用于分离磁性粒子的方法和分离系统,用于分离系统中的分离柱技术方案

技术编号:4482314 阅读:204 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
磁性粒子成像(MPI)需要高性能示踪材料,所述示踪材料是具有快速再磁化特性的高磁性单分散粒子。已知的分离技术仅仅允许基于磁体积的差异对磁性粒子分馏。提出了一种分离方法,其允许关于磁性粒子对振荡高梯度磁场的动态响应分离磁性粒子。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于分离磁性粒子的方法和分离系统,用于分离系统中的分离柱本专利技术涉及一种用于分离磁性粒子的方法。此外,本专利技术涉及一种用 于分离磁性粒子的分离系统和用于分离系统中的分离柱。一种磁性粒子成像的方法可从德国专利申请DE 10151778 Al获知。在该公开所述的方法的情况下,首先生成具有磁场强度的空间分布的磁场使 得具有相对低的磁场强度的第一分区和具有相对高的磁场强度的第二分区形成于检査区中。然后检查区中的分区的空间位置移动,使得检查区中的 粒子的磁化局部变化。取决于检査区中的磁化的信号被记录,所述磁化受 到分区的空间位置的移动影响,并且关于检查区中磁性粒子的空间分布的 信息从这些信号中被提取,使得可以形成检查区的图像。这样的装置和这 样的方法具有的优点是它可以用于以非破坏性方式检查任意检查对象,例 如人体,不导致任何损伤并且靠近和远离检查对象的表面都具有高空间分 辨率。已知方法的性能很强地取决于示踪材料,即磁性粒子的材料的性能。 总是需要增加已知装置的信噪比以便提高分辨率和这样的方法应用于进一 步的应用。所以本专利技术的目标是提供一种方法从而改善磁性粒子,尤其是用于磁性粒子成像中的应本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于分离磁性粒子(1)的方法,其中,使所述粒子在至少一个带有基质(12)的分离柱(11)中循环至少一次,所述方法包括: -大小选择步骤,其中,根据所述粒子(1)的大小对所述粒子进行选择, -AC分馏步骤,其中,所述分离柱(1 1)中的所述粒子(1)受到振荡高梯度磁场(30)的作用。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:D马尔科夫HMB伯芬
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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