本发明专利技术公开了一种力致响应发光材料及其在检测领域中的应用，该材料包含如下结构式化合物：本发明专利技术方案材料的初始粉末仅弱发光，但当对其施加作用力(如进行刮擦、剪切等机械力)后，在紫外灯下发出明亮的青色发光，当对其进行溶剂熏蒸(fumed)后，又恢复到初始的发射状态，具有良好的可逆性，可反复使用，在检测等领域具有良好的应用前景。
1、裂纹和损伤可能发生在货物、织物或薄膜的表面或内部，例如运输过程中的包装箱、货物堆放区域、织物制品或薄膜的使用环境等。这些刮擦和损伤可能导致货物的质量下降、功能性能受损，甚至使货物无法正常使用或出现安全隐患。例如，在运输过程中，货物的外包装可能会受到撞击或刮擦，导致内部货物受损或破裂，造成重大财产损失，特别是电脑主机，液晶显示屏和瓷器等精密器件。同样，在织物制品或薄膜的使用过程中，如果出现不可见的刮擦或损伤，可能导致品质下降、寿命缩短，甚至引发安全问题，如织物制品或薄膜破裂或松脱导致人身伤害；又比如，织物拉伸过程中可能出现屈服形变或断裂，屈服形变或断裂可能会导致织物的弹性恢复性能下降，使其失去原有的弹性和紧密度，这种损伤可能会影响织物的外观、舒适性和性能，甚至造成无法使用。因此，及时发现和处理这些刮擦和损伤对于保护财产和人身安全具有重要意义。
2、力致响应材料是指在受到外界施加力或应力时能够发生可观测的响应或变化的材料。这些材料在力学应力下表现出特定的物理(如光学等)、化学或电学性质的变化，可以用于实现各种功能和应用，其中，力致响应发光材料由于在受力时，能够表现出光学性质的变化或响应更容易被发现或检测到，因此，其在检测领域具有良好的应用前景。然而，到目前为止，力致响应发光材料的形成机理并没有统一的理论，且种类相对力致变色材料等较少，限制了该类材料的实际应用。因此，制备新的力致响应发光材料具有重要意义。
>技术实现思路1、本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种力致响应发光材料，该材料可在力学作用下发生力致变色及力致荧光增强。
2、根据本专利技术的一个方面，提出了一种力致响应发光材料，包含如下结构式化合物：
3、
4、根据本专利技术的一种优选的实施方式，至少具有以下有益效果：通常具有聚集诱导荧光(aie)性质的化合物在聚集态或固态中会表现出较强的光致发光现象(pl)，然而，本专利技术方案材料的初始粉末仅弱发光，但当对其施加作用力(如进行刮擦、剪切等机械力)后，在紫外灯下发出明亮的青色发光，当对其进行溶剂熏蒸(fumed)后，又恢复到初始的发射状态，具有良好的可逆性，可反复使用，在检测等领域具有良好的应用前景。可将上述结构化合物与聚乙烯醇、聚乙二醇等高分子材料制备成力致响应发光材料，从而应用于检测等领域。
5、根据本专利技术的另一个方面，提出了一种化合物在制备力致响应发光材料中的应用，所述化合物的结构式如下：
6、
7、根据本专利技术的再一个方面，提出了上述力致响应发光材料在检测领域中的应用。
8、在本专利技术的一些实施方式中，所述检测包括产品缺陷检测和品质优劣检测。
9、在本专利技术的一些优选的实施方式中，所述产品包括货物、薄膜或织物中的至少一种。
10、货物在运输过程中由于各种原因会发生相互碰撞，刮擦等。有时此类刮擦肉眼难以发现，如果不及时发现，会造成财产的损失，尤其是电脑主机，液晶显示屏和瓷器等精密器件。若将上述力致光响应发光材料初始粉末涂抹在包装盒上，使两个包装盒进行刮擦，在365nm紫外灯下可以观察到刮擦区域有明亮的青色荧光发射，便于检测损伤。
11、薄膜裂纹的检测在生活中也占有举足轻重的地位，可通过静电纺丝技术制备微纳米纤维膜，该微纳米纤维膜能够完全保留初始粉末的全部特性，在365nm的紫外灯下几乎不发光，当用尖物件在微纳米纤维膜上进行刮擦时，在紫外灯下可以明显的观察到微纳米纤维膜上明亮刮擦痕迹。
12、此外，还可用于观察织物拉伸过程中的屈服形变和断裂，通过上述力致光响应可表征织物在拉升过程中伴随的形变和断裂，这不仅可以用于判定织物是否存在缺陷，也可以用于判定织物品质，为后续的实际应用提供了良好的基础。
13、一种产品缺陷或品质等级检测方法，包括如下步骤：将上述力致响应发光材料施加于待检测产品和/或待检测产品包装材料，通过紫外光源作为激发光源照射所述力致响应发光材料，观察荧光强弱判定是否存在缺陷或判定品质等级；其中，所述施加包括施加于表面和/或内部。
14、施加到待测产品表面或内部即可，无需通过光引发聚合等复杂操作，本专利技术方案的检测方法操作简便，检测效率高，可实现批量全自动化检测，具有良好的工业应用前景。
15、对于部分重要货物可以直接施加在包装表面，更好地避免损伤发生。
16、在本专利技术的一些优选实施方式中，所述施加包括涂覆、浸渍、静电纺丝中的至少一种。通过涂覆、浸渍或静电纺丝等操作使力致响应发光材料施加于待测产品表面，操作简便。
17、在本专利技术的一些优选实施方式中，所述紫外光源的波长为320nm～405nm；优选为345nm～385nm；更优选为365nm。
18、在本专利技术的一些优选实施方式中，所述检测方法还包括待检测产品和/或待检测产品包装材料进行熏蒸，使力致响应发光材料恢复到初始的发射状态。利用本专利技术方案材料力致光响应具有可逆性，通过熏蒸后，使其恢复到初始发射状态，从而实现重复利用，实现荧光开关切换效果，尤其对于包装材料，具有该性质可以较大的提升经济效益。
19、在本专利技术的一些优选实施方式中，所述熏蒸采用的溶剂为乙醇、二氯甲烷、四氢呋喃、氯仿或丙酮中的至少一种。易挥发的溶剂均可。
