基于SPI的芯片调试装置、方法及多芯片互联调试结构制造方法及图纸

本申请提供了一种基于SPI的芯片调试装置、方法及多芯片互联调试结构，涉及芯片调试技术领域，芯片调试装置包括：多个SPI转AMBA接口模块；多个SPI转AMBA接口模块与同一SPI主设备通信，并分别连接至不同的待调试装置，以共用SPI主设备的SPI信号对待调试装置进行调试；每个SPI转AMBA接口模块具有唯一的输入标识；SPI转AMBA接口模块用于：接收来自SPI主设备的SPI命令；将输入标识与SPI命令中的标识域段进行比对；若比对结果一致，解析SPI命令并生成对应的AMBA总线访问命令，以使待调试装置基于AMBA总线访问命令执行对应的操作，并将待调试装置反馈的命令执行结果发送至SPI主设备。本申请实现了在不增加硬件引脚资源的前提下，实现对多个芯片模块的快速识别与精确调试控制。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片调试，尤其涉及一种基于spi的芯片调试装置、方法及多芯片互联调试结构。

技术介绍

1、在芯片流片后进入调试阶段，为了更快地定位问题，工程人员通常需要从芯片外部访问芯片内部的关键寄存器和存储空间。这种访问能力对于芯片的功能验证、故障分析和性能优化具有重要意义。为了满足该需求，业界广泛采用调试接口对芯片进行调试操作，其中jtag（joint test action group，联合测试工作组）接口是一种应用最为广泛的标准调试接口。

2、jtag最初主要用于印刷电路板（pcb）级别的边界扫描测试，随着半导体技术的发展，其功能逐步扩展到芯片级调试，在芯片设计与验证流程中得到广泛应用。jtag接口具有结构灵活、支持一对一和菊花链级联访问等优点，尤其适用于复杂系统中多个模块的统一调试。然而，jtag接口的传输速率相对较低，其时钟频率一般不超过25mhz。当以菊花链方式级联多个调试目标时，调试命令需依次穿过链路中各个节点，导致调试链路延迟增加、访问效率降低。此外，在芯片进入量产阶段后，jtag接口通常处于封闭状态，难以再用于现场调试。

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于SPI的芯片调试装置，其特征在于，包括：多个SPI转AMBA接口模块；

2.根据权利要求1所述的基于SPI的芯片调试装置，其特征在于，所述SPI转AMBA接口模块包括SPI转APB接口模块或SPI转AXI接口模块；所述AMBA总线访问命令包括APB访问命令或AXI访问命令；

3.根据权利要求1所述的基于SPI的芯片调试装置，其特征在于，所述SPI转AMBA接口模块设置多个时钟域；所述时钟域包括SPI接口时钟、片内高频采样时钟及AMBA总线接口时钟；

4.根据权利要求1所述的基于SPI的芯片调试装置，其特征在于，所述标识域段的位宽为8位。...

【技术特征摘要】

1.一种基于spi的芯片调试装置，其特征在于，包括：多个spi转amba接口模块；

2.根据权利要求1所述的基于spi的芯片调试装置，其特征在于，所述spi转amba接口模块包括spi转apb接口模块或spi转axi接口模块；所述amba总线访问命令包括apb访问命令或axi访问命令；

3.根据权利要求1所述的基于spi的芯片调试装置，其特征在于，所述spi转amba接口模块设置多个时钟域；所述时钟域包括spi接口时钟、片内高频采样时钟及amba总线接口时钟；

4.根据权利要求1所述的基于spi的芯片调试装置，其特征在于，所述标识域段的位宽为8位。

5.根据权利要求4所述的基于spi的芯片调试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张云毅，
申请(专利权)人：北京清微智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：