【技术实现步骤摘要】
本公开涉及一种机电,并且更具体而言,涉及一种具有可移动 地连接至储存节点的电极的机电。
技术介绍
动态RAM(DRAM)是一种需要刷新以保持数据有效的固态存储器。DRAM中的存储器 单元包括电容器和M0S晶体管。电容器的电荷由于泄漏而衰减,因此存储器必须周期性地 刷新以保持电荷。MOS晶体管用作存储器单元中的开关。如果将读取存储器,则由读出放大 器在数据线上感测电容器上的电压。如果要求写入或刷新操作,则数据线变为输入线。在 适当的地址使DRAM单元中的MOS晶体管导通时,通过数据输入可以对电容器进行充电或放 电。 —种增加DRAM容量的方法是减小MOS晶体管的尺寸。然而,MOS晶体管尺寸的减 小产生了诸如短沟道或结泄漏的其他问题。此外,在存储器单元中使用MOS晶体管时,半导 体衬底必须用于容纳其上的MOS晶体管,并且该半导体衬底必须在具有MOS晶体管的存储 器单元的上阵列与下阵列之间形成。 因此需要一种用于在存储器装置中使用的改进的开关装置。
技术实现思路
根据本专利技术的示例性实施例, 一种存储器装置包括存储器单元,该存储器单元包 括储存节点、第一电极和第二电极,该储存节点储存电荷,并且当第二电极通电时第一电极 移动从而连接至储存节点。 该存储器装置可以进一步包括衬底,在所述衬底上形成存储器单元。 第一电极可以包括垂直部、第一水平部和第二水平部,该垂直部相对于衬底基本上垂直并且第一和第二水平部相对于衬底基本上平行。 该垂直部的第一端部可以连接至第一水平部的第一端部,第一水平部的第二端部 固定至在第二电极上形成的绝缘体图案,垂直部的第二端部连接至第二水平 ...
【技术保护点】
一种存储器装置,包括:存储器单元,所述存储器单元包括储存节点、第一电极和第二电极,所述储存节点被构造为储存电荷,以及当所述第二电极通电时,所述第一电极是可移动的从而连接至所述储存节点。
【技术特征摘要】
KR 2008-12-2 10-2008-0121327;US 2009-7-31 12/533,5一种存储器装置,包括存储器单元,所述存储器单元包括储存节点、第一电极和第二电极,所述储存节点被构造为储存电荷,以及当所述第二电极通电时,所述第一电极是可移动的从而连接至所述储存节点。2. 如权利要求1所述的存储器装置,其中,所述第一电极包括垂直部、第一水平部和第 二水平部,所述垂直部相对于设置有所述存储器单元的衬底的主水平面基本上垂直,以及 所述第一水平部和第二水平部相对于所述衬底的所述主水平面基本上平行。3. 如权利要求2所述的存储器装置,其中,所述垂直部的第一端部连接至所述第一水 平部的第一端部,所述第一水平部的第二端部固定至在所述第二电极上方形成的绝缘体图 案,所述垂直部的第二端部连接至所述第二水平部的第一端部。4. 如权利要求3所述的存储器装置,其中,在所述第一电极的所述垂直部和所述储存 节点与所述第二电极之间形成间隙。5. 如权利要求4所述的存储器装置,其中,当所述第二电极不通电时,通过所述间隙使 所述垂直部的所述第二端部与所述储存节点分离。6. 如权利要求5所述的存储器装置,其中,当所述第二电极通电时,所述垂直部的所述 第二端部接触所述储存节点。7. 如权利要求3所述的存储器装置,其中,所述垂直部的所述第二端部朝向所述储存节点突出。8. 如权利要求1所述的存储器装置,其中,当施加电压时,所述第二电极通电。9. 如权利要求1所述的存储器装置,其中,所述储存节点包括电容器,所述第一电极包 括位线,以及所述第二电极包括字线。10. —种存储器装置,包括存储器单元,所述存储器单元包括第一电极、第二电极和储存节点,用第一间隙使所述 第一电极与所述第二电极分离,以及用第二间隔使所述第一电极与所述储存节点分离,并 且当所述第二电极通电时,所述第一电极移动从而连接至所述储存节点。11. 如权利要求io所述的存储器装置,其中,所述第一间隙和所述第二间隙基本上相同。12. 如权利要求10所述的存储器装置,其中,所述第一间隙大于所述第二间隙。13. —种存储器装置,包括第一存储器单元,包括第一字线、第一电容器和第一位线;第二存储器单元,包括第二字线、第二电容器和连接至所述第一位线的第二位线; 其中当所述第一字线通电时所述第一位线是可移动的从而连接至所述第一电容器,以 及当所述第二字线通电时所述第二位线是可移动的从而连接至所述第二电容器。14. 如权利要求13所述的存储器装置,其中,所述第一存储器单元中的所述第一位线 包括第一垂直部,所述第二存储器单元中的所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:金旻相,李志明,裵贤俊,金洞院,徐俊,权容贤,张原玮,赵槿汇,
申请(专利权)人:三星电子株式会社,
类型:发明
国别省市:KR[韩国]
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