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本发明适用于测试技术领域，提供了一种ＰＲＯＭ的测试系统，包括电源、第一逆变电路、第二逆变电路、第三逆变电路、第一开关电路、第二开关电路、第三开关电路、待测ＰＲＯＭ、微控制单元ＭＣＵ，系统还包括：与微控制单元ＭＣＵ连接，用于将微控制单元ＭＣＵ...
该专利属于深圳市国微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市国微电子股份有限公司授权不得商用。

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