【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体加工,尤其涉及一种用于芯片晶粒的挑选装置。
技术介绍
1、在制造芯片的过程中有一道工序为挑选不良晶粒工序,在测试发现不合格晶粒后,在此不合格晶粒上点一个墨点作为不合格记号。则此测试完的晶圆可直接运送至下游封装厂家,封装厂家需要把此不合格晶粒挑选出来,目前由人工一颗一颗的挑出,由于每天芯片产出量很大,需要挑出的不良晶粒所耗费的人工巨大。
2、经检索,申请号为cn201711301635.5的专利,公开了一种全自动晶粒挑选机,利用电磁板通电,产生磁场,将混有磁粉墨点的晶圆从晶圆上吸取下来,使其脱离晶圆,在挑选的过程中,需要让电磁板来回移动,进行吸取并刮除,来回移动使其移动的路径进行重复,后放到芯片需要等待较长的时间,会造成挑选的时间增长,芯片晶粒的挑选速度慢,为此提出一种用于芯片晶粒的挑选装置。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足,本技术提供了一种用于芯片晶粒的挑选装置,用于解决上述问题。
2、为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
...
【技术保护点】
1.一种用于芯片晶粒的挑选装置,包括挑选输送带(1)和芯片本体(2),其特征在于,所述芯片本体(2)位于挑选输送带(1)上,所述挑选输送带(1)的外侧设有转动支架(3),转动支架(3)上转动安装有上部输送带(4),上部输送带(4)位于挑选输送带(1)的上方位置,所述上部输送带(4)的一侧固定安装有多个橡胶连接块(5),多个橡胶连接块(5)的一侧均固定安装有电磁板(6),所述转动支架(3)上设有移动触发组件,所述上部输送带(4)的下方设有收集框(15),收集框(15)位于挑选输送带(1)的一侧位置,收集框(15)上设有刮除组件,刮除组件与电磁板(6)相适配。
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片晶粒的挑选装置,包括挑选输送带(1)和芯片本体(2),其特征在于,所述芯片本体(2)位于挑选输送带(1)上,所述挑选输送带(1)的外侧设有转动支架(3),转动支架(3)上转动安装有上部输送带(4),上部输送带(4)位于挑选输送带(1)的上方位置,所述上部输送带(4)的一侧固定安装有多个橡胶连接块(5),多个橡胶连接块(5)的一侧均固定安装有电磁板(6),所述转动支架(3)上设有移动触发组件,所述上部输送带(4)的下方设有收集框(15),收集框(15)位于挑选输送带(1)的一侧位置,收集框(15)上设有刮除组件,刮除组件与电磁板(6)相适配。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片晶粒的挑选装置,其特征在于,所述移动触发组件包括固定安装在转动支架(3)下方的绝缘板(10),绝缘板(10)位于挑选输送带(1)的上方位置,绝缘板(10)的底侧连接有第一导电块(11),上部输送带(4)的一侧固定安装有绝缘支架(13),绝缘支架(13)的一侧连接有第二导电块(14),绝缘支架(13)位于电磁板(6)的一侧位置,第一导电块(11)和第二导电块(14)相适配。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片晶粒的挑选装置,其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员:葛娉羽,
申请(专利权)人:无锡市芯通电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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