一种ＰＲＯＭ的测试系统技术方案

本发明专利技术适用于测试技术领域，提供了一种ＰＲＯＭ的测试系统，包括电源、第一逆变电路、第二逆变电路、第三逆变电路、第一开关电路、第二开关电路、第三开关电路、待测ＰＲＯＭ、微控制单元ＭＣＵ，系统还包括：与微控制单元ＭＣＵ连接，用于将微控制单元ＭＣＵ输出的数字电压值转换成模拟电压值的数模转换电路ＤＡＣ。本发明专利技术，通过ＭＣＵ输出的电压值调节第一逆变电路、第二逆变电路和第三逆变电路输出的电压值至符合ＰＲＯＭ测试条件的电压值，可进行单元耐压测试、灵敏放大器和未编程单元漏电测试、最大和最小工作电压下稳定性检测和可编程余量测试，通过不同的测试，可以筛选出ＰＲＯＭ的次品，能极大提高公司产品品质，改善ＰＲＯＭ芯片性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测试
，尤其涉及一种PROM的测试系统。
技术介绍
测试覆盖率和测试时间是一般的半导体器件，特别是一次可编程存储器产品进行 测试的两大重要方面。现有的对可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory, PROM)的测试比 较简单，具体的测试系统如图1所示，主要包括电源11、第一逆变电路12、第二逆变电路 13、微控制单元MCU 14、第一开关电路15、第二开关电路16、待测PROM 17以及电压调节器 18。通过第一开关电路15和第二开关电路16分别控制第一逆变电路12输出的编程电压 VPP和第二逆变电路13输出的工作电压VDD后，将VPP和VDD分别输出至待测I3ROM 17，微 控制单元MCU 14即可对待测PROM 17进行查空、编程以及读出功能的测试。综上可知，现有技术提供的测试系统不能调整输出至待测PROM的工作电压和编 程电压，因此只能对PROM进行查空、编程以及读出功能的测试，而对PROM测试覆盖率的一 些相关特性无法测试，所以成品率比较低，大约80%。另外，由于没有对灵敏放大器和己编 程单元的余量测试，致使可靠性不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＰＲＯＭ的测试系统，包括电源、与所述电源连接的第一逆变电路、第二逆变电路和第三逆变电路、与所述第一逆变电路连接的第一开关电路、与所述第二逆变电路连接的第二开关电路、与所述第三逆变电路连接的第三开关电路、与所述第一开关电路、第二开关电路和第三开关电路的输出端连接的待测ＰＲＯＭ、与所述待测ＰＲＯＭ连接的微控制单元ＭＣＵ，其特征在于，所述系统还包括：与所述微控制单元ＭＣＵ连接，用于将所述微控制单元ＭＣＵ输出的数字电压值转换成模拟电压值的数模转换电路ＤＡＣ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭文堂，刘云龙，李洛宇，练奕龙，徐建强，周锦，刘芳芳，
申请(专利权)人：深圳市国微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]