自动带检设备制造技术

一种自动带检设备，包含一芯片传送机构，具有二个对称设置的传动构件，形成一传送路径；一检视机构，设置于该传送路径之中，其中该检视机构包含二镜头及一光源，该二镜头分别具有不同光学倍率；及一定位机构，设置于该检视机构的下方。该自动带检设备用以检视多个芯片，该多个芯片设置于一长条挠性带，且每个芯片由一封带所贴封该自动带检设备使用具有不同光学倍率的镜头分别检视芯片及封带的质量。且可根据芯片及长条挠性带的尺寸可自动将待检测的芯片准确定位于镜头之下。另外，该自动带检设备具有张力控制机构，可将待检测的位置的长条挠性带保持平坦，提升检视质量，减少误判率。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种用以检视芯片的自动带检设备。
技术介绍
芯片除了可排列为晶圆的圆片状形式之外，亦可设置于一长条挠性带上而为带状 形式(如图1所示)，且该长条挠性带可卷收为卷带以利运送及储存。另外，芯片上由封带 贴封，封带上可印制有关芯片的数据等。芯片的检视一般包含芯片本身的质量检视及封装 于芯片上的封带的质量的检视。为了清楚检视，通常是利用光源照射的，然后通过具有放大 倍率的镜头检视之。且由于芯片被封带所覆盖，因此若欲检视芯片时，所须的放大倍率较检 视封带的放大倍率为高。而目前市面上的芯片带检设备为单一站式，由人工方式交替不同 倍率的镜头从而检视芯片上的封带及芯片本身。另外，取决于不同宽度的长条挠性带及不 同尺寸的芯片，也必须以人工方式调整光源、镜头的适当位置。人工调整的速度显然有所限 制，无法提升至令人满意的检视产出速度。又，于该卷带的大多数芯片已经依序被检视的情况中，在较后端的长条挠性带有 可能因为卷带重量拉扯，而造成在检视位置的长条挠性带不能保持平坦的情况。如此则无 法确实检视芯片及/或封带的质量，造成良率下降。
技术实现思路
针对需要手动更换不同倍率的镜头的一站式检视设备的缺点，本技术提出一 种自动带检设备，其为二站式检视设备。根据本技术的一实施例的自动带检设备包含一芯片传送机构，具有二个对称 设置的传动构件，该二个传动构件经建构而传动该长条挠性带通过一传送路径；一检视机 构，设置于该传送路径之中，而检视通过该传送路径的该长条挠性带上的该多个芯片以及 该封带，其中该检视机构包含二镜头及一光源，该二镜头分别具有不同光学倍率以分别检 视通过该传送路径中的该长条挠性带上的该多个芯片以及该封带；一定位机构，设置于该 检视机构的下方，将位在该传送路径中的该长条挠性带导引定位至适当位置，以使该检视 机构检视该长条挠性带上的该多个芯片以及该封带。本技术的有益效果是其可根据芯片及长条挠性带的尺寸可自动将待检测的 芯片准确定位于镜头之下。另外，该自动带检设备具有张力控制机构，可将待检测的位置的 长条挠性带保持平坦，提升检视质量，减少误判率。附图说明为进一步说明本技术的结构内容及其特征，配合附图及实施例详细说明如 后，其中图1为多个芯片排列于一长条挠性带上的示意图。图2为根据本技术的自动带检设备的一实施例的立体图。图3为根据本技术的自动带检设备的一实施例的方块图。具体实施方式请参照图2及图3，其分别为根据本技术的一实施例的自动带检设备的立体 图及方块图。自动带检设备包含一芯片传送机构201，为二对称设置的芯片传动构件201， 连接设置于一工作机台202，使该长条挠性带通过该芯片传动构件201之间的传送路径以 供检视；一检视机构203，设置于该传送路径之中，并连接设置于该工作机台202，用以依序 检视通过该传送路径中的该长条挠性带上的该多个芯片以及该封带，其中该检视机构203 包含二镜头203a、203b及一光源，其中该二镜头203a、203b分别具有不同光学倍率以分别 检视通过该传送路径中的该长条挠性带上的该多个芯片以及该封带；一定位机构204，设 置于该检视机构的下方，导引该长条挠性带至该传送路径中的适当位置，以由该检视机构 检视该长条挠性带上的该多个芯片以及该封带。卷带状的芯片挂置于该芯片传动构件201之前，该自动带检设备可先读取该卷带 的条形码，从而得知该卷带中的芯片尺寸等基本信息，并自动将芯片传动构件201及检视 机构203等机构调整为相应于尺寸的适当位置，亦调整所使用的光源位置、照射角度、亮度 等，以能确实检视芯片。