用于测试电路板的测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种用于测试电路板的测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号输出模块，与测试信号产生模块连接，用于将测试信号输出至待测的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自电路板的待测信号；信号处理模块，与待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制测试信号产生模块产生测试信号，以及接收来自信号处理模块的处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置和方法，更具体i也，涉及一种用于测 -试电踪4反的测i式装置和方法。
技术介绍
在PDP电^各的生产开发中，通常需要对产品进行测试以进行质 量控制，而目前PDP 4莫组电^各所采用的测试i殳备通常都结构复杂， 功能繁锁，而且价格也非常昂贵，这在大规模的生产测试中会使成 本增加，影响产品的竟争力。PDP显示模组控制电路板上面的控制 信号非常多，并且由于很多信号频率很高，需要一个能同时检测多 ^各信号，而且4企测速度快的测试装置。
技术实现思路
本专利技术的目的是简化，从而 简化测试装置的结构并降低了制造成本。为实现上述目的，本专利技术一方面提出了一种用于测试电路板的 测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号 输出模块，与测试信号产生模块连接，用于将测试信号输出至待测 的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自电路板的待测信号； 信号处理模块，与待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信 号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制测试信号产生模块产生测试信号，以及接收来自信号处理模块的处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格。其中，所述信号处理模块包括比较单元，将待测信号与标准 信号进行比较，得到比较结果信号；以及计数单元，用于获取比较 结果信号的脉冲信息。此外，所述信号处理才莫块还包括采样单元，i殳置在比较单元 后，采用频率可变的时钟对比较结果信号进行采样，以过滤比较结 果信号中脉沖宽度小于时钟脉冲的部分，并将过滤后的波形传输至 计数单元。本专利技术另一方面提出了一种用于测试电路板的测试方法，包括 以下步骤产生测试信号；将测试信号输出至待测的电路板；接收 来自电路板的待测信号；根据预定的标准信号对待测信号进行处 理，并产生处理结果信号；接收处理结果信号，处理结果信号用于 判断电路板是否合格。其中，所述的根据预定的标准信号对待测信号进行处理包括以 下步骤将待测信号与标准信号进行比较，得到比较结果信号；获 取比较结果信号的脉沖信息。此外，所述的^^艮据预定的标准信号对待测信号进行处理还包括 以下步骤在得到比较结果之后，采用频率可变的时钟对比较结果 信号进行采样，以过滤比较结果信号中脉沖宽度小于时钟脉冲的部 分。本专利技术的有益效果是提供了更为简化的电路设计和检测流程， 并且，由于本专利技术的比较单元运用了诸如异或门的逻辑电路，故使 得该装置可以测试4交高频率的信号。此外，本专利技术主要针对PDP电路模组中信号数量种类较多而且数据速率最快的控制电路，该电 路的原理和方法同样可以用来测试其它电路。附图说明此处所i兌明的附图用来^是供对本专利技术的进一步理解，构成本申 请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限定。在附图中图1是根据本专利技术示例性实施例的用于测试电路板的测试装置 的框图。图2是根据本专利技术示例性实施例的对待测信号和标准信号进行 比较和采样的波形图。具体实施例方式下面将参照附图，详细地说明本专利技术的实施例。图1是根据本专利技术示例性实施例的用于测试电路板的测试装置 的才匡图。如图l所示，本示例性实施例的测试装置IOO可以采用以 下电路模块控制模块101、测试信号产生模块103、测试信号输 出模块105、待测信号接收模块107、信号处理模块109、和通信模 块110等。才艮据本专利技术，测试装置100的测试信号发生才莫块103产生一个 测试信号，通过测试信号输出^^莫块105输出到待测电路板上，待测 电鴻4反对测试信号进4于处理，即才莫拟正常工作时的状态，并将处理后的待测信号输入回测试电路中，再通过待测信号接收模块107输 入到信号处理模块109。信号处理模块109通常存储一个标准信号， 待测信号在测试装置100中需要通过信号处理模块109与标准信号 进行比较，并将比较结果进行分析，然后通过通信模块110传输到 计算机上。其中，测试信号可以通过查表产生，即将预设好的多个 波形数据存储在测试装置100的内部存储器中，测试的时候由测试 信号产生模块103读取该波形数据并将其输出。