一轴向孔,所述触头的 中部向所述轴向孔的中心轴凹陷形成一弹性的卡固部;一连接头,其固定连接于所述触头远离所述开口的一端,所述连接头通过一导线与一 测试装置相连;及一绝缘外壳,所述绝缘外壳包覆在所述触头及连接头的外表面。2.如...
【专利技术属性】
技术研发人员:李月姣,王超,陈岩,王太诚,
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司,鸿海精密工业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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