光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台技术

技术编号:4257735 阅读:228 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术揭示一种光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台,光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于镜面并供连接至一个预定电路的接面;藉由自动化机台的基座、输送装置、携带装置与光学影像撷取装置的协调运作,进行检测步骤a)以单一方向取得多个光学影像撷取元件、并同步暴露所有多个批次受测的光学影像撷取元件的多个接面;b)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个接面;c)同步暴露多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面;及d)检测多个批次受测光学影像撷取元件的多个镜面。

【技术实现步骤摘要】
光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台
本专利技术是关于一种批次检测方法及机台,尤其是一种光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台。
技术介绍
继数码相机与数码摄影机以排山倒海之势席巻传统相机与影带式摄影机市场后, 个人用手持装置如手机、PDA(个人数字助理)为提升功能,亦内建数码摄录影的机构,使 相机与手持装置区隔愈趋模糊,其中取代传统感光底片的光学影像撷取元件如CMOS或CCD 等,为最基本的核心元件。 为确保光学影像撷取元件的制造品质,于出厂或进入下一制程之前,有绝对必要 进行相关检测,公知的自动化检测需利用如附图说明图1与图2中的承载盘2承载待测物,承载盘2 具有例如6行7列共42个容置槽22,用以收纳一定数量的待测光学影像撷取元件1,以配 合机台自动工作线进行相关检测。 光学影像撷取元件1具有两个表面,定义其受光面为镜面,相反于镜面具有多个 接点的底面为接面,如图l所示的感测面即为镜面12,相反于镜面12的另一面则为如图2 所示、预供连接至预定电路的接面14,在检验过程中,镜面12与接面14皆需进行如镜面完 整度、以及接面线路接点布设正确与否等不同项目的外观检测。 在自动化检测过程中,传统外观检测流程需多次搬移光学影像撷取元件,由两种 机台分别进行检测;即便以多功能机台作业,业界公知以负压控制吸头携行光学影像撷取 元件,单次携行待测物数量有限,直接影响检测效能,且均先吸取接面,于进行镜面相关检 测流程后方吸取镜面、再进行接面的检测。 镜面检测结果无误后,极可能在后续检测接面之时,因吸头直接接触镜面,造成镜面碰损、刮伤等破坏,更因在此之后,已无镜面的检测流程,因镜面碰损造成的伤害不易被发现,直至安装于手持装置,损及商品品质或直到客户投诉抱怨产品有瑕疵时,为时已晚;单一光学影像撷取元件造价不高,造成的商誉损失与后续影响却不容轻忽。 因此,若能提供一种单一机台即可循序进行光学影像撷取元件外观两面自动化检测、单批次即可进行数量数十倍于传统机台的测量,安排合理化的检测顺序,使瑕疵光学影像撷取元件能确实藉由自动化检测查出的方法与机台,便能克服前述问题。
技术实现思路
因此,本专利技术的一个目的,在于提供一种合理化进行外观检测的流程,吸头吸放次 数最少,并且没有误放劣品顾虑的光学影像撷取元件外观批次检测方法。 本专利技术另一目的,在于提供一种单批次检测数量为传统机台数十倍、检测品质却 毫不逊色的光学影像撷取元件外观批次检测方法及机台。 本专利技术的再一目的,在于提供一种单机台即可循序检测待测物两面外观、直接减 少待测物移动次数,保有待测物成品率的光学影像撷取元件外观批次检测机台。 本专利技术的又一目的,在于提供一种藉机构安排,使待测承载盘中无论原始载料方向为何,均可迅速变换以适应检测流程的光学影像撷取元件外观批次检测机台。 因此,本专利技术为一种光学影像撷取元件外观批次检测方法,其中光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于该镜面并供连接至一个预定电路的接面,批次检测方法包括下列步骤a)以单一方向取得光学影像撷取元件、并同步暴露所有该批次受测的光学影像撷取元件的接面;b)检测该批次受测光学影像撷取元件的接面;c)同步暴露该批次受测光学影像撷取元件的镜面;及d)检测该批次受测光学影像撷取元件的镜面。 本专利技术为一种光学影像撷取元件外观批次检测机台,其中光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于该镜面并供连接至一个预定电路的接面,所述机台包括一个基座;一组设置于基座、并供取得与输送至少一个以接面向下方向承载批次受测光学影像撷取元件的承载盘的输送装置;一组自至少一个承载盘中取得该批次受测光学影像撷取元件并暴露接面的携带装置;及一组检测该批次受测光学影像撷取元件外观的光学影像撷取 藉由多种模式与机构的安排,使外观检测顺序合理且正确,携行装置内的吸取单 元单批次即可携行数十颗待测物,即便进料安置表面不同,翻转单元配合对应承载盘亦可 迅速一次翻转承载盘中所有光学影像撷取元件,将镜面检测安排于最后进行,更能确实检 测出瑕疵待测物。1...光学影像撷取元件12...镜面14...接面2...承载盘22.. 容置槽302 312、5027...机台72...基座74...输送装置78...携带装置79...分类装置742. .翻转单元762...接面外观摄影机764. .镜面检测摄影机784...吸取单元786. .吸嘴2'..对应承载盘514、602 610.步l沐具体实施方式有关本专利技术的前述及其它
技术实现思路
、特点与功效,在以下配合说明书附图的较佳 实施例的详细说明中,将可清楚地呈现。 如本专利技术外观批次检测方法的流程3及的俯视4与立体5所示,起 始步骤302时,是将多个待测电路元件置放于如前所述的承载盘2中,承载盘2则在机台7 的基座72上,受输送装置74的承载搬移,承载盘2的每一容置槽中置放单一受测IC,为说 明起见,受测IC是以CCD为例,本例中,是将所有待测CCD以镜面朝上置放于容置槽内。 并于步骤304由如图6所示的携带装置78由承载盘2上方下移,并以数目与容置 槽对应的多个吸嘴786,将整盘待测CCD以吸取镜面方式,整批吸取上移,同步暴露42颗受 测CCD的接面。虽然本例是一次携行42颗待测物;当然,熟悉本
者亦可参照本发 明揭示的概念,换用承载盘并增加吸嘴786的数量或增加吸取单元784的组数,以增加批次 检测容量。 随后在步骤306时,将批次受测CCD的接面移到接面外观摄影机762上方,供其由 下方打光,并拍摄待测CCD接面影像。接面检测后,于步骤308将待测CCD仍置放回原承载 盘2中,携带装置78向上脱离回复原位,使整批待测CCD的镜面同步暴露,并由输送装置74 移动至镜面检测摄影机764下方。 步骤310时,由镜面检测摄影机764检测各待测CCD的镜面,镜面若有受损状况, 即可于此步骤查出。历经接面与镜面检测后,可依检测结果进行分类步骤312,由分类装置 79将不良品与堪用的次级品由原承载盘中吸出,剔除不良品、将堪用品分至旁侧的承载盘, 并拣选良品补足原承载盘中的空缺,从而将各级产品分置于不同承载盘输出。当然,如熟于 此技者所能轻易理解,虽然在本例中,光学影像撷取装置是以两组分别检测镜面与接面的 镜面检测摄影机764与接面外观摄影机762共同组成,但即使以单一组摄影机承担两次检 测的责任亦无不可。 图7是本专利技术光学影像撷取元件外观批次检测方法第二实施例的流程图,其主要 流程如步骤508检测接面、步骤512检测镜面、及检测完毕的分类步骤514,均与前一实施例 相似。主要差异在于,本例流程前端的待测物进料方式稍有变化,于步骤502是将批次受测 的多个光学影像撷取元件如图8及图9左侧所示,以镜面12向上的方向,置放于至少一个 承载盘2中。随后,于步骤504,以至少一个与前述至少一个承载盘2对应的对应承载盘2' 覆盖于前述承载盘2上;并于步骤506循顺时针方向,由一翻转单元742将承载盘2与对应 承载盘2'同步反转,取开承载盘2,而成为图式右侧接面14向上、以对应承载盘2'承载的 状态。 在步骤510时,再反向重复上述反转,使得待测CCD回复以多个镜面朝上的方向, 置放于承载盘2中,藉此暴露出多个镜面。是以本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光学影像撷取元件外观批次检测方法,其中所述光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于所述镜面并供连接至一个预定电路的接面,所述批次检测方法包括下列步骤:a)以单一方向取得光学影像撷取元件、并同步暴露所有该批次受测的光学影像撷取元件的接面;b)检测该批次受测光学影像撷取元件的接面;c)同步暴露该批次受测光学影像撷取元件的镜面;及d)检测该批次受测光学影像撷取元件的镜面。

