【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及基于辐射信号的发射和接收的用于细长结构的损伤检测系统以及监测安全结构或货架臂的状况的方法。
技术介绍
技术实现思路
1、根据本公开的第一方面，提供了一种损伤检测系统，其包括：
2、细长结构，其中该细长结构是或者包括安全结构或货架臂；
3、辐射发射器，该辐射发射器被配置为：在内部向该细长结构并沿着该细长结构的长度发射辐射信号；
4、辐射传感器，该辐射传感器被配置为：接收该辐射信号并响应地输出传感信号；以及
5、控制器，该控制器被配置为：
6、从该辐射传感器接收该传感信号；
7、基于该传感信号来确定该细长结构的损伤状态；以及
8、输出代表该损伤状态的损伤信号。
9、辐射传感器可以与辐射发射器共定位，并且该辐射传感器可以被配置为：接收辐射信号作为反射辐射信号。
10、辐射传感器可以被配置为：当细长结构处于未损伤状态时，从参考反射表面接收反射辐射信号。
11、参考反射表面可以包括以下中的任一者或多者：
12、沿着细长结构的长度定位的反射器的表面；
13、细长结构的端面；以及
14、第二结构的与细长结构的一端邻接的表面。
15、参考反射表面可以是漫反射表面或镜面反射表面。
16、辐射发射器和/或辐射传感器可以定位在细长结构的第一端处。
17、参考反射表面可以定位在细长结构的第二端处。
18、损
19、损伤检测系统可以包括沿着细长结构的长度依次定位的多个辐射发射器和辐射传感器对。每个辐射传感器可以与其对应的辐射发射器共定位。每个辐射传感器可以被配置为：接收由对应的发射器发射并从对应的参考反射表面反射的辐射信号。控制器可以被配置为：从辐射传感器中的每个辐射传感器接收传感信号并且基于该传感信号来确定损伤状态。
20、辐射发射器和辐射传感器可以沿着细长结构的轴线分开一定的轴向距离，其中辐射传感器的传感表面面向该辐射发射器。
21、辐射发射器可以定位在细长结构的第一端处。辐射传感器可以定位在细长结构的第二端处。
22、损伤检测系统可以包括沿着细长结构的长度依次定位的多个辐射发射器和辐射传感器对。每个辐射传感器可以沿着细长结构的轴线与其对应的辐射发射器在空间上分开。每个辐射传感器可以被配置为：接收由对应的辐射发射器发射的辐射信号。控制器可以被配置为：从辐射传感器中的每个辐射传感器接收传感信号并且基于该传感信号来确定损伤状态。
23、控制器可以被进一步配置为：
24、接收触发信令；以及
25、响应于该触发信令而选择性地激活辐射发射器和辐射传感器并接收传感信号。
26、触发信令可以包括用于根据监测时间表选择性地激活损伤检测系统的周期性触发信号。
27、触发信令可以包括响应于以下项的来自触发传感器的按需信号：
28、物体在细长结构的预定半径内的运动；和/或
29、物体与细长结构的碰撞。
30、辐射发射器可以包括光学辐射发射器。辐射传感器可以包括光学辐射传感器。
31、辐射发射器可以包括激光源。
32、辐射发射器可以包括超声源。辐射传感器可以包括超声传感器。
33、辐射传感器可以包括多个像素的辐射传感器阵列。
34、每个像素可以被配置为从细长结构的子体积接收辐射信号。
35、辐射发射器可以被配置为沿着细长结构的空腔发射辐射信号。
36、损伤状态可以包括以下中的一者或多者：
37、细长结构的损伤状态；
38、细长结构的损伤水平；
39、损伤部位的横向位置；
40、损伤部位的轴向位置；和/或
41、细长结构的组装状态。
42、损伤状态可以包括损伤或未损伤的值。
43、控制器可以被配置为：基于传感信号的功率水平特性和/或时间特性的变化来确定损伤状态。
44、控制器可以被配置为：当细长结构处于组装且未损伤状态时，基于传感信号与对应于该传感信号的参考传感信号之间的信号差来确定损伤状态。
45、参考传感信号可以对应于辐射信号从参考反射表面的反射。
46、控制器可以被配置为：接收参考传感信号作为校准例程的一部分。
47、控制器可以被配置为：基于信号差是否超过一个或多个条件阈值来确定损伤状态。
48、控制器可以被配置为：基于传感信号的飞行时间特性来确定损伤部位的轴向位置。
49、每个像素可以被配置为：基于接收到的辐射信号来输出子传感信号。控制器可以被配置为：
50、基于表现出超过检测阈值的功率特性和/或时间特性的变化的多个子传感信号来确定损伤水平；及/或
51、基于子传感信号表现出超过检测阈值的功率特性和/或时间特性的变化来确定损伤部位的横向位置。
52、损伤检测系统可以进一步包括听觉指示器和/或视觉指示器。控制器可以被配置为：通过激活听觉指示器和/或视觉指示器来输出损伤信号。
53、控制器可以被配置为：通过将损伤信号发送到外部装置来输出损伤信号。
54、控制器可以与辐射传感器共定位。控制器可以经由网络耦接至辐射传感器。控制器可以包括分布在与辐射传感器共定位或者经由网络耦接至辐射传感器之间的多个处理器。
55、损伤检测系统可以进一步包括：
56、多个辐射发射器，每个辐射发射器被配置为：在内部向对应的细长结构并沿着该对应的细长结构的长度发射辐射信号；
57、多个辐射传感器，每个辐射传感器被配置为：接收对应的辐射信号并输出对应的传感信号；
58、多个收发器，每个收发器耦接至该辐射传感器；以及
59、服务器，该服务器被配置为：与该多个收发器中的每个收发器通信。
60、根据本公开的第二方面，提供了一种监测安全结构或货架臂的状况的方法，该方法包括：
61、在内部向细长结构并沿着该细长结构的长度发射辐射信号；
62、接收该辐射信号并响应地输出传感信号；
63、基于该传感信号来确定该细长结构的损伤状态；以及
64、输出代表该损伤状态的损伤信号。
65、根据本公开的第三方面，提供了一种损伤检测系统，其包括：
66、壳体，该壳体被配置为耦接至细长结构，其中该细长结构包括安全结构或货架臂，该壳体包括：
67、辐射发射器，该辐射发射器被配置为：在内部向该细长结构并沿着该细长结构的长度发射辐射信号；以及
68、辐射传感器，该辐射传感器被配置为：接收该辐射信号并响应地输出传感信号；以及
69本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种损伤检测系统，其包括：
2.根据权利要求1所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器与所述辐射发射器共定位，并且所述辐射传感器被配置为：接收所述辐射信号作为反射辐射信号。
