本实用新型专利技术涉及一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其包括一执行元件和与之相连接的负载，执行元件和负载之间设有控制处理系统，高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器，力传感器分别与执行元件、负载和控制处理系统连接，位移传感器分别与负载和控制处理系统连接，位移传感器为磁滞传感器，力传感器为接触式传感器。相对于高频疲劳试验机控制装置，本实用新型专利技术的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置结构简单，造价低，可靠性高，既可以做力主闭环控制，位移为辅助闭环控制，也可以做位移主闭环控制，力为辅助闭环控制，对整个试验特性更能准确的记录，便于更好的分析被测试件的产品性能。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种控制装置，具体涉及一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环 控制装置。
技术介绍
目前，业界对于高频疲劳试验机都采用力反馈控制，对试件性能分析没有优势，无 法得知试验损坏的具体参数，即使有位移反馈也因精度不高达不到所需的效果。另外，试件要求提供位移参数，目前的控制装置都无法提供，目前的试验频率都为 IOHz以下，无法达到试验的要求。因此，业界急需一种新型的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置来改善或 解决上述的问题。
技术实现思路
为了克服现有业界使用的高频疲劳试验机控制装置的缺点，本技术提供一种 高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其结构简单，使用方便。本技术解决现有技术问题所采用的技术方案是一种高频疲劳试验机的力和 位移双闭环控制装置，其包括一执行元件和与之相连接的负载，所述执行元件和负载之间 设有控制处理系统，所述高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与 一位移传感器。进一步的，所述力传感器分别与所述执行元件、负载和控制处理系统连接。进一步的，所述位移传感器分别与所述负载和控制处理系统连接。进一步的，所述位移传感器为磁滞传感器。进一步的，所述力传感器为接触式传感器。本技术的有益效果是，相对于高频疲劳试验机控制装置，本技术的高频 疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置结构简单，造价低，可靠性高，既可以做力主闭环控 制，位移为辅助闭环控制，也可以做位移主闭环控制，力为辅助闭环控制，对整个试验特性 更能准确的记录，便于更好的分析被测试件的产品性能。附图说明图1是本技术涉及的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置的结构示 意图。具体实施方式以下结合附图详细说明本技术的具体实施方式。在图1中，本技术涉及的一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置， 其包括一执行元件11和与之相连接的负载12，执行元件11和负载12之间设有控制处理系统13，高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器14与一位移传感器 15，力传感器14分别与执行元件11、负载12和控制处理系统13连接，位移传感器15分别 与负载12和控制处理系统13连接，位移传感器15为磁滞传感器，力传感器14为接触式传感器。本技术的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置可以做力主闭环控制， 位移为辅助闭环控制，也可以做位移主闭环控制，力为辅助闭环控制，对整个试验特性更能 准确的记录，便于更好的分析被测试件的产品性能。以上所述仅为本技术的较佳实施方式，本技术的保护范围并不以上述实 施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本技术所揭示内容所作的等效修饰或变 化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。权利要求一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于包括一执行元件和与之相连接的负载，所述执行元件和负载之间设有控制处理系统，所述高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器。2.根据权利要求1所述的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于 所述力传感器分别与所述执行元件、负载和控制处理系统连接。3.根据权利要求1所述的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于 所述位移传感器分别与所述负载和控制处理系统连接。4.根据权利要求1所述的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于 所述位移传感器为磁滞传感器。5.根据权利要求1所述的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于 所述力传感器为接触式传感器。专利摘要本技术涉及一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其包括一执行元件和与之相连接的负载，执行元件和负载之间设有控制处理系统，高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器，力传感器分别与执行元件、负载和控制处理系统连接，位移传感器分别与负载和控制处理系统连接，位移传感器为磁滞传感器，力传感器为接触式传感器。相对于高频疲劳试验机控制装置，本技术的高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置结构简单，造价低，可靠性高，既可以做力主闭环控制，位移为辅助闭环控制，也可以做位移主闭环控制，力为辅助闭环控制，对整个试验特性更能准确的记录，便于更好的分析被测试件的产品性能。文档编号G05B11/32GK201751877SQ200920276308公开日2011年2月23日 申请日期2009年12月2日 优先权日2009年12月2日专利技术者张云龙, 张寅豹, 张旭, 施宇明, 郭维, 郭顺, 陈春, 项忠霞 申请人:天津出入境检验检疫局本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置，其特征在于：包括一执行元件和与之相连接的负载，所述执行元件和负载之间设有控制处理系统，所述高频疲劳试验机的力和位移双闭环控制装置还包括一力传感器与一位移传感器。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张旭，张云龙，陈春，张寅豹，项忠霞，施宇明，郭顺，郭维，
申请(专利权)人：天津出入境检验检疫局，
类型：实用新型
国别省市：12[]
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