图2是根据本专利技术示例性实施例的对待测信号和标准信号进行 比较和釆样的波形图。如图2所示，测试装置100检测到从待测电 路板输出的待测信号以后，可以使用异或门将待测信号与内部存储 的标准信号进行比较，即进行异或运算，以得出待测信号与标准信 号之间的相位差，即一系列脉冲组成的比较结果的波形。之后，可 以使用诸如D触发器的采样单元对比專交结果的脉冲波形进行采样 过滤，即，采集当采样单元的时钟信号处于上升沿时的比较结果的 值作为采样结果。数的波形图。如图3所示，将经过采样处理的比较结果的脉冲输送 到下一级处理电3各，即，月永冲计数电3各，来对月永冲的凄丈量和宽度进 行统计。计数电路不仅仅是对前级电路的结果进行计数，而且还要 对这些脉冲的宽度进行测量，并且确定这些脉沖出现在哪些时刻。 在每次测试开始时，计时器开始计时，在遇到一个^c沖时(如图3 中的白色三角标记处)，把计时器里面的时间值写入存储器，即， 记录每个脉冲到来的时刻。每个脉冲来到后，脉宽计数器开始计凄t, 在每个脉沖归零时(如图三中的黑色三角标记处)，把脉宽计数器 里面的数值写入存储器，即，记录每个脉冲的宽度，然后立即将脉 宽计数器清零，等待下一次计数。脉沖计数器在每次测试开始时清 零，每遇到一个脉沖计一个H 一次测试完成后，计数器里面的凄t值写入存储器，表示脉冲的个数。存储器中的各个数值在测试结束后，经I2C总线以编码形式传送到计算机上，计算机系统只需根据 预先设置的关于脉沖时刻、脉冲宽度、以及脉冲个数的阈值参数对 电路的合格情况进行判定。此外，信号处理模块109中的比较、采样、以及计数功能还可 以通过^f鼓控制器硬件编程加以实现。以上所述4又为本专利技术的实施例而已，并不用于限制本专利技术，对 于本领域的技术人员来说，本专利技术可以有各种更改和变化。凡是将 显示器的功耗信息反馈至主机的技术方案，所作的任何修改、等同 替换、改进等，均应包含在本专利技术的权利要求范围之内本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试电路板的测试装置，包括：　　　　测试信号产生模块，用于产生测试信号；　　　　测试信号输出模块，与所述测试信号产生模块连接，用于将所述测试信号输出至待测的电路板；　　　　待测信号接收模块，用于接收来自所述电路板的待测信号；信号处理模块，与所述待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及　　　　控制模块，用于控制所述测试信号产生模块产生所述测试信号，以及接收来自所述信号处理模块的所述处理结果信号，所述处理结果信号用于判断所述电路板是否合格。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试电路板的测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号输出模块，与所述测试信号产生模块连接，用于将所述测试信号输出至待测的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自所述电路板的待测信号；信号处理模块，与所述待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信号对所述待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用于控制所述测试信号产生模块产生所述测试信号，以及接收来自所述信号处理模块的所述处理结果信号，所述处理结果信号用于判断所述电路板是否合格。2. 根据权利要求1所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在 于，所述信号处理模块包括比较单元，将所述待测信号与所述标准信号进行比较， 得到比较结果信号；以及计数单元，用于获取所述比较结果信号的脉沖信息。3. 根据权利要求2所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在 于，所述信号处理才莫块还包括采样单元，-没置在所述比專交单元后，采用频率可变的时 钟对所述比较结果信号进行采样，以过滤所述比较结果信号中脉沖宽度小于时钟脉沖的部分，并将过滤后的波形传输至所述 计凄t单元。4. 根据权利要求1至3中的任一项所述的用于测试电3各板的测试 装置，其特征在于，还包括通信模块，与所述控制模块连接， 用于建立所述控制模块与计算机之间的通信。5. 根据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在 于，还包括存储单元，用于存储所述比较结果信号的脉冲信息 以及所述标准信号。6. 4艮据权利要求4所述的用于测试电路板的测试装置，其特征在 于，所述比较单元包括一个或多个异或门电路，所述异或门电 3各的两个输入端的一个...

【专利技术属性】
技术研发人员：许亮，
申请(专利权)人：四川虹欧显示器件有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]