一种缺陷信息控制方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

技术编号:41210187 阅读:23 留言:0更新日期:2024-05-09 23:32
本发明专利技术公开了一种缺陷信息控制方法、系统、电子设备、存储介质及控制终端,包括响应于缺陷信息同步信号,基于待同步的缺陷信息,获取缺陷信息的源地址信息以及目的地址信息;分别对源地址信息以及目的地址信息进行锁定,依次对缺陷信息进行解析,基于定义的映射规则,将解析后的缺陷信息进行映射,以使解析后的缺陷信息与目的地址信息中的缺陷信息规则相匹配;基于目的地址信息,将映射后的缺陷信息进行发送,以使缺陷信息由源地址信息同步至目的地址信息中。通过上述方法,可使不同系统之间的缺陷信息能够及时流转,使不同系统之间的缺陷信息保持一致,减少了沟通成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信,特别是涉及一种缺陷信息控制方法、系统、电子设备、存储介质及控制终端。


技术介绍

1、目前,随着软件规模的日渐扩大,软件缺陷管理越发的重要起来。软件缺陷管理是一个发现、记录、追踪、处理、报告软件缺陷的过程,它是软件开发过程中的一个重要环节,它可以帮助开发团队保持代码的质量并及时修复问题。

2、早期的软件缺陷管理没有缺陷管理工具的支撑,一般是使用电子表格等文本编辑工具进行缺陷的跟踪和管理。当团队规模、项目规模扩展到几十人时,上述的软件缺陷管理方法就暴露出很多的问题,比如缺乏自动化,开发和测试人员需要手动输入、更新和追踪每一个缺陷的信息,非常耗时;协作困难,多个人需要同时访问和编辑同一个表格,会出现版本冲突或数据不一致的问题;难以生成报告、权限管理困难、缺乏追踪能力、无法与其他环节工具集成等。

3、鉴于此,目前软件开发行业内的公司基本都采用了专业化的缺陷管理工具,如pingcode、jira、bugzilla、禅道、redmine、mantisbt等,有的公司出于安全、成本的考虑,自研了缺陷管理系统,如腾讯的tapd、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷信息控制方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,响应于缺陷信息同步信号,基于待同步的缺陷信息,获取所述缺陷信息的源地址信息以及目的地址信息,具体包括:

3.根据权利要求2所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,依次对所述缺陷信息进行解析,具体包括:

4.根据权利要求2所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,响应于缺陷信息同步信号,基于待同步的缺陷信息,获取所述缺陷信息的源地址信息以及目的地址信息之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求3所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,基于定义的映射规则,将解析...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷信息控制方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,响应于缺陷信息同步信号,基于待同步的缺陷信息,获取所述缺陷信息的源地址信息以及目的地址信息,具体包括:

3.根据权利要求2所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,依次对所述缺陷信息进行解析,具体包括:

4.根据权利要求2所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,响应于缺陷信息同步信号,基于待同步的缺陷信息,获取所述缺陷信息的源地址信息以及目的地址信息之前,所述方法还包括:

5.根据权利要求3所述的缺陷信息控制方法,其特征在于,基于定义的映射规则,将解析后的所述缺陷信息进行映射,以使解析后的所述缺陷信息与所述目的地址信息中的缺陷信息规则相匹配,具体包括:

6.根据权利要求5所述的缺陷信息控制方法,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈涛高洪伟吕贵林刘杰
申请(专利权)人:中国第一汽车股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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