一种成像光学元件周边光亮检测装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
一种成像光学元件周边光亮检测装置
本专利技术涉及光学元件质量检测技术，具体涉及一种成像光学元件周边光亮检测装置。
技术介绍
周边光亮比：是指成像光学元件成型过程中，周边光亮与中心光亮的比值，比值越大证明光学元件的性能越高。比值小的光学元件可能会出现周边的成像能力差，严重时可能出现暗角现象。目前的光学元件产品对周边光亮的检测没有专有的设备，检测方法随意，准确度不高，造成对光学元件性能的评测不准确，并且测量设备昂贵，使用不便。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出一种成像光学元件周边光亮检测装置，旨在实现中心与周边光亮的准确设定，并且通过光轴和面板的调节设计，实现了周边光亮比的检测的稳定性和准确性。本专利技术采用的技术方案具体为：一种成像光学元件周边光亮检测装置，包括发光单元、光亮单独调节单元、光亮整体调节单元、图像获取单元和图像显示单元，所述发光单元包括多个发光体，这些发光体按圆形布置，其中圆心处布置一个发光体，其余发光体沿圆周均匀布置，所述光亮单独调节单元用于在多个亮度档位之间单独调节各个发光体的亮度，所述光亮整体调节单元用于在多个亮度档位之间同步整体调节发光单元的亮度，被测光学元件设置在所述图像获取单元上，图像获取单元的光轴与发光单元中心发光体对准，所述图像获取单元通过数据线与所述显示单元连接。其中所述发光体为LED发光体。其中所述图像获取单元为摄像机。其中所述图像显示单元为电脑显示器。其中所述沿圆周均匀布置的发光体为至少四个。附图说明为了更容易理解本专利技术的技术方案和有益的技术效果，通过参照在附图中示出的本专利技术的具体实施方式来对本申请进行详细的描述...
【技术保护点】
一种成像光学元件周边光亮检测装置，包括发光单元、光亮单独调节单元、光亮整体调节单元、图像获取单元和图像显示单元，所述发光单元包括多个发光体，这些发光体按圆形布置，其中圆心处布置一个发光体，其余发光体沿圆周均匀布置，所述光亮单独调节单元用于在多个亮度档位之间单独调节各个发光体的亮度，所述光亮整体调节单元用于在多个亮度档位之间同步整体调节发光单元的亮度，被测光学元件设置在所述图像获取单元上，图像获取单元的光轴与发光单元中心发光体对准，所述图像获取单元通过数据线与所述显示单元连接。
【技术特征摘要】
1.一种成像光学元件周边光亮检测装置，包括发光单元、光亮单独调节单元、光亮整体调节单元、图像获取单元和图像显示单元，所述发光单元包括多个发光体，这些发光体按圆形布置，其中圆心处布置一个发光体，其余发光体沿圆周均匀布置，所述光亮单独调节单元用于在多个亮度档位之间单独调节各个发光体的亮度，所述光亮整体调节单元用于在多个亮度档位之间同步整体调节发光单元的亮度，被测光学元件设置在所述图像获取单元上，图像获取单元的光轴与发光单元中...
【专利技术属性】
技术研发人员：段美华，
申请(专利权)人：希比希光学北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11
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