用于准直器制造检验的方法和设备技术

本发明专利技术涉及一种用于准直器（K）的制造检验的方法，特别是检验准直器（K）的边缘，所述方法具有如下方法步骤：产生（S1）准直器（K）的至少一个三维测量数据组（2），在该至少一个测量数据组（2）上确定（S2）准直器（K）的片的多个横向轮廓数据（3），评估（S3）横向轮廓数据（3）的横向轮廓特性（4a、4b），通过横向轮廓特性（4a、4b）的投影产生（S4）至少一个二维投影数据组（5），和评估（S5）该至少一个二维投影数据组（5）。本发明专利技术另外涉及一种用于执行根据本发明专利技术的用于准直器（K）的制造检验的方法的设备，以通过用于执行方法的装置进行准直器（K）的制造检验。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于准直器制造检验(Fertigungskontrolle)的方法和设备。
技术介绍
在CT系统内用于散射削弱的准直器是一般地已知的。在CT系统的临床和技术应 用中，随着更大的检测器特别是在扫描方向上的更大的检测器深度，不断使用更大的系统。 在此，出现了增大的散射，使得散射抑制以及散射削弱的意义日益重大。为有效地抑制散射 需要准直器，所述准直器可在多个方向上削弱散射，例如以具有二维散射屏蔽栅格的形式。 此类栅格形的准直器例如由带有圆形、矩形或六边形横截面的薄壁管的并排阵列形成。管 或栅格片(Gitterstege)例如构造为锥形横截面或截锥形，其中管的壁相互倾斜。相应地， 此准直器具有带有大小不同的栅格结构特别是栅格孔的大小不同的辐射进入平面和离开 平面。栅格孔在此尽可能无材料。在制造准直器时，主要的挑战在于质量保证。迄今为止，对诸如尺寸精确性和功能 的质量特征的检验极为昂贵，因为必须通过几何测量技术采集和检验大量的准直器几何形 状的特征。特别是在借助于熔融技术方法从粉末状原材料中制造的二维准直器的情况中， 另外出现了栅格片边缘的强的粗糙性。此边缘粗糙型使得通过商业上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于带有多个带有边缘的片的准直器（K）的制造检验的方法，所述方法具有如下方法步骤：1.1借助于光学测量方法产生（S1）准直器（K）的至少一个三维测量数据组（2），1.2在该至少一个测量数据组（2）上确定（S2）准直器（K）的片的多个横向轮廓数据（3），1.3评估（S3）所述横向轮廓数据（3）的横向轮廓特性（4a、4b），1.4通过所述横向轮廓特性（4a、4b）的投影产生（S4）至少一个二维投影数据组（5），和1.5评估（S5）该至少一个二维投影数据组（5）。

【技术特征摘要】
2011.09.28 DE 102011083621.71. 一种用于带有多个带有边缘的片的准直器(K)的制造检验的方法，所述方法具有如下方法步骤1.1借助于光学测量方法产生(SI)准直器(K)的至少一个三维测量数据组(2)，1. 2在该至少一个测量数据组(2)上确定(S2)准直器(K)的片的多个横向轮廓数据(3)，1. 3评估(S3)所述横向轮廓数据(3)的横向轮廓特性(4a、4b)，1. 4通过所述横向轮廓特性(4a、4b)的投影产生(S4)至少一个二维投影数据组(5)，和 1.5评估(S5)该至少一个二维投影数据组(5)。2.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个测量数据组(2)通过白光干涉测量法产生。3.根据前述权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个测量数据组(2)通过激光扫描方法产生。4.根据前述权利要求1至3中一项所述的方法，其特征在于，所述横向轮廓数据(3)垂直于准直器(K)的各被关注的片走向。5.根据前述权利要求1至4中一项所述的方法，其特征在于，作为横向轮廓特性(4a、...

【专利技术属性】
技术研发人员：M米斯，S沃思，J雷格，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：