测试向量转换方法技术

本发明专利技术公开了一种测试向量转换方法。为降低芯片测试成本，本发明专利技术的测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，包括：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息并写入第一依赖文件；提取文本格式编码的第一ATE测试向量中的内容并写入第二依赖文件；将第一ATE的逻辑真值和第二ATE的逻辑真值之间的对应关系写入第三依赖文件；调用第一依赖文件和第三依赖文件，通过脚本将文本格式编码的第二依赖文件转换为ASCII格式编码的第二ATE测试向量。本发明专利技术通过脚本实现不同ATE测试向量之间的直接转换，解决了不同的ATE间测试向量在不同ATE中无法直接通用的技术问题，获得了低芯片测试成本和周期的技术效果。本发明专利技术适于芯片测试领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试领域，具体涉及一种测试向量转换方法。

技术介绍

1、随着超大规模集成电路设计的规模和复杂性不断增加，对于芯片量产测试的要求也越来越高。为此，在量产测试过程中，越来越多的芯片测试是通过向自动测试设备（automatic test equipment, ate）输入测试向量的方式来验证芯片功能。

2、测试向量，它是在连续周期上的逻辑变化组合。不同的逻辑变化组合代表芯片不同的逻辑功能。测试向量具有时序连贯、逻辑紧密、强依赖于ate、测试应用便捷等特点。

3、当前的芯片测试方法，通常先使用电子设计自动化（electronic designautomation, eda）工具生成仿真向量，仿真向量的常见格式有vcd、evcd、wgl、stil等，再使用各厂商提供的转码工具，将其转换为各ate专用的测试向量。

4、当需要切换至其它ate时，测试人员通常会使用转码工具将原来的仿真向量重新转换为该ate所需格式的测试向量，由此实现测试向量之间的转换，图1展示传统方案中获得两种不同ate测试向量的示意图。但这种传统方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的测试向量转换方法，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的测试向量转换方法，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的测试向量转换方法，其特征在于：

5.根据权利要求4所述的测试向量转换方法，其特征在于：

6.根据权利要求5所述的测试向量转换方法，其特征在于：

7.根据权利要求4所述的测试向量转换方法，其特征在于：

8.根据权利要求7所述的测试向量转换方法，其特征在于：

9...

【技术特征摘要】

1.一种测试向量转换方法，用于将第一ate测试向量转换为第二ate测试向量，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的测试向量转换方法，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的测试向量转换方法，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的测试向量转换方法，其特征在于：

5.根据权利要求4所述的测试向量转换方...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：成都电科星拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：