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本申请提供了一种基于SPI的芯片调试装置、方法及多芯片互联调试结构，涉及芯片调试技术领域，芯片调试装置包括：多个SPI转AMBA接口模块；多个SPI转AMBA接口模块与同一SPI主设备通信，并分别连接至不同的待调试装置，以共用SPI主设备的...
该专利属于北京清微智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京清微智能科技有限公司授权不得商用。

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