【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于模拟版图自动化,具体涉及一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法。
技术介绍
1、在模拟电路的版图实现过程中,版图器件所处的制造、工作环境会对器件的工作性能产生影响。具体来说环境影响主要包括:制造的刻蚀精度、残余应力以及工作时的温度梯度等。相同的器件放置在不同环境下,彼此之间会产生特性偏差,这些偏差对于电路性能实现来说往往是需要尽量避免的,因此版图设计过程中常常通过器件位置匹配的方式尽可能减小器件之间的环境差异。
2、版图设计时,首先需要根据器件的类型、数量将所有需要匹配的器件摆放在同一个匹配阵列中,匹配阵列的类型多种多样,常见的有交叉耦合匹配、共质心匹配、插指匹配等。匹配阵列完成后,需要对分散在阵列各处的器件之间进行连线,以实现与模拟电路相同的连接关系。为提高工作效率,版图工程师对以上过程往往有强烈的自动化需求,但是由于匹配器件的类型、工艺、数量以及匹配类型的多种多样,目前的主流电子设计自动化(electronic design automation,eda)工具难以提供一键全自动的匹配摆放和连线功能,虽有个别
...【技术保护点】
1.一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,包含以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,步骤S03中,生成twig、trunk、strap1走线的流程如下:
3.根据权利要求1所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,步骤S03中,生成twig、trunk、strap1、strap2走线的流程如下:
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,在生成trunk之前,需要判断每行的trunk数量是否满足工艺约束条件,如
...【技术特征摘要】
1.一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,包含以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,步骤s03中,生成twig、trunk、strap1走线的流程如下:
3.根据权利要求1所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法,其特征在于,步骤s03中,生成twig、trunk、strap1、strap2走线的流程如下:
4.根据权利要求1至3任一项所述的一种实现模拟版图匹配阵列自动连线的方法...
【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,
申请(专利权)人:成都电科星拓科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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