光敏器件的测试柜制造技术

本实用新型专利技术涉及一种光敏器件的测试装置，特别涉及一种光敏器件的测试柜。包括连接光敏器件的检测电路以及电源管理器，还包括测试柜以及设置于该测试柜内的光源层，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上下位移的驱动装置，光源层包括支架、白炽灯以及位于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，检测电路装配于测试柜内并位于凸透镜的下方。本实用新型专利技术能在不改变色温的前提下改变各测试点处的光的强弱，并能缩小处于同一水平面上各测试点处的光强差异。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光敏器件的测试装置，特别涉及一种光敏器件的测试柜。
技术介绍
光敏电阻是一种常见的元器件，光敏电阻在制造完成后需进行质量检测。目前的 光敏电阻的检测设备，光线的强弱是通过调节白炽灯的亮暗程度来实现的，由于该方法在 改变白炽灯亮暗程度的同时也改变的光的色温，而色温的变化对光敏电阻的测试也是有影 响的，故此方法是不可取的。另外，处于同一水平面上各测试点的光强的差异性很大，这就 不利于光敏器件的大规模测试。所以在这种情况下，设计一款实用性强，光敏电阻测试设备 成当前急需解决的问题。
技术实现思路
针对上述技术问题，本技术的目的是提供一种光敏器件的测试柜，它能在不 改变色温的前提下改变各测试点处的光的强弱；并能縮小处于同一水平面上各测试点处的 光强差异。 本技术的目的是这样实现的包括连接光敏器件的检测电路以及电源管理 器，还包括测试柜以及设置于该测试柜内的光源层，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上 下位移的驱动装置，光源层包括支架、白炽灯以及位于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动 装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，检测电路装配于测试柜内并位于凸透镜 的下方。 所述驱动装置包括电动机、绕性连接绳以及定位器，绕性连接绳一端与电动机连 接，绕性连接绳另一端穿过定位器连接白炽灯。 所述定位器为定滑轮。 所述白炽灯的安装位置为凸透镜的焦点位置。 所述检测电路包括电源、开关、电阻、多个发光二极管以及多组供光敏器件插接的 插接孔，开关一端与电源连接，另一端连接电阻，每一个发光二极管与一组插孔串联形成检 测支路，这些检测支路并联后连接于电阻与电源之间。 所述电源管理器为带有调压器的电源管理器。 采用了上述方案，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上下位移的驱动装置，通过 驱动装置的控制，光源层在上下移动过程中，白炽灯与凸透镜之间的距离是不发生变化的， 这样即可达到调节被测光敏器件区域光照强度的目的，从而避免使光的色温相对于光敏器 件发生变化，这样在同样色温下不影响到被测的光敏器件。光源层包括支架、白炽灯以及位 于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，白 炽灯的安装位置为凸透镜的焦点位置，从白炽灯发出的光线射到凸透镜上后，经过凸透镜 后会成为平行光线，由于这些光线均由同一点发出，因此，可以縮小处于同一水平面上各被 测光敏器件的光强差异。本技术通过在不改变色温的前提下改变各测试点处的光的强3弱；以及縮小处于同一水平面上各测试点处的光强差异，使得测试的性能大为提高。 检测电路中连接光敏器件的为插接孔，使用时无需将光敏器件与检测电路焊接， 提高了使用的方便性，而且可重复使用。 本技术不但结构简单，而且可同时大规模检测多个光敏器件，有检测速度快， 检测效率高的优点。 以下结合附图和具体实施方式对本技术作进一步说明。附图说明图1为本技术的结构示意图； 图2为本技术中驱动装置以及光源层的装配结构图； 图3为本技术中检测电路的电路结构图； 图4为本技术中插接器的结构图； 附图中，1为测试柜，2为白炽灯，3凸透镜，4为电动机，5为绕性连接绳，6为定位 器，7为电源管理器，8为插接器。具体实施方式参照图1至图4，本技术的光敏器件的测试柜，连接光敏器件的检测电路、带 有调压器的电源管理器7、测试柜1以及设置于该测试柜内的光源层。