大米加工精度的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种大米加工精度的检测方法，属于大米加工技术领域，主要采用如下步骤：（１）米粒取样：对加工前米粒以及加工后米粒的取样；（２）取样米粒的整理：剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；（３）取样米粒的称重：称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加工后取样米粒的重量；（４）大米加工精度的计算，计算公式如下：ＭＤｒ＝Ｗｒ／Ｗｂ，式中：ＭＤｒ—加工后米粒的加工精度；Ｗｂ—单位数量的加工前取样米粒的重量；Ｗｒ—单位数量的加工后取样米粒的重量。本发明专利技术的技术效果在于检验步骤简单明确，可以通过量化的数值来反映大米的加工精度，有利于生产管理及研究。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及大米加工
，尤其涉及大米加工精度的检测。
技术介绍
现有的大米加工精度的检验，一般按照国家标准《大米GB1354-2009》，主要有以下 几种方法1.直接比较法利用米类与相应的加工精度等级标准样品对照比较，通过观测判定加 工精度等级。2.染色法利用大米各不同组织成分对各种染色基团分子的亲和力不同，经染色 处理后，米粒各组织呈现不同的颜色，从而判定大米的加工精度。.上述两种方法主要存在如下缺点直接比较法和染色法，是一种定性检测，主观性强、 随意性大、准确性不高和效率低。除上述方法外，还有以下见报道的方法化学方法，如磷含量分析法、脂肪萃取法 等；光电法；计算机图像识别法，如染色图象识别法(其原理实质认为染色法)、透射图象识 别法等、光谱分析检测法等等。这些检测方法所需要的检验仪器(设备)复杂、投入较高、对 检验人员的操作要求高、检验程序复杂、耗时较长等，而且除直接对比法外，其他方法的检 验样品无法回收而只能作为废弃物。在实际生产中各工厂广泛将成品出米率(以稻谷或糙米为基数)作为一项重要的 技术经济指标，而现有上述的检测方法无法进行与成品出米率的量化关联研究，无法对实 际生产起到很好的指导作用。同时现有检测方法主要针对成品大米，而不适合加工过程中 的中间产品的加工精度检测。
技术实现思路
针对现有技术存在的上述不足，申请人公开了一种，检 测成本低且检测效率高，检测操作简单方便。本专利技术所采用的技术方案如下 本专利技术采用如下步骤检验(1)、米粒取样对加工前米粒以及加工后米粒的取样；(2)、取样米粒的整理剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；(3)、取样米粒的称重称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加 工后取样米粒的重量；(4)、大米加工精度的计算，计算公式如下 MDr=ffr/ffb式中MDr—加工后米粒的加工精度；Wb—单位数量的加工前取样米粒的重量；Wr_单位数量的加工后取样米粒的重量。进一步地技术方案是上述加工前米粒为糙米，加工后米粒为半成品米。本法明的技术效果在于检测成本低且检测效率高，检验步骤简单明确，可以通过 量化的数值来反映大米的加工精度，有利于生产管理及研究。具体实施例方式大米加工的过程就是将糙米皮层碾去，并达到某个精度要求。一般大米加工厂的 加工采用一机出米、或二机出米、或三机出米甚至更多机出米等不同工艺流程。每一道表皮 碾除，糙米颗粒的重量就相应减少一些。本专利技术的思路是根据糙米、不同的半成品米(指已 被碾去部分皮层、但尚未达到精度要求的糙米)、成品大米(指达到精度要求)各自的单位数 量颗粒的重量变化，检验大米的加工精度。前述的一机或多机出米指通过一道或多道碾米 机加工出米，碾米机的道数越多，大米的加工精度越高，碾米机及其具体加工工序为本领域 的公知技术。实施例1为测定成品大米加工精度的具体实施步骤 步骤一取样分别提取约500至1000克的糙米及成品大米样品。糙米样品的提取位置在头道碾米 机入料口前，成品大米样品的提取位置在最后一道碾米机或抛光机出料口处。步骤二 对取样样品进行整理步骤2. 1，按GB/T5494的规定去除样品中的杂质、不完善米粒等，具体步骤如下 每次取试样约100克放入直径1. Omm圆孔筛内，用电动筛选器法或手筛法进行筛选。 