测试元件、测试元件组、液晶面板及间隙子高度检测方法技术

一种测试元件，包括：间隙子，形成于液晶面板的第一基板上，所述第一基板面向第二基板的侧面具有第一电极，所述间隙子处于填充所述第一基板和第二基板间间隙的液晶中；以及，凹槽，形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上且与所述间隙子相对，所述第二基板面向所述第一基板的侧面具有第二电极，所述凹槽与所述间隙子之间夹有液晶。本发明专利技术还提供了一种测试元件组、一种液晶面板和一种间隙子高度检测方法，可用以检测压盒前及／或压盒后所述间隙子的高度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示器制造
，特别涉及一种测试元件、测试元件组、液晶面板及间隙子高度检测方法。
技术介绍
通常，以TFTLCD(thin film transistor liquid crystal display,薄膜晶体管液 晶显示器)为例，液晶显示器的制作工艺包括制作第一基板(如彩膜基板)；制作第二基 板(TFT阵列基板)；以及，对所述第一基板与第二基板执行压盒操作。 其中，制作第一基板的工艺包括在清洗后的玻璃基板上形成RGB(redgreen blue，红绿蓝三原色)膜层；在所述RGB膜层上形成像素电极层(ITO，铟锡氧化物)，本文件 内简称为公共电极层；在所述公共电极层上形成间隙子(photo spacer, PS)。 所述间隙子用以在完成后续压盒操作后，维持所述第一基板和第二基板间的间隙 距离固定。具体地，形成间隙子的工艺包括在所述公共电极层上形成间隙膜层(如有机材 料或玻璃材料)；刻蚀所述间隙膜层。 制作第二基板的工艺包括在清洗后的玻璃基板上形成具有栅极、沟道区及源/ 漏极金属层的TFT(薄膜晶体管)；形成覆盖所述玻璃基板内TFT区域和非TFT区域的保护 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试元件，其特征在于，包括：间隙子，形成于液晶面板的第一基板上且具有自由端，所述第一基板具有第一电极，所述液晶面板具有与所述第一基板相对的第二基板，所述自由端处于填充于所述第一基板和第二基板间间隙的液晶中；以及，凹槽，形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上且与所述间隙子相对，所述第二基板具有第二电极，所述凹槽与所述间隙子之间夹有液晶。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马骏，罗熙曦，蒋顺，凌志华，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]