用于ＤＦＢ／ＦＰ激光器的测试治具制造技术

一种用于ＤＦＢ／ＦＰ激光器的测试治具，包括一测试板，该测试板设有一插装区，该插装区的平面上布设有供与待测产品的下引脚插接的若干插槽；还包括热沉板及散热片；所述热沉板为板状体，热沉板位于测试板的上方，并与测试板固定连接；并且，该热沉板上对应各插槽设有供待测产品的下引脚穿过的插孔；所述散热片为一块或一组板状体，散热片位于热沉板的上方，并与热沉板经紧固件固定连接；并且，所述一块或一组散热片上对应各插孔设有供待测产品的上端部嵌入的透光孔；以此，构成热沉板、散热片与待测产品相接触的散热结构。本方案解决了现有技术测试效率低、测试数据准确性不高、及良品率低下的问题。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光电子器件领域，涉及分布式反馈激光器(Distributed Feedback Laser，缩写DFB)和法布里·珀罗激光器(Fabry Perot Laser，缩写FP)在封装 完成后进行性能测试用的测试治具；该治具用于DFB/FP激光器在模拟工作温度环境下进 行性能及老化测试。
技术介绍
分布式反馈激光器(Distributed Feedback Laser，缩写DFB)和法布里·珀罗激 光器(Fabry Perot Laser，缩写FP)在晶体管型外壳封装(Transistor outline，缩写TO) 完成后，需要先做光电流电压测试(light-current-voltage，缩写LIV)，由于DFB/FP激光 器的阈值电流和输出功率对温度变化相当敏感，为避免温度影响测试准确性问题，在做光 电流电压测试时，必须稳定DFB/FP激光器的工作环境温度在25士0. 5以便控制和稳定 DFB/FP激光器的输出光波长，从而避免由于环境温度的波动而造成激光器输出信号的光波 长偏离到合波器或分波器的滤波带宽之外。光电流电压测试完成后，筛选出符合要求的产 品再进行老化测试(Bu本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于ＤＦＢ／ＦＰ激光器的测试治具，包括一测试板（１），该测试板（１）设有一插装区，该插装区的平面上布设有供与待测产品（２）的下引脚（１３）插接的若干插槽（３）；其特征在于：还包括热沉板（７）及散热片（８）；所述热沉板（７）为板状体，热沉板（７）位于测试板（１）的上方，并与测试板（１）固定连接；并且，该热沉板（７）上对应各插槽（３）设有供待测产品（２）的下引脚（１３）穿过的插孔（９）；所述散热片（８）为一块或一组板状体，散热片（８）位于热沉板（７）的上方，并与热沉板（７）经紧固件固定连接；并且，所述一块或一组散热片（８）上对应各插孔（９）设有供待测产品（２）的上端部（１４）嵌入的透光孔（１０...

【技术特征摘要】
一种用于DFB/FP激光器的测试治具，包括一测试板(1)，该测试板(1)设有一插装区，该插装区的平面上布设有供与待测产品(2)的下引脚(13)插接的若干插槽(3)；其特征在于还包括热沉板(7)及散热片(8)；所述热沉板(7)为板状体，热沉板(7)位于测试板(1)的上方，并与测试板(1)固定连接；并且，该热沉板(7)上对应各插槽(3)设有供待测产品(2)的下引脚(13)穿过的插孔(9)；所述散热片(8)...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈麒，邓福坪，曹琴华，
申请(专利权)人：众达光通科技苏州有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[]