测试柜内顶壁设有能 驱动白炽灯作上下位移的驱动装置，驱动装置包括电动机4、绕性连接绳5以及定位器6，定 位器6为定滑轮，绕性连接绳5 —端与电动机4连接，绕性连接绳另一端穿过定位器连接光 源层。光源层包括支架、白炽灯2以及位于该白炽灯下方的凸透镜3，白炽灯2固定于支架 内，白炽灯2通过导线与电源管理器电连接，白炽灯2的安装位置为凸透镜的焦点位置。检 测电路装配于测试柜内并位于凸透镜的下方。检测电路包括电源、开关K、电阻R、多个发光 二极管以及多个供光敏器件插接的插接器8，开关K一端与电源连接，另一端连接电阻R，每 个发光二极管与一个插接器串联形成检测支路，这些检测支路并联后连接于电阻R与电源 之间。 如图3，以测试4个光敏电阻为例进行说明，实际情况可根据需要增加测试点的数 目。 一般情况下边长为40cm的正方形测试区域内可以布置64个测试点。将所需检测的光 敏电阻插接于插接器上，然后关闭测试柜的柜门。并合上开关K及打开白炽灯的电源管理 器7。此时光敏器件与光源层距离最大，光敏电阻区域光线较暗，光敏电阻阻值较大，流过各 发光二极管的电流很微弱，故发光二极管不会发光。按下控制电动机正转的点动开关，使光 源层缓缓向下移动，当其滑过临界点后，光敏电阻区域光线增强，光敏电阻阻值减小，流过 各发光二极管的电流增大，发光二极管应该会发光。如果有出现没有发光的发光二极管，则 说明与其相连的光敏电阻是达不到标准的或者是坏的光敏器件。权利要求一种光敏器件的测试柜，包括连接光敏器件的检测电路以及电源管理器，其特征在于还包括测试柜以及设置于该测试柜内的光源层，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上下位移的驱动装置，光源层包括支架、白炽灯以及位于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，检测电路装配于测试柜内并位于凸透镜的下方。2. 根据权利要求l所述的光敏器件的测试柜，其特征在于所述驱动装置包括电动机、 绕性连接绳以及定位器，绕性连接绳一端与电动机连接，绕性连接绳另一端穿过定位器连 接白炽灯。3. 根据权利要求2所述的光敏器件的测试柜，其特征在于所述定位器为定滑轮。4. 根据权利要求1所述的光敏器件的测试柜，其特征在于所述白炽灯的安装位置为 凸透镜的焦点位置。5. 根据权利要求l所述的光敏器件的测试柜，其特征在于所述检测电路包括电源、开 关、电阻、多个发光二极管以及多个供光敏器件插接的插接器，开关一端与电源连接，另一 端连接电阻，每个发光二极管与一个插接器串联形成检测支路，这些检测支路并联后连接 于电阻与电源之间。6. 根据权利要求1所述的光敏器件的测试柜，其特征在于所述电源管理器为带有调 压器的电源管理器。专利摘要本技术涉及一种光敏器件的测试装置，特别涉及一种光敏器件的测试柜。包括连接光敏器件的检测电路以及电源管理器，还包括测试柜以及设置于该测试柜内的光源层，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上下位移的驱动装置，光源层包括支架、白炽灯以及位于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，检测电路装配于测试柜内并位于凸透镜的下方。本技术能在不改变色温的前提下改变各测试点处的光的强弱，并能缩小处于同一水平面上各测试点处的光强差异。文档编号G01R31/00GK201497784SQ20092023314公开日2010年6月2日 申请日期2009年7月15日 优先权日2009年7月15日专利技术者戚元平 申请人:戚元平本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光敏器件的测试柜，包括连接光敏器件的检测电路以及电源管理器，其特征在于：还包括测试柜以及设置于该测试柜内的光源层，测试柜内顶壁设有能驱动光源层作上下位移的驱动装置，光源层包括支架、白炽灯以及位于该白炽灯下方的凸透镜，支架与驱动装置连接，白炽灯通过导线与电源管理器电连接，检测电路装配于测试柜内并位于凸透镜的下方。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：戚元平，
申请(专利权)人：戚元平，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]