【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，尤其涉及一种该设备内利用一具有反射能力的光学结构件，检测一具有多个表面的待测物的设备与方法。
技术介绍
传统检测具有多个表面的待测物，且该待测物为一电子组件时，根据在中国台湾 专利编号第581862号的影像管幕面的侧面瑕疵自动光学检测法，利用自动光学检测法， 该自动光学检测法于检测区下方使用一光源辅助取像，同时使用两只对应的影像感测装置 对待测物进行截取侧面影像的作业，再将上述截取的侧面影像传输至计算机系统中进行显 像分析，以完成待测物的侧面影像是否有瑕疵。 然而，在上述的检测方式中，需要两只影像感测装置，提高了装置的成本。 另一方面，以撷取依六面体的影像为例，检测一次仅能撷取该六面体中两个面的 影像，需要三次才能将六个面的影像撷取完毕，不但需要较多的检测次数，变换待测物检测 的面也需要耗费时间，如此降低工作效率。 再者，当待测物的形体改变，例如由六面体变成八面体或其它形体，该装置又须重 新调整该对影像感测装置的相对位置，才能撷取到影像，且检测次数与时间又再增加，不但 操作繁琐，对适应该电子组件的形体改变的能力也不高。
技术实现思路
本专利技术...
【技术保护点】
一种自动光学检测设备，用以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该自动光学检测设备包含：一光源装置，用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面；一影像感测装置，接收该待测物的反射光线以产生一检测影像；以及一光学结构件，装设于该光线的光径上，包含：一基座，多个反射结构，设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。
【技术特征摘要】
一种自动光学检测设备，用以检测一待测物的多个表面，其特征在于，该自动光学检测设备包含一光源装置，用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面；一影像感测装置，接收该待测物的反射光线以产生一检测影像；以及一光学结构件，装设于该光线的光径上，包含一基座，多个反射结构，设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。2. 根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该待测物为一六面体，该光 学结构件对应该六面体周围环绕的四个侧面，具有四个反射结构。3. 根据权利要求l所述的自动光学检测设备，其特征在于，该自动光学检测设备还包 含一移料装置，以该移料装置抓取该待测物，该些反射结构设置于该基座的正面，于该些反 射结构间的基座上具有一通透孔，该移料装置自该基座背面通过该通透孔，以将该待测物 置于该些反射结构间。4. 根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该反射结构的反射表面进 一步包含一反光层。5. 根据权利要求1所述的自动光学检测设备，其特征在于，该检测影像包含该待测物 周围的侧面以及正表面所反射的影像。6. —种光学结构件，应用于一自动光学检测设备中，该自动光学检测设备用以检测一 待测物的多个表面，该自动光学检测设备还包含一光源装置以及一影像感测装置，该光源 装置用以产生光线以照射于该待测物的该多个表面，该影像感测装置接收该待测物的反射 光线以产生一检测影像，该光学结构件装设于该光线的光径上，其特征在于，该光学结构件 包含一基座；以及多个反射结构，该些反射结构设置于该基座上，该待测物置于该些反射结构间，该些反 射结构用以将反射自该多个表面的光线，再反射至该影像感测装置。7. 根据权利要求6所述的光学结构件，...
【专利技术属性】
技术研发人员：潘世耀，冯胜凯，王铭辉，简宏达，
申请(专利权)人：中茂电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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