电路板的测试机构制造技术

技术编号:10414048 阅读:118 留言:0更新日期:2014-09-10 23:41
电路板的测试机构,电路板具有一个待检测面,测试机构包括基座(10)、滑座(20)、探针(30)和柱塞(40)。基座置于电路板的待检测面一侧,具有一个垂直于待检测面的连接面,连接面上设置有远离定位孔和接触定位孔;滑座滑动的设置于连接面,滑座可靠近或远离待检测面;探针可设置于滑座,具有与待检测面接触的接触位置和与待检测面分离的远离位置,滑座可带动探针在接触位置和远离位置之间运动;柱塞朝向连接面穿设于滑座,若探针处于接触位置,柱塞能够伸入至远离定位孔,若探针处于远离位置,柱塞能够伸入至接触定位孔。上述测试机构无需设置气缸结构,成本低,占用空间小,可应用于空间狭小的区域。

【技术实现步骤摘要】
电路板的测试机构
[0001 ] 本技术涉及一种测试机构,尤其涉及一种电路板的测试机构。
技术介绍
在电路板的生产和组装过程中,各个环节都会用到电路板的测试机构,以检测电路板或电路板组装模块的性能。现有电路板的测试机构一般包括一个可由一气缸驱动的探针,探针可在气缸的驱动下在一断开位置和一接触位置间移动,处于断开位置时,探针远离电路板,处于接触位置时,探针与电路板导通以实现对电路板的测试。但是现有采用气缸的测试机构需依赖气源使气缸工作,生产成本高,占用空间大,在空间狭小的区域内难以使用。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种电路板的测试机构,其不依赖气源,结构简单,生产成本低,操作稳定可靠,占用空间小,可用于空间狭小的区域。本技术提供了一种电路板的测试机构,电路板具有一个待检测面,测试机构包括一个基座、一个滑座、一个探针和一柱塞。基座能够置于电路板的待检测面一侧,基座具有一个垂直于待检测面的连接面,连接面上设置有一个远离定位孔和一个接触定位孔;滑座能够以滑动的方式设置于连接面,使得滑座可靠近或远离待检测面移动;探针可固定于滑座,滑座能够带动探针在一个与待检测面接触的接触位置和一个与待检测面分离的远离位置之间运动;柱塞朝向连接面穿设于滑座,若探针处于接触位置,柱塞能够伸入至远离定位孔,若探针处于远离位置,柱塞能够伸入至接触定位孔。操作人员利用柱塞可推动滑座相对于电路板运动,其利用柱塞可定位滑座的位置,以使探针与电路板的待检测面接触或分离,其无需设置气缸结构,成本低,占用空间小,可应用于空间狭小的区域。在电路板的测试机构的一种示意性实施方式中,滑座的滑动方向垂直于待检测面。在电路板的测试机构的一种不意性实施方式中,基座的安装面上具有一个条型凸起,条型凸起的延伸方向垂直于待检测面,滑座上具有一个可与条型凸起滑动连接的凹槽。上述连接结构简单可靠,利于操作,容易实现。在电路板的测试机构的一种示意性实施方式中,基座的连接面上设置有复数个接触定位孔。上述结构可方便针对不同型号的电路板的测试,有助于降低生产成本。在电路板的测试机构的一种不意性实施方式中,测试机构还包括一个固定板,基座设置于固定板上,固定板上还包括一个可插接电路板的连接座。上述结构使测试机构的结构更紧凑。下文将以明确易懂的方式,结合【附图说明】优选实施例,对电路板的测试机构的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。【附图说明】以下附图仅对本技术做示意性说明和解释,并不限定本技术的范围。图1用以说明电路板的测试机构的一种示意性实施方式的分解结构。图2是图1所示电路板的测试机构的一种示意性实施方式的组合结构。图3用以说明图1和图2所示的电路板的测试机构的工作状态。图4用以说明电路板的测试机构的另一种示意性实施方式的立体结构。附图标号列表10 基座12连接面14条型凸起16远离定位孔18接触定位孔20 滑座24 凹槽30 探针40 柱塞50电路板52待检测面60固定板65连接座。【具体实施方式】为了对技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照【附图说明】本技术的【具体实施方式】,在各图中相同的标号表示结构相同或结构相似但功能相同的部件。在本文中,“示意性”表示“充当实例、例子或说明”,不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。为使图面简洁,各图中只示意性地表示出了与本技术相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。另外,为使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘示了其中的一个,或仅标出了其中的一个。在本文中,“一个”不仅表示“仅此一个”,也可以表示“多于一个”的情形。在本文中,“垂直”等并非严格的数学和/或几何学意义上的限制,还包含本领域技术人员可以理解的且制造或使用等允许的误差。图1用以说明电路板的测试机构的一种示意性实施方式的分解结构,图2是图1所示电路板的测试机构的一种示意性实施方式的组合结构。如图1和图2所示,电路板50用虚线表示,其具有一个待检测面52,电路板的测试机构包括一个基座10、一个滑座20、两个探针30和一个柱塞40。