详细而言，于本技术的应用中，该光源为多个白光发光二极管 组成的复合式光源，使该光源具有低角度环形光及扩散无影光的特性，以消除照明死角及 消除白光发光二极管产生的眩光、光影。如此则能消除封带上的反光与皱折，使检测结果不 受影响。光源的照射角度可于士 15度的范围内作相应调整。此外，该光源的亮度是根据该 自动带检设备的输入电流而调整强弱，输入电流越大则发光二极管的亮度越强，且对应的 输入电流范围在0安培至0. 85安培之间。另外，该定位机构204亦可被使用者快速调整为 相应于该长条挠性带带宽的位置，以将该长条挠性带导引至该传送路径中的适当位置。卷 带状的长条挠性带藉由两边对称设置的芯片传动构件201而在检视机构203下方的检视位 置被拉成平坦状。若无法以平坦状态检视该芯片及该封带，则有误判的可能。在此实施例 中，二芯片传动构件201为二对称设置的传动轮，且该二传动轮是以相同方向旋转，以推进 该长条挠性带。镜头203a、203b其中具有较低光学倍率者是用以检视封带的质量，例如检 视封带是否有破损、皱折、移位、长条挠性带中是否有多料或是少料现象等。镜头203a、203b 其中具有较大光学倍率者是用以检视芯片的质量，例如检视芯片的排列方向、是否有裂痕、 印字方向是否正确、是否有污损等。检测的标准是根据不同的标准设定而有所不同。此外，可将一电荷耦合装置(Charge Coupled Device, CCD)相机205及一数据库 2051 (显示于图3)设置连接于该检视机构203，对每一个待检测物拍照。当检视出不符标 准的的各种异常品(无论是芯片的异常或是封带的异常)时，可将该异常品的影像储存于 该数据库中，而可供存取分析。更进一步，可将一异常处理机构连接设置于该自动带检设备，当出现异常品时，用 以修复该异常品。当出现芯片异常品时，需要将该芯片异常品的位置的长条挠性带弯曲成 为U字型，以使芯片异常品位置的封带与长条挠性带可轻易分离，从而能以正常芯片替换 芯片异常品，然后重新贴合该封带。为了使位于检视位置的该芯片保持平坦或是使异常品 的位置成U字型，必须适当控制长条挠性带的两端张力，因此将一张力控制机构2011 (显示 于图3)设置于该芯片传送机构201以达上述目的。根据本技术的自动带检设备可另包含一主机206，连接于该自动带检设备的 工作机台202，于该主机206中储存一程序。该程序根据各种参数(例如芯片的尺寸以及 长条挠性带的宽度)而控制该芯片传送机构201、该检视机构203及该定位机构204的位 置及操作，使各种硬设备自动调校至最合适的位置，提升检测芯片的前置准备速度。该主机 206中可包含一联机机构2061 (显示于图3)，使该自动带检设备联机至因特网或是内部网 络，供在线查询检测结果、将在线分析检测结果或是储存检测结果等。根据本技术的自动带检设备可还包含一显示机构207，其连接设置于该自动 带检设备的工作机台202，用以显示每一芯片及该封带的影像。为了减少检视错误机率及清洁该芯片，可再设置一喷嘴，连接设置于该自动带检 设备，于开始检视该芯片之前清除该长条挠性带及该封带上的杂质。上述的实施例可相互组合使用，例如，该数据库中可储存异常品影像、异常品的异 常分析、异常品的统计结果、良率分析等。亦可通过该联机机构将各数据寄出。又，该显示 机构207可显示数据库中的各数据及分析结果。根据本技术的实施例的自动带检设备所能检视的芯片的例示性尺寸范围在 0. 5mmX0. 5mm至IOmmX IOmm之间，而该长条挠性带的宽度范围在8mm至32m本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动带检设备，其特征在于，该自动带检设备包含：　　一芯片传送机构，具有二个对称设置的传动构件，该二传动构件之间形成一传送路径；　　一检视机构，设置于该传送路径之中，其中该检视机构包含二镜头及一光源，该二镜头分别具有不同光学倍率；及　　一定位机构，设置于该检视机构的下方。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江隽杰，徐立橙，李啓铭，
申请(专利权)人：帆宣系统科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]