液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法技术

本发明专利技术涉及一种液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，包括：向液晶显示器加载检测画面，所述检测画面中包括至少一个公共电极线断线检测画面，所述公共电极线断线检测画面为：在同一帧检测画面内，一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差大于另一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差；在液晶显示器显示所述公共电极线断线检测画面时，检测所述公共电极线断线检测画面是否出现水平渐变的黑线或白线，出现水平渐变的黑线或白线时，判定液晶显示器存在公共电极线断线不良。本发明专利技术可以有效地检测出公共电极线断线不良，不仅保证了及时维修和分类处理，而且不会浪费后续工艺和材料，更不会在客户使用中造成品质下降。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种液晶显示器的检测方法，特别是一种。
技术介绍
液晶显示器(Liquid Crystal Display,简称LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等 特点，现已占据了平面显示领域的主导地位。液晶显示器的主体结构包括对盒在一起并将 液晶夹设其间的阵列基板和彩膜基板，阵列基板上形成有提供扫描信号的栅线、提供数据 信号的数据线、形成像素点的像素电极以及提供公共电压的公共电极线，彩膜基板上形成 有黑矩阵和彩色树脂。 为保证产品质量，阵列基板和彩膜基板对盒形成液晶显示器后需要进行灰度画面 检测，以发现有关缺陷并进行相应维修。液晶显示器的缺陷包括像素点不良和断线不良，而 断线不良又分为栅线断线不良、数据线断线不良和公共电极线断线不良。实际使用表明，现 有技术的画面检测方法很难检测出公共电极线断线不良，其后果不仅浪费了后续工艺的原 材料，而且会在客户使用中造成品质下降。 图10为现有技术阵列基板上公共电极线的结构示意图，是一种典型的存储电容 在公共电极线上(Cst On Common)的阵列基板结构，且公共电极线为网状结构。现有技术 中，公共电极线网状结构是普遍采用的一种结构，特别是尺寸大的产品中，为了公共电极信 号更均一，因此采用公共电极从两端输入的形式。可以想见，这种网状结构的公共电极线上 的任意点的电压均等于外部施加在公共电极线上的公共电极电压Vcom。如图IO所示，公共 电极线1与像素电极2交叠，在每个交叠处形成存储电容。工作时，公共电极电压Vcom与 施加在像素电极上的像素电极电压Vpxl不等，由于存储电容的存在，根据电容效应，将有 一部分电荷充向该存储电容，使得沿着公共电极线上的电压有所变化。当公共电极线上某 点发生断线时，断线处破坏了公共电极线两端的传输机制，相对于其它没有发生断线的公 共电极线，发生断线的公共电极线上的公共电极信号将产生差异。具体地说，对于一个公共 电极线方向上有m个像素(m为正整数)的液晶屏幕产品，假定某一条公共电极线在第n像 素(n为正整数，n < m)处发生断线，即这条公共电极线断线两边的信号都是单端传输的， 其中较长的一端的负载是n(假设m/2 <n)个像素的长度，而正常公共电极线由于信号是 两端传输机制，其两边的负载都可以理解为m/2 ;因此断线的公共电极线和正常公共电极 线之间就产生了差异。但实际上，在现有的各类灰度画面检测下，公共电极线断线引起的检 测画面差异非常小，甚至无法识别。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种，有效解决 现有技术无法检测出公共电极线断线不良的技术缺陷。 为了实现上述目的，本专利技术提供了一种液晶显示器公共电极线断线不良的检测方4法，包括 步骤1、向液晶显示器加载检测画面，所述检测画面中包括至少一个公共电极线断线检测画面，所述公共电极线断线检测画面为在同一帧检测画面内，一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差大于另一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差； 步骤2、在液晶显示器显示所述公共电极线断线检测画面时，检测所述公共电极线断线检测画面是否出现水平渐变的黑线或白线，出现水平渐变的黑线或白线时，判定液晶显示器存在公共电极线断线不良。所述公共电极线断线检测画面可以为在常白模式下的同一帧检测画面内，正极 性像素电极施加有第一像素电极电压，负极性像素电极施加有第二像素电极电压，且I第 一像素电极电压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。 所述公共电极线断线检测画面也可以为在常白模式下的同一帧检测画面内，负 极性像素电极施加有第一像素电极电压，正极性像素电极施加有第二像素电极电压，且 第一像素电极电压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。 所述公共电极线断线检测画面还可以为在常黑模式下的同一帧检测画面内，正 极性像素电极施加有第二像素电极电压，负极性像素电极施加有第一像素电极电压，且 第一像素电极电压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。 所述公共电极线断线检测画面还可以为在常黑模式下的同一帧检测画面内，负 极性像素电极施加有第二像素电极电压，正极性像素电极施加有第一像素电极电压，且 第一像素电极电压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。 在上述技术方案基础上，所述第一像素电极电压与第二像素电极电压的关系为 第一像素电极电压_公共电极电压I = (1. 5 3. 5) X I第二像素电极电压_公共电极电压 。