其中,基座10能够置于电路板50的待检测面52所在的那一侧,基座10具有一个垂直于待检测面52的连接面12,连接面12上设置有一个相对远离待检测面52的远离定位孔16和一个相对靠近待检测面52的接触定位孔18。滑座20能够滑动地设置于连接面12,在图中具体的实施方式中,基座10的安装面12上具有一个条型凸起14,滑座20上具有一个可与条型凸起14滑动连接的凹槽24。如图2所示,组合后条型凸起14可置入凹槽24中,以使滑座20接触凹槽24沿着条型凸起14滑动。在滑动过程中,滑座20可靠近或远离待检测面52。探针30固定于滑座20,例如可插接固定至滑座20上,滑座20滑动的过程中,探针30能够在与待检测面52接触的接触位置和能够与待检测面52分离的远离位置之间运动。柱塞40沿滑座20朝向连接面12的方向穿设于滑座20。在实际使用中,可通过手握柱塞40沿朝向或远离待检测面52的方向推动滑座20相对于基座10滑动,当然也可以通过其他方式来推动滑座20。请同时参见图3,如图3中的a图所示,在电路板的测试机构未使用时,探针30与电路板50的待检测面52分离,并处于其分离位置。在该位置时,柱塞40穿设滑座20后伸出的一端可伸入至基座10的连接面12的远离定位孔16中,从而限制滑座20相对基座10的滑动。当需要开始测试电路板50时,如b图中所示,将柱塞40从远离定位孔16中拔出后,可沿朝向待检测面52的方向推动柱塞40,以推动滑座20向待检测面52滑动,直至探针30与待检测面52接触,如c图所示。此时探针30与待检测面52接触,处于其接触位置,可实现与电路板50的导通,为了使探针30保持在该位置,可将柱塞40插入至接触定位孔18中,如d图所示,从而限制滑座20相对基座10滑动。利用上述结构,操作人员可轻松的调整探针30的位置,且无需设置气缸结构,可节省成本,节省测试机构的占用空间,使上述电路板的测试机构可应用于空间狭小的区域。本领域技术人员可以理解,其中,探针30的数量并不局限于图中所示,根据设计需要的不同,其也可以是一个或多个。图1至图3中,滑座20的滑动方向垂直于待检测面52。即在图中具体的实施方式中,基座10安装面12上的条型凸起14在安装面12上的延伸方向垂直于待检测面52,滑座20上具有可与条型凸起14滑动连接的凹槽24,组合后条型凸14起可置入凹槽24中。上述连接结构简单可靠,利于操作,容易实现。但是根据设计需要的不同,滑座20的滑动方向也可以不垂直于待检测面52,另外,滑座20和基座10间也可以采用其他结构实现滑动连接,例如条型凸起14可设置在滑座20上,凹槽24可设置在基座10的安装面12上。图4用以说明电路板的测试机构的另一种示意性实施方式的立体结构。如图4所示,基座的连接面12上设置有两个接触定位孔18。由于探针30的长短不同,或电路板的薄厚不同,都有可能会导致探针30与待检测面52的接触位置的变化。在不同的接触位置处设置接触定位孔18,可以在实际应用中根据需要选择相应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
电路板的测试机构,所述电路板(50)具有一个待检测面(52),所述测试机构包括:一基座(10),所述基座能够置于所述电路板(50)的待检测面(52)一侧以及所述基座(10)具有一垂直于所述待检测面(52)的连接面(12),所述连接面(12)上设置有一个远离定位孔(16)和一个接触定位孔(18);一个能够滑动的方式设置于所述连接面(12)的滑座(20),使得所述滑座(20)能够靠近或远离所述待检测面(52)移动;一探针(30),所述探针能够固定在所述滑座上,所述滑座(20)能够带动所述探针(30)在一个与所述待检测面接触的接触位置和一个与所述待检测面分离的远离位置之间运动;以及一个朝向所述连接面(12)穿设于所述滑座(20)的柱塞(40),若所述探针(30)处于所述接触位置,所述柱塞(40)能够伸入至所述远离定位孔(16),若所述探针(30)处于所述远离位置,所述柱塞(40)能够伸入至所述接触定位孔(18)。

【技术特征摘要】
1.电路板的测试机构,所述电路板(50)具有一个待检测面(52),所述测试机构包括: 一基座(10 ),所述基座能够置于所述电路板(50 )的待检测面(52 ) 一侧以及所述基座(10)具有一垂直于所述待检测面(52)的连接面(12),所述连接面(12)上设置有一个远离定位孔(16)和一个接触定位孔(18); 一个能够滑动的方式设置于所述连接面(12)的滑座(20),使得所述滑座(20)能够靠近或远离所述待检测面(52)移动; 一探针(30 ),所述探针能够固定在所述滑座上,所述滑座(20 )能够带动所述探针(30 )在一个与所述待检测面接触的接触位置和一个与所述待检测面分离的远离位置之间运动;以及一个朝向所述连接面(12)穿设于所述滑座(20)的柱塞(40),若所述探针(30)处于所述接触位置,所述柱塞(40 )能够...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩光通
申请(专利权)人:西门子数控南京有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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