【技术实现步骤摘要】
本公开的实施例总体涉及半导体测试，具体地涉及处理标准测试数据文件的方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、在半导体行业中，标准测试数据文件被广泛应用于芯片测试过程中，包括晶圆测试（chip probe）和最终测试（final test）等测试环节。标准测试数据文件的格式被称为标准测试数据存储格式（standard test data format，stdf）。标准测试数据文件也可被称为stdf文件。stdf文件以二进制字节流的形式保存各种测试数据，可使得不同测试机生成的测试数据格式保持一致。
2、然而，一些芯片测试厂商需要对测试数据进行一定程度的定制化，例如包括或者不包括某些类型的测试数据。由于每家芯片测试厂商的定制化程度可能不同，因此传统的解析方案可能无法准确地处理stdf文件中的定制化的部分，从而导致解析错误或数据丢失等问题。
技术实现思路
1、本公开的实施例提供了一种处理标准测试数据文件的方法、电子设备及存储介质。
2、根据本公开的第一方面，提供了一种处理标...
【技术保护点】
1.一种处理标准测试数据文件的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个数据块中的单个数据块包括至少一个记录，所述至少一个记录中的单个记录包括记录数据；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一处理任务还包括：用于根据用户设置的规则来处理所述第一数据块中的记录数据的处理指令。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：响应于所述第一处理任务被执行，获取所述处理指令中的所述规则的参数，并根据所获取的参数来处理所述第一数据块。
5. 根据权利要求1至4中任一...
【技术特征摘要】
1.一种处理标准测试数据文件的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个数据块中的单个数据块包括至少一个记录，所述至少一个记录中的单个记录包括记录数据；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一处理任务还包括：用于根据用户设置的规则来处理所述第一数据块中的记录数据的处理指令。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：响应于所述第一处理任务被执行，获取所述处理指令中的所述规则的参数，并根据所获取的参数来处理所述第一数据块。
5. 根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，执行所述至少一个处理任务以处理所述多个数据块中与所述至少一个处理任务相关联的数据块包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，执行所述至少一个处理任务以处理所述多个数据块中与所述至少一个处理任务相关联的数据块还包括：按照第一顺...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：全芯智造技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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