单分子检测用扫描分析器和使用方法技术

本发明专利技术涉及用于检测单分子或分子复合物的分析器，所述分析器使用迁移穿过样品的电磁辐射以检测分子的存在或不存在而不会在样品之间夹带。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求提交于2007年12月19日的美国临时申请第61/015，142号的权益， 本文通过援引并入该申请的内容。
技术介绍
生物医学研究、医学诊断、预后、监测和治疗选择、生物恐怖检测和其它涉及分析 物的多个低体积、低浓度样品的分析的领域中的进展已经导致了能在不断降低的浓度下灵 敏地检测样品中的颗粒的样品分析系统的发展。美国专利第4，793，705和5，209，834号描 述了此前的实现极为灵敏的检测的系统。本专利技术提供了在该领域中进一步的发展。
技术实现思路
本文提供了一种单分子分析器，所述单分子分析器包含(a)用于为包含样品的 样品容器提供电磁辐射的电磁辐射源；(b)用于将来自所述电磁辐射源的电磁辐射导向样 品中的询问空间(interrogation space)的系统；(c)用于使询问空间迁移通过样品的至 少一部分由此形成可移动询问空间的迁移系统；和(d)用于检测询问空间中的单分子在该 分子存在时所发射的电磁辐射的检测器，其中检测器与询问空间可操作地相连。在某些实 施方式中，单分子分析器具有如下迁移系统其中所述迁移系统能在一个或多个线性路径 和非线性路径中迁移所述询本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单分子分析器，所述分析器包含：（ａ）用于为包含样品的样品容器提供电磁辐射的电磁辐射源；（ｂ）用于将来自所述电磁辐射源的电磁辐射导向样品中的询问空间的系统；（ｃ）用于使所述询问空间迁移通过样品的至少一部分由此形成可移动的询问空间的迁移系统；和（ｄ）用于检测所述询问空间中的单分子在该分子存在时所发射的电磁辐射的检测器，其中所述检测器与所述询问空间可操作地相连。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：理查德A利文斯顿，
申请(专利权)人：神谷来克斯公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]