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本发明公开了一种测试向量转换方法。为降低芯片测试成本，本发明的测试向量转换方法，用于将第一ATE测试向量转换为第二ATE测试向量，包括：提取第二ATE芯片测试程序中的管脚定义文件中的管脚信息并写入第一依赖文件；提取文本格式编码的第一ATE测...
该专利属于成都电科星拓科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都电科星拓科技有限公司授权不得商用。

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