3.根据权利要求2所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器被配置为：当所述细长结构处于未损伤状态时，从参考反射表面接收所述反射辐射信号。
4.根据权利要求3所述的损伤检测系统，其中所述参考反射表面包括以下中的任一者或多者：
5.根据权利要求3或权利要求4所述的损伤检测系统，其中所述参考反射表面为漫反射表面或镜面反射表面。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的损伤检测系统，其包括：多个参考反射表面，所述多个参考反射表面对应于沿着所述细长结构的长度定位在内侧壁上的多个参考反射器。
7.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其包括：多个辐射发射器和辐射传感器对，所述多个辐射发射器和辐射传感器对沿着所述细长结构的所述长度依次定位，其中：
8.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被进一步配置为：
9.根据
10.根据权利要求8或权利要求9所述的损伤检测系统，其中所述触发信令包括响应于以下项的来自触发传感器的按需信号：
11.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述辐射发射器包括光学辐射发射器，并且所述辐射传感器包括光学辐射传感器。
12.根据权利要求11所述的损伤检测系统，其中所述辐射发射器包括激光源。
13.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器包括多个像素的辐射传感器阵列。
14.根据权利要求13所述的损伤检测系统，其中每个像素被配置为：从所述细长结构的子体积接收所述辐射信号。
15.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述辐射发射器被配置为：沿着所述细长结构的空腔发射所述辐射信号。
16.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述损伤状态包括以下中的一者或多者：
17.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被配置为：基于所述传感信号的功率水平特性和/或时间特性的变化来确定所述损伤状态。
18.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被配置为：当所述细长结构处于组装且未损伤状态时，基于所述传感信号与对应于所述传感信号的参考传感信号之间的信号差来确定所述损伤状态。
19.根据权利要求18所述的损伤检测系统，其中所述控制器被配置为：基于所述信号差是否超过一个或多个条件阈值来确定所述损伤状态。
20.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被配置为：基于所述传感信号的飞行时间特性来确定损伤部位的轴向位置。
21.根据权利要求13或权利要求14或从属于其的任一权利要求所述的损伤检测系统，其中：
22.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其进一步包括听觉指示器和/或视觉指示器，其中所述控制器被配置为：通过激活所述听觉指示器和/或视觉指示器来输出所述损伤信号。
23.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被配置为：通过将所述损伤信号发送到外部装置来输出所述损伤信号。
24.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其进一步包括：
25.一种监测细长结构的状况的方法，其中所述细长结构是安全结构或货架臂，所述方法包括：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种损伤检测系统，其包括：
2.根据权利要求1所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器与所述辐射发射器共定位，并且所述辐射传感器被配置为：接收所述辐射信号作为反射辐射信号。
3.根据权利要求2所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器被配置为：当所述细长结构处于未损伤状态时，从参考反射表面接收所述反射辐射信号。
4.根据权利要求3所述的损伤检测系统，其中所述参考反射表面包括以下中的任一者或多者：
5.根据权利要求3或权利要求4所述的损伤检测系统，其中所述参考反射表面为漫反射表面或镜面反射表面。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的损伤检测系统，其包括：多个参考反射表面，所述多个参考反射表面对应于沿着所述细长结构的长度定位在内侧壁上的多个参考反射器。
7.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其包括：多个辐射发射器和辐射传感器对，所述多个辐射发射器和辐射传感器对沿着所述细长结构的所述长度依次定位，其中：
8.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述控制器被进一步配置为：
9.根据权利要求8所述的损伤检测系统，其中所述触发信令包括用于根据监测时间表选择性地激活所述损伤检测系统的周期性触发信号。
10.根据权利要求8或权利要求9所述的损伤检测系统，其中所述触发信令包括响应于以下项的来自触发传感器的按需信号：
11.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述辐射发射器包括光学辐射发射器，并且所述辐射传感器包括光学辐射传感器。
12.根据权利要求11所述的损伤检测系统，其中所述辐射发射器包括激光源。
13.根据任一前述权利要求所述的损伤检测系统，其中所述辐射传感器包括多个像素的辐射传感器阵列。
【专利技术属性】
技术研发人员：大卫·埃德加，马修·沃伊，米洛斯·博齐克，
申请(专利权)人：思瑞史密斯集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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