20、在本专利技术的一些实施方式中，所述缺陷包括损伤、裂纹、滑移或形变等。
21、在本专利技术的一些实施方式中，所述缺陷是指由力学引起的缺陷；如刮擦、碰撞等机械外力。
22、在本专利技术的一些实施方式中，所述观察包括肉眼观察、检测装置观察中的至少一种；优选地，所述检测装置包括光谱仪或ccd照相系统中的至少一种。可通过肉眼观察对损伤和裂纹程度进行定性或半定量的检测分析，也可通过光谱仪对损伤和裂纹程度进行全定量检测分析。
23、根据本专利技术的又一个方面，提出了一种应力检测方法，包括如下步骤：包括如下步骤：将上述力致响应发光材料施加于待检测产品，通过机械力作用于所述待检测产品实现力致响应并通过紫外光源作为激发光源照射所述力致响应发光材料，观察荧光强度变化检测应力变化；其中，所述施加包括施加于待检测产品表面和/或内部；优选地，所述施加包括通过涂覆、浸渍、静电纺丝中的至少一种方式施加。
24、根据本专利技术的又一个方面，提出了上述力致响应发光材料在制备玩具、形状记忆材料、抗冲击防护材料、力传感器材料、力学探针材料中的应用。
25、一种材料，包含上述力致响应发光材料；其中，所述材料能够用于制备如下产品中的至少一种：
26、1)玩具；
27、2)形状记忆材料；
28、3)抗冲击防护材料；
29、4)力传感器材料；
30、5)力学探针材料；
31、6)光学开关材料；
32、7)防伪材料本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种力致响应发光材料，其特征在于，包含如下结构式化合物：
2.一种化合物在制备力致响应发光材料中的应用，其特征在于，所述化合物的结构式如下：
3.如权利要求1所述的力致响应发光材料在检测领域中的应用；优选地，所述检测包括产品缺陷检测和品质优劣检测；优选地，所述产品包括货物、薄膜或织物中的至少一种。
4.一种产品缺陷或品质等级检测方法，其特征在于，包括如下步骤：将如权利要求1所述的力致响应发光材料施加于待检测产品和/或待检测产品包装材料，通过紫外光源作为激发光源照射所述力致响应发光材料，观察荧光强弱判定是否存在缺陷或判定品质等级；其中，所述施加包括施加于表面和/或内部；优选地，所述施加包括涂覆、浸渍、静电纺丝中的至少一种。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括待检测产品和/或待检测产品包装材料进行熏蒸，使力致响应发光材料恢复到初始的发射状态；优选地，所述熏蒸采用的溶剂为乙醇、二氯甲烷、四氢呋喃、氯仿或丙酮中的至少一种。
6.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述缺陷包括损伤、裂纹或、滑移或形变；和/或，所述缺陷是指由力学引起的缺陷；优选地，所述力学为机械力，更优选为包括刮擦、碰撞。
7.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述观察包括肉眼观察、检测装置观察中的至少一种；优选地，所述检测装置包括光谱仪或CCD照相系统中的至少一种。
8.一种应力检测方法，其特征在于，包括如下步骤：包括如下步骤：将如权利要求1所述的力致响应发光材料施加于待检测产品，通过机械力作用于所述待检测产品实现力致响应并通过紫外光源作为激发光源照射所述力致响应发光材料，观察荧光强度变化检测应力变化；其中，所述施加包括施加于待检测产品表面和/或内部；优选地，所述施加包括通过涂覆、浸渍、静电纺丝中的至少一种方式施加。
9.如权利要求1所述的力致响应发光材料在制备玩具、形状记忆材料、抗冲击防护材料、力传感器材料、力学探针材料中的应用。
10.一种材料，其特征在于，包含如权利要求1所述的力致响应发光材料；其中，所述材料能够用于制备如下产品中的至少一种：
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【技术特征摘要】
1.一种力致响应发光材料，其特征在于，包含如下结构式化合物：
2.一种化合物在制备力致响应发光材料中的应用，其特征在于，所述化合物的结构式如下：
3.如权利要求1所述的力致响应发光材料在检测领域中的应用；优选地，所述检测包括产品缺陷检测和品质优劣检测；优选地，所述产品包括货物、薄膜或织物中的至少一种。
4.一种产品缺陷或品质等级检测方法，其特征在于，包括如下步骤：将如权利要求1所述的力致响应发光材料施加于待检测产品和/或待检测产品包装材料，通过紫外光源作为激发光源照射所述力致响应发光材料，观察荧光强弱判定是否存在缺陷或判定品质等级；其中，所述施加包括施加于表面和/或内部；优选地，所述施加包括涂覆、浸渍、静电纺丝中的至少一种。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括待检测产品和/或待检测产品包装材料进行熏蒸，使力致响应发光材料恢复到初始的发射状态；优选地，所述熏蒸采用的溶剂为乙醇、二氯甲烷、四氢呋喃、氯仿或丙酮中的至少一种。
6.根据权利要求4所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：马春平，郭乾坤，何继银，林枫源，曹栋栋，谢文阳，刘自慧，黄宝榆，莫锦鹏，谢高艺，
申请(专利权)人：五邑大学，
类型：发明
国别省市：
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