一种VCM磁钢的视觉检测方法技术

技术编号:4116898 阅读:504 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一、预先保存所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线;步骤二、采集待测VCM磁钢片的图像信息;步骤三、对待测VCM磁钢片的图像信息进行除噪预处理;步骤四、提取反应轮廓边缘位置的二值图像数据;步骤五、采用8-连通法提取一组有用的反应待测VCM磁钢片轮廓边缘的特征点;步骤六、计算出轮廓最小包围盒的长轴和短轴,初步判断待测VCM磁钢片是属于哪种类型的VCM磁钢片,如计算出的轮廓最小包围盒的长轴和短轴明显偏离所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线的长轴和短轴,则判断该待测VCM磁钢片为不合格品。与现有技术相比,本发明专利技术的优点在于:方法简便,运行可靠、测量精度高、检测速度快。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种VCM磁钢的视觉检测方法。
技术介绍
VCM (Voice Circuit Motor音圈电机)磁钢片是计算机中驱动硬盘驱动器 HDD(HardDisk Drive硬盘驱动器)读写磁头移动的音圈电机中的永磁体磁钢片,其质量 是保证计算机硬盘驱动器生产的重要条件。随着计算机技术及硬件的不断进步,对VCM磁 钢片产品的质量要求越来越高。除了严格的材质、加工工艺、物理化学特性以外,尺寸精度 已成为必不可少的技术指标,对VCM磁钢片轮廓尺寸进行实时检测是非常重要的。传统的 检测方法主要有最大最小模板法、光学投影法或三坐标测量法。最大、最小模板法是目前国 内许多企业常用的一种全检方法,它是根据已有VCM磁钢片类型的设计尺寸制作成最大最 小形状模板进行人工检测,这种检测方法不能适应现代工业高速发展的要求;还有一种方 法,是通过光学投影法是将VCM磁钢片放大后依靠人眼通过影屏进行瞄准测量,这种检测 方法存在主观误差大,检测速度慢的缺点;三坐标测量法是用三坐标测量仪进行非接触式 测量的方法,测量精度较高,但也存在检测速度慢,信息量少的缺点;光学投影法和三坐标 测量法只能用作抽检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于:包括以下步骤    步骤一、预先保存所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线;    步骤二、采集待测VCM磁钢片的图像信息;    步骤三、将步骤二中采集到的待测VCM磁钢片的图像信息进行除噪预处理;步骤四、提取经过步骤三预处理后图像信息的反应轮廓边缘位置的二值图像数据;    步骤五、在步骤四得到的二值图像数据的基础上,采用8-连通法提取一组有用的反应待测VCM磁钢片轮廓边缘的特征点,并排列成有序的第一点集P↓[1]=[P↓[0]……P↓[n]];    步骤六、根据步骤五得到的第一点集中,计算采集到的待测VCM磁钢片轮廓边缘任意两点间的直线距离,找出轮...

【技术特征摘要】
一种VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于包括以下步骤步骤一、预先保存所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线;步骤二、采集待测VCM磁钢片的图像信息;步骤三、将步骤二中采集到的待测VCM磁钢片的图像信息进行除噪预处理;步骤四、提取经过步骤三预处理后图像信息的反应轮廓边缘位置的二值图像数据;步骤五、在步骤四得到的二值图像数据的基础上,采用8-连通法提取一组有用的反应待测VCM磁钢片轮廓边缘的特征点,并排列成有序的第一点集P1=[P0……Pn];步骤六、根据步骤五得到的第一点集中,计算采集到的待测VCM磁钢片轮廓边缘任意两点间的直线距离,找出轮廓线上距离最远的两点Pi(xi,yi)和Pj(xj,yj),即为轮廓最小包围盒的长轴,其中0≤i≤n,0≤j≤n;然后以PiPj两点为横轴进行坐标变换,将轮廓曲线摆正,然后用水平线从上下两个方向进行扫描,水平扫描线与轮廓曲线首次出现交点的纵坐标之差为轮廓最小包围盒的短轴长度;然后根据计算出轮廓最小包围盒的长轴和短轴,与步骤一中预先保存的所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线进行比对,初步判断待测VCM磁钢片是属于哪种类型的VCM磁钢片,如果计算出的轮廓最小包围盒的长轴和短轴明显偏离所有类型VCM磁钢片的标准轮廓曲线的长轴和短轴,则判断该待测VCM磁钢片为不合格品。2. 根据权利要求1所述的VCM磁钢的视觉检测方法,其特征在于在所述步骤六后还包括以下步骤步骤七、在第一点集^中提取有用的特征点、剔除伪特征点,从而形成第二点集&,该 二点集P2为第一点集Pi的子集,在判断第一点集Pi中某一特征点Pi是否为有用特征点时,其中0《i《...

【专利技术属性】
技术研发人员:张舜德李延芳姚晋丽李燕
申请(专利权)人:宁波大红鹰学院
类型:发明
国别省市:97[中国|宁波]

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