其中电动筛选器法如下按GB/T5494中规定的筛层套好(大孔筛在上，小孔筛在下，套上筛 底)，按规定取试样放入筛上，盖上筛盖，放在电动筛选器上，接通电源，打开开关，选筛速度 为llOr/min—120r/min，筛后静止片刻，筛后轻拍筛子使糠粉落入筛底，将筛上物和筛下物 分别倒入分析盘内，卡在筛孔中间的颗粒属于筛上物，从中捡出稻谷粒、带壳稗粒及其他杂 质等。上述筛选步骤也可用手筛法代替，具体步骤如下按电动筛选器法将筛层套好，倒 入试样，盖好筛盖。然后将筛选器放在玻璃板或光滑的桌面上，用双手以Iio次/ min-120次/ min的速度，按顺时针和反时针方向各筛动lmin，筛动的范围掌握在选筛直径扩大 Scm-IOcm0筛后的操作与电动筛选器法相同。步骤2. 2，按GB/T 5503的规定去除样品中的碎粒(1)小碎粒的捡出先由上至下将2. OmmU. Omm的筛和筛底套装好，再将约100克试样 置于直径2. Omm圆孔筛内，盖上盖，安装于电动筛选器(转速IlOr/ min—120r/ min，可自动 控制以lmin为间隔顺时针和逆时针个转动1次)上进行自动筛选，或将安装好的谷物筛选 器置于光滑平面上，用双手以约lOOr/min左右的速度，顺时针及逆时针方向个转动1 min， 控制转动范围在选筛直径的基础上扩大约8cm— 10cm。(2)大碎粒的捡出将捡出的小碎粒留存于2. Omm圆孔筛上，将卡在筛孔中的颗粒 倒入碎米分离器，根据粒型调整碎米斗的倾斜角度，使分离效果最佳，分离2min。将初步分 离出的整粒和碎粒分别倒入分析盘中，用木棒轻轻敲击分离筒，将残留在分离筒中的颗粒并入碎粒中，拣出碎粒中不小于整粒平均长度3/4的颗粒并入整粒，拣出整粒中小于整粒 平均长度3/4的颗粒并入碎粒。在缺少碎米分离器的情况下，可将2. Omm圆孔筛上的颗粒连同卡在筛孔中的颗粒 倒入分析盘中，手工拣出小于整粒平均长度3/4的颗粒。步骤2. 3，按GB5491的规定进行分样，即四分法或分样器法。四分法将样品倒在光滑平坦的桌面上或玻璃板上，用两块分样板将样品摊成正 方形，然后从样品左右两边铲起样品约IOcm高，对准中心同时倒落，再换一个方向同样操 作(中心点不动)，如此反复混合四、五次，将样品摊成等厚的正方形，用分样板在样品上划 两条对角线，分成四个三角形，取出其中两个对顶三角形的样品，剩下的样品再按上述方法 反复分取，直至最后剩下的两个对顶三角形的样品接近所需试样总量(30—50克)为止。分样器法将清洁的分样器放稳，关闭漏斗开关，放好接样斗，将样品从高于漏斗 口约5cm处倒入漏斗，刮平样品，打开漏斗开关，待样品流尽后，轻拍分样器外壳，关闭漏斗 开关，再将两个接样斗内的样品同时倒入漏斗内，继续照上法重复混合两次。以后每次用 一个接样斗内的样品按上述方法继续分样，直至一个接样斗内的样品接近所需试样总量 (30—50克)为止。通过该步骤得到为完整粒的糙米试样及成品大米试样。步骤三称重按GB/T5519-2008的规定测定单倍千粒重、或数倍千粒重。以谷粒计数器计数、或手工计数或它们相结合的方法得到千粒或数倍千粒糙米及 成品大米后，称重并记录其单位数量颗粒重Wb及Wr，以克为单位，保留到小数点后一位以 上。本步骤的称重也可以根据实际情况取米粒的其他整数倍。该步骤使用的仪器设备有(1)自动数粒仪，(2)天平，分度值O.Olg，(3)表面皿、 分析盘、镊子。步骤四结果计算根据测得的单位数量颗粒重Wb及Wr，按照公式MDr=Wr/Wb，得到成品大米加工精度MDr 值，保留到小数点后二位以上。实施例2 以本专利技术方法测定糙米及中间米品加工精度的具体实施步骤 步骤1 分别提取足够重量的糙米及某个第η道糙米中间品。糙米的提取位置在头道碾米机入料口前，糙米中间品的提取位置在相应的第η道 碾米机或抛光机出料口处。步骤2 同实施例1之步骤2。通过该步骤得到为完整粒的糙米试样及糙米中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大米加工精度的检测方法，其特征在于检测步骤如下：（１）、米粒取样：对加工前米粒以及加工后米粒的取样；（２）、取样米粒的整理：剔除取样米粒中的杂质以及不完整米粒；（３）、取样米粒的称重：称取单位数量的加工前取样米粒的重量以及加工后取样米粒的重量；（４）、大米加工精度的计算，计算公式如下：ＭＤｒ＝Ｗｒ／Ｗｂ式中：ＭＤｒ－加工后米粒的加工精度；Ｗｂ－单位数量的加工前取样米粒的重量；Ｗｒ－单位数量的加工后取样米粒的重量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵永进，方辉，邓小春，韩赟，黄海军，华钦，
申请(专利权)人：国家粮食储备局无锡科学研究设计院，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]