本发明专利技术公开了一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。本发明专利技术的内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造成破坏，另外，还具有成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的特点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种内存条测试装置。
技术介绍
在现今信息化爆炸的时代，个人计算机的使用已经与日俱增。内存条作为计算机 的重要组成部分，其生产和测试显得尤为重要。一般而言，内存条在测试的过程中，通常会 将待测内存条插入测试装置主板的内存条插槽中模拟内存条在实际中的使用情况来进行 测试，由于主板上内存条插槽是相对于主板载板是凸起来的，且两个内存条插槽间有一间 隙，使得内存条在插入测试装置的内存条插槽的过程中，很容易将其误插入两个内存条插 槽的间隙里，从而使得内存条上金手指与内存条插槽外壳发生摩擦，破坏了金手指表面的 镀层，影响内存条的质量；另一方面，在进行多次的插拔内存条的测试后，内存条插槽经常 受力不均发生倾斜，久而久之使得内存条插槽与主板间极可能产生接触不良的现象，会影 响测试的精确度或结果，严重时内存条插槽会从主板上脱落，进而损坏测试主板。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的内存条测试装置。本专利技术的技术方案是一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上 的内存条插槽，其特征在于其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存 条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。优选的，所述限位块包括与所述测试主板连接的连接端，以及多个从所述连接端 向内延伸的限位柱，所述限位柱包括插入内存条插槽内的第一限位柱，和插入相邻内存条 插槽之间的第二限位柱，所述第一限位柱和第二限位柱间隔分布。优选的，所述限位块为“山”字形，其一端固定在所述限位底板上，另一端包括三个 由固定端向内延伸的限位柱，两侧限位柱插入到内存条插槽内，中间限位柱伸到两个内存 条插槽之间。优选的，所述限位底板有数个便于固定连接在测试主板上的螺丝孔。本专利技术的内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底 板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造 成破坏，另外，还具有成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的特点。附图说明图1是本专利技术较佳实施例内存条测试装置的结构示意图；图2是本专利技术较佳实施例内存条测试装置的限位底板结构示意图。图3是本专利技术较佳实施例内存条测试装置的左右限位块的结构示意图。图4是本专利技术较佳实施例内存条测试装置所配置的主板内存条插槽的结构示意3图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术具体实施方式作进一步详细的描述。如图1、图2、图3和图4所示，本专利技术较佳实施例中的内存测试装置100包括一限 位底板110和分别垂直安装在限位底板110左右两端的限位块120。限位底板110上有两 个用于安装测试主板的第一内存条插槽410和第二内存条插槽430的第一通孔140和第二 通孔150 ；必须了解，主板420是计算机系统或测试系统的主板。主板420上的第一内存条 插槽410和第二内存条插槽430穿过第一通孔140和第二通孔150后，内存测试装置100用 螺丝(未图示)分别通过四个螺丝固定孔160固定配置在主板420上。限位块120整体呈 “山”字形状，其一端有向内延伸的限位柱210、220和230，限位块120另一端通过螺丝(未 图示)与限位底板110固定后，限位柱210伸到第一内存条插槽410插槽内，限位柱230伸 到第二内存条插槽430插槽内，限位柱220伸到第一内存条插槽410和第二内存条插槽430 之间。根据本专利技术的专利技术构思，本领域普通技术人员很容易想到在限位块上设置多个相 互间隔设置的插入内存条插槽的限位柱，和插入相邻两内存条间隙的限位柱。以上实施例仅为本专利技术实施方式的一种，其描述较为具体和详细，但并不能因此 而理解为对本专利技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不 脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。因 此，本专利技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。权利要求一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。2.根据权利要求1所述的内存条测试装置，其特征在于所述限位块包括与所述测试 主板连接的连接端，以及多个从所述连接端向内延伸的限位柱，所述限位柱包括插入内存 条插槽内的第一限位柱，和插入相邻内存条插槽之间的第二限位柱，所述第一限位柱和第 二限位柱间隔分布。3.根据权利要求1或2所述的内存条测试装置，其特征在于所述限位块为“山”字形， 其一端固定在所述限位底板上，另一端包括三个由固定端向内延伸的限位柱，两侧限位柱 插入到内存条插槽内，中间限位柱伸到两个内存条插槽之间。4.根据权利要求1所述的内存条测试装置，其特征在于所述限位底板有数个便于固 定连接在测试主板上的螺丝孔。全文摘要本专利技术公开了一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。本专利技术的内存条测试装置由于在测试主板的内存条插槽周围设置了一个限位底板和限位块，该定位结构防止内存条在测试过程中反复插入内存条插槽而对内存条插槽造成破坏，另外，还具有成本低廉，结构简单稳定，使用寿命长的特点。文档编号G11C29/56GK101833998SQ201010116929公开日2010年9月15日 申请日期2010年3月2日 优先权日2010年3月2日专利技术者郭志刚 申请人:正文电子(苏州)有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种内存条测试装置，包括测试主板，位于所述测试主板上的内存条插槽，其特征在于：其还包括限位底板，所述限位底板上设置有数个用于收容内存条插槽的通孔，所述通孔左右两端分别垂直安装有限位块。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郭志刚，
申请(专利权)人：正文电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]
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