优选地，所述第一像素电极电压与第二像素电极电压的关系为1第一像素电极电压-公 共电极电压I =2X|第二像素电极电压-公共电极电压I。 本专利技术提供了一种，基于像素电极极 性反转模式通过控制不同极性像素电极的灰度来强化公共电极线公共电极信号的变化。具 体地，本专利技术在同一公共电极线断线检测画面内，向一个极性像素电极施加第一像素电极 电压，向另一个极性像素电极施加第二像素电极电压，使充电总强度和放电总强度中一个 提高，另一个降低，因此在像素电极与公共电极线之间电容效应的作用下，加大了公共电极 线公共电极信号的变化，增加了公共电极线断线处公共电极信号相对于其它没有发生断线 的公共电极线的差异，因此使公共电极线断线检测画面中出现明显的水平渐变的黑线或白 线，很容易被识别。采用本专利技术可以有效地检 测出公共电极线断线不良，不仅保证了及时维修和分类处理，而且不会浪费后续工艺和材 料，更不会在客户使用中造成品质下降。附图说明 图1为本专利技术流程图； 图2为本专利技术第一实施例流程图； 图3为本专利技术第一实施例中公共电 极线断线检测画面的示意 图4为本专利技术第二实施例流程图； 图5为本专利技术第二实施例中公共电 极线断线检测画面的示意图； 图6为本专利技术第三实施例的流程图； 图7为本专利技术第三实施例中公共电 极线断线检测画面的示意图； 图8为本专利技术第四实施例的流程图； 图9为本专利技术第四实施例中公共电 极线断线检测画面的示意图； 图10为现有技术阵列基板上公共电极线的结构示意图。 具体实施例方式下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。图1为本专利技术流程图，包括 步骤1、向液晶显示器加载检测画面，所述检测画面中包括至少一个公共电极线断线检测画面，所述公共电极线断线检测画面为在同一帧检测画面内，一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差大于另一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差； 步骤2、在液晶显示器显示所述公共电极线断线检测画面时，检测所述公共电极线断线检测画面是否出现水平渐变的黑线或白线，出现水平渐变的黑线或白线时，判定液晶显示器存在公共电极线断线不良。 通过专利技术人对现有技术以及对公共电极线上公共电极信号衰减机理的深入研究， 专利技术人发现，现有技术无法检测出公共电极线断线不良是由于存储电容充电电压差与放电 电压差之间的差异小造成的。存储电容的充电是指，当施加在像素电极上的像素电极电压 大于施加在公共电极线上的公共电极电压时，称之为正极性像素电极，此时存储电极充电， 施加在像素电极上的像素电极电压Vpxl与公共电极电压Vcom之间的差值即为充电电压差 A，充电电压差A二 IVpxl-Vcoml ;存储电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于，包括：步骤１、向液晶显示器加载检测画面，所述检测画面中包括至少一个公共电极线断线检测画面，所述公共电极线断线检测画面为：在同一帧检测画面内，一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差大于另一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差；步骤２、在液晶显示器显示所述公共电极线断线检测画面时，检测所述公共电极线断线检测画面是否出现水平渐变的黑线或白线，出现水平渐变的黑线或白线时，判定液晶显示器存在公共电极线断线不良。

【技术特征摘要】
一种液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于，包括步骤1、向液晶显示器加载检测画面，所述检测画面中包括至少一个公共电极线断线检测画面，所述公共电极线断线检测画面为在同一帧检测画面内，一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差大于另一个极性像素电极所对应的存储电容的电压差；步骤2、在液晶显示器显示所述公共电极线断线检测画面时，检测所述公共电极线断线检测画面是否出现水平渐变的黑线或白线，出现水平渐变的黑线或白线时，判定液晶显示器存在公共电极线断线不良。2. 根据权利要求1所述的液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于， 所述公共电极线断线检测画面为在常白模式下的同一帧检测画面内，正极性像素电极施 加有第一像素电极电压，负极性像素电极施加有第二像素电极电压，且I第一像素电极电 压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。3. 根据权利要求1所述的液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于， 所述公共电极线断线检测画面为在常白模式下的同一帧检测画面内，负极性像素电极施 加有第一像素电极电压，正极性像素电极施加有第二像素电极电压，且I第一像素电极电 压-公共电极电压I > I第二像素电极电压-公共电极电压I。4. 根据权利要求1所述的液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于， 所述公共电极线断线检测画面为在常黑模式下的同一帧检测画面内，正极性像素电极施 加有第二像素电极电压，负极性像素电极施加有第一像素电极电压，且I第一像素电极电 压-公共电极电压I>I第二像素电极电压-公共电极电压I。5. 根据权利要求1所述的液晶显示器公共电极线断线不良的检测方法，其特征在于， 所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：何祥飞，彭志龙，
申请(专利权)人：北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]