检测ＰＣＢ板上元件相似度的方法技术

本发明专利技术公开了一种检测ＰＣＢ板上元件相似度的方法，包括以下步骤：对预定数量的ＰＣＢ样板进行图像采样，并记录所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值；将被测ＰＣＢ板的图像像素点的像素值与其对应像素点的像素值的最大值和最小值进行比较；统计被测ＰＣＢ板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到被测ＰＣＢ板的相似度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及印刷电路板领域，具体而言，涉及一种检测PCB板上元件相似度的方法。
技术介绍
在电路板自动光学检测仪中，使用标准图片与被测图片对比的方 法进行测量，以此来确定电路板组装过程中的元件缺陷。 通常两幅图片的相似度的确定是由算法事先确定的一定规则来计算出来 的。在电路板的测试中，这些规则常常不能反映出真正人们所关心的细节问题，例 如，图l、图2和图3分别示出了PCB板的屏幕效果示意图，用相识度测量法分别 得出图2和图3分别与图1的相识度图l、图2间的相似度是54.58%;图1、图3间的 相似度是79.58%，但图2只是由于元件管脚上没有被锡沾上，应该也是正确的，图3则 是元件完全丢失的情况。可见，算法很难了解人们真正关心的图像特征。 在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中检测电路板相似度方法的准确度 较低。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种检测PCB板上元件相似度的方法，能够解决现有技术中检 测电路板相似度方法的准确度较低的问题。 在本专利技术的实施例中，提供了一种检测PCB板上元件相似度的方法，包括以下 步骤 对预定数量的PCB样板进行图像采样，并记录所采集的正确的图像像素点的最 大值和最小值； 将被测PCB板的图像像素点的像素值与其对应像素点的像素值的最大值和最小 值进行比较； 统计被测PCB板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有 像素点，得到被测PCB板的相似度。 优选地，在上述检测PCB板上元件相似度的方法中，统计被测PCB板的介于与 其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到被测PCB板的相似度 具体包括 根据所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值的差值，决定正确的图像像 素点的权值； 将介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点的权值相 加，得到被测PCB板的相似度。 在上述实施例中，若被测PCB板的像素点的像素值落在与其对应像素点的像素 值的最大值与最小值之间，则是相似的像素，否则是不相似的，最后把整幅图像所有的相似点数统计起来，得到被测PCB板的相似度，在采样阶段，就记录下来了人们所关心的像素的变化，那些经过一定采样量后，最亮值图与最暗值图上相差不大的像素点就是人们关心的点，而那些变化很大的点是人们认为变化了也不影响结果的点，是不关心的点，因此，所得到的相似度的准确度较高，克服了现有技术中检测电路板相似度方法的准确度较低的问题。附图说明 此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中 图1、图2和图3分别示出了 PCB板的屏幕效果示意图； 图4示出了根据本专利技术一个实施例的检测PCB板上元件相似度的方法流程图。具体实施例方式下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本专利技术。 图4示出了根据本专利技术一个实施例的检测PCB板上元件相似度的方法流程图，包括以下步骤 S102，对预定数量的PCB样板进行图像采样，并记录所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值； S104，将被测PCB板的图像像素点的像素值与其对应像素点的像素值的最大值和最小值进行比较； S106，统计被测PCB板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到被测PCB板的相似度。 在本实施例中，若被测PCB板的像素点的像素值落在与其对应像素点的像素值的最大值与最小值之间，则是相似的像素，否则是不相似的，最后把整幅图像所有的相似点数统计起来，得到被测PCB板的相似度，在采样阶段，就记录下来了人们所关心的像素的变化，那些经过一定采样量后，最亮值图与最暗值图上相差不大的像素点就是人们关心的点，而那些变化很大的点是人们认为变化了也不影响结果的点，是不关心的点，因此，所得到的相似度的准确度较高，克服了现有技术中检测电路板相似度方法的准确度较低的问题。 在本实施例中，根据亮暗图对应像素的差值，决定每个像素在计算相似度时的权值，亮度相差越大的点，权值越小，亮度相差越小的点权值越大。 优选地，在上述检测PCB板上元件相似度的方法中，统计被测PCB板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到被测PCB板的相似度具体包括 根据所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值的差值，决定正确的图像像素点的权值； 将介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点的权值相加，得到被测PCB板的相似度。 例如，采用本专利技术的检测PCB板上元件相似度的方法，实际测试图l、图2和图3的相似度1、 2间的相似度是97%， 1、 3间的相似度是75%，与现有方法相比，准确地有较大提高。 显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本专利技术的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本专利技术不限制于任何特定的硬件和软件结合。 以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，对于本领域的技术人员来说，本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测ＰＣＢ板上元件相似度的方法，其特征在于，包括以下步骤：　　对预定数量的ＰＣＢ样板进行图像采样，并记录所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值；　　将被测ＰＣＢ板的图像像素点的像素值与其对应像素点的像素值的最大值和最小值进行比较；统计所述被测ＰＣＢ板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到所述被测ＰＣＢ板的相似度。

【技术特征摘要】
一种检测PCB板上元件相似度的方法，其特征在于，包括以下步骤对预定数量的PCB样板进行图像采样，并记录所采集的正确的图像像素点的最大值和最小值；将被测PCB板的图像像素点的像素值与其对应像素点的像素值的最大值和最小值进行比较；统计所述被测PCB板的介于与其对应像素点的像素值的最大值和最小值之间的所有像素点，得到所述被测PCB板的相似度。2. 根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：江俭，
申请(专利权)人：江俭，
类型：发明
国别省市：11[]