【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种根据权利要求1的前序部分的柱塞,该柱塞用于将尤其是集成电 路(ICS)的电子结构元件传送到接触装置或者从所述接触装置移走,该接触装置与检测装 置相连接,以及该柱塞具有柱塞保持件和柱塞滑动件。
技术介绍
在将电子结构元件,例如集成电路(具有集成电路的半导体结构元件)例如安装 在电路板上或者应用在其它方面之前,通常要检验该电子结构元件的功能可靠性。在此,通 常称为“处理器”的自动操作装置使得待检测的结构元件与接触装置相接触,该接触装置尤 其是由接触插座构成并且与检测装置的检测头进行电连接。在检测过程结束后,结构元件 借助于处理器又从接触装置移除并且根据检测结果分类。为了保持和接触结构元件,处理器通常具有柱塞,也就是说在纵向上能够移动的, 活塞状的且能够来回运动的保持单元,该保持单元能够尤其是通过借助于真空施加吸力来 保持结构元件。在将结构元件放置在的柱塞头上后将柱塞设置在处理器内且在以下位置 中,在该位置中柱塞能够以直线的路径继续朝接触装置前移,直到结构元件与接触装置相 接触。在完成检测过程后,借助于柱塞又将结构元件从检测头移除并且如此定位,使得该 ...
【技术保护点】
一种用于将尤其是集成电路的电子结构元件传送到接触装置或者从所述接触装置移走的柱塞,所述接触装置与检测装置相连接,所述柱塞具有:-柱塞保持件(2);-柱塞滑动件(3),所述柱塞滑动件(3)以能够移动的方式在所述柱塞保持件(2)上被引导,并且所述柱塞滑动件(3)具有基体(7)和能够固定在所述基体(7)上的柱塞头(23),所述柱塞头(23)用于借助于真空保持结构元件,其特征在于,所述柱塞头(23)能够借助于快速锁紧系统固定在所述基体(7)上,所述快速锁紧系统包括设在所述基体(7)上的第一锁紧机构(31)和设在所述柱塞头(23)上的第二锁紧机构(33),其中所述两个锁紧机构(31、 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】DE 2008-4-24 102008020585.0一种用于将尤其是集成电路的电子结构元件传送到接触装置或者从所述接触装置移走的柱塞,所述接触装置与检测装置相连接,所述柱塞具有-柱塞保持件(2);-柱塞滑动件(3),所述柱塞滑动件(3)以能够移动的方式在所述柱塞保持件(2)上被引导,并且所述柱塞滑动件(3)具有基体(7)和能够固定在所述基体(7)上的柱塞头(23),所述柱塞头(23)用于借助于真空保持结构元件,其特征在于,所述柱塞头(23)能够借助于快速锁紧系统固定在所述基体(7)上,所述快速锁紧系统包括设在所述基体(7)上的第一锁紧机构(31)和设在所述柱塞头(23)上的第二锁紧机构(33),其中所述两个锁紧机构(31、33)构成为使得通过所述柱塞头(23)的相对于所述基体(7)旋转将所述两个锁紧机构(31、33)设置在从后面彼此相互接合的位置中,在所述位置中所述柱塞头(23)在轴向与所述基体(7)相耦联。2.根据权利要求1所述的柱塞,其特征在于,设在所述基体(7)上的所述锁紧机构 (31)包括朝所述柱塞头(23)的方向突出的球形件(32),所述球形件(32)具有在其周向分 布的至少两个轴向槽(41)和位于所述轴向槽(41)之间的球面部分(42),并且设在所述柱 塞头(23)上的所述锁紧机构(33)具有夹紧元件(34),所述夹紧元件(34)能够沿着所述轴 向槽(41)移动并且通过旋转所述柱塞头(23)而被带到从后面接合所述球面部分(42)的 位置中。3.根据权利要求2所述的柱塞,其特征在于,所述柱塞头(23)具有头部中央部分 (25),所述头部中央部分(25)具有与所述基体(7)的球形件(32)相匹配的球冠(40),所述 球冠(40)设置在所述球形件(32)上。4.根据权利要求2或者3所述的柱塞,其特征在于,所述球形件(32)包括真空管(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:西蒙穆尔瑙尔,
申请(专利权)人:综合测试电子系统有限公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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