【技术特征摘要】
一种光学影像撷取元件外观批次检测方法,其中所述光学影像撷取元件分别具有一个镜面及一个相反于所述镜面并供连接至一个预定电路的接面,所述批次检测方法包括下列步骤a)以单一方向取得光学影像撷取元件、并同步暴露所有该批次受测的光学影像撷取元件的接面;b)检测该批次受测光学影像撷取元件的接面;c)同步暴露该批次受测光学影像撷取元件的镜面;及d)检测该批次受测光学影像撷取元件的镜面。2. 如权利要求l所述的批次检测方法,其特征在于,更包括在所述步骤d)后,分类该批次受测光学影像撷取元件的步骤e)。3. 如权利要求l或2所述的批次检测方法,其特征在于,所述步骤a)更包括下列次步骤al)将该批次受测光学影像撷取元件以镜面向上的方向置放于至少一个承载盘中;及a2)以一组吸取装置同步吸取该批次受测光学影像撷取元件的镜面而暴露接面。4. 如权利要求l或2所述的批次检测方法,其特征在于,所述步骤a)更包括下列次步骤a3)将该批次受测光学影像撷取元件以镜面向上的方向置放于至少一个承载盘中;及a4)以至少一个与所述至少一个承载盘对应的对应承载盘覆盖于所述承载盘上;a5)将所述承载盘及所述对应承载盘以组合方式反转,使得该批次受测光学影像撷取元件以接面朝上的方向置放于对应承载盘中,藉此暴露出接面。5. 如权利要求l或2所述的批次检测方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡译庆冯胜凯施昱安翁松佑潘世耀
申请(专利权)人:中茂电子深圳有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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