印刷电路板测试辅助设备和印刷电路板测试辅助方法技术

本发明专利技术公开了印刷电路板测试辅助设备和印刷电路板测试辅助方法。该印刷电路板测试辅助设备包括：输入部分，被输入布线图案的属性信息；劣化程度处理部分，基于与输入到输入部分的属性信息相对应的布线图案的位置信息、图案移除区域的位置信息和尺寸信息以及劣化程度信息，获得与输入到输入部分的属性信息相对应的布线图案的信号特性的劣化程度；以及提取处理部分，从劣化程度已被劣化程度处理部分获得了劣化程度的布线图案中提取劣化程度等于或大于预定程度的布线图案以用于实际测量测试。

【技术实现步骤摘要】

这里讨 论的实施例涉及印刷电路板测试辅助设备、印刷电路板测试辅助方法和计 算机可读信息记录介质。
技术介绍
对于用于电子设备的印刷电路板来说，高密度安装(其中要安装的电子器件的数 目增大)已得到发展，且印刷电路板被微型化，等等。随着高密度安装的进步，电流的路径已变得复杂，因而布线中的阻抗失配或串扰 (crosstalk)的问题等等变得很容易发生。因此，对于这种高密度安装的印刷电路板，需要 更先进的电路设计。对于这种其上执行高密度安装的印刷电路板，可以执行确认布线结构的工作。然 而，由于工作量很大，因此已提出了辅助设计者的各种设备。例如，已提出了一种计算适当 的布线结构的设备、一种具有要用于测量的布线图案(wiring pattern)的印刷电路板，等寸。日本早期公开专利申请No.2001-331539日本早期公开专利申请No.2001-217508在上述高密度安装中，用于确认印刷电路板上的布线结构等的工作量进一步变 大，并且成本和时间因此变得相当可观。因此，在制造了印刷电路板之后，可能难以对所有 布线执行测试以实际证明印刷电路板和设计数据之间的匹配。然而，还未提出一种高效地辅助将在制造了高密度安装印刷电路板之后执行的实 际测量测试的设备。
技术实现思路
因此，这些实施例的一个目的是提供一种印刷电路板测试辅助设备、印刷电路板 测试辅助方法和计算机可读信息记录介质，其用于高效地辅助将在制造了高密度安装印刷 电路板之后执行的实际测量测试。本公开的一个实施例是一种辅助形成在印刷电路板中的布线图案的测试的印刷 电路板测试辅助设备。该印刷电路板测试辅助设备包括第一数据库，该第一数据库以使得 指示出布线图案的属性和位置的属性信息和位置信息与布线图案相关联的方式，存储属性 信息和位置信息；第二数据库，该第二数据库存储位置信息和尺寸信息，该位置信息和尺寸 信息指示出存在于设在印刷电路板中的实心图案(solid pattern)中的图案移除区域的位 置和尺寸；第三数据库，该第三数据库存储劣化程度信息，该劣化程度信息指示出相对于布 线图案和图案移除区域之间的位置关系以及图案移除区域的尺寸的、布线图案中的信号特 性的劣化程度；输入部分，该输入部分用来输入布线图案的属性信息；劣化程度处理部分， 该劣化程度处理部分基于与输入到输入部分的属性信息相对应的布线图案的位置信息、图 案移除区域的位置信息和尺寸信息、以及劣化程度信息，来获得与输入到输入部分的属性信息相对应的布线图案中的信号特性的劣化程度；以及提取处理部分，该提取处理部分从 已被劣化程度处理部分获得了劣化程度的布线图案中提取劣化程度等于或大于预定程度 的布线图案以用于实际测量测试。附图说明 图1图示出应用了实施例1中的印刷电路板测试辅助设备的计算机系统的立体 图；图2图示了粗略图示计算机系统10的主体部分(body part) 11的配置的框图；图3A和3B图示了利用实施例1的印刷电路板测试辅助设备对其执行计算以辅助 印刷电路板的测试的电子设备，其中图3A图示了电子设备的立体透视图，图3B图示了电子 设备中包括的印刷电路板；图4图示了利用实施例1中的印刷电路板测试辅助设备对其执行计算以辅助印刷 电路板的测试的印刷电路板的结构的立体分解图；图5A至5C图示了实施例1中的印刷电路板测试辅助设备所使用的CAD数据的一 个示例；图6图示了实施例1中的印刷电路板测试辅助设备的功能框图；图7图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中布线图案和实心图案(solid pattern)移除区域之间的位置关系的分类结果的一个示例；图8图示了存储在实施例1的印刷电路板测试辅助设备的数据库20中的特性阻 抗增大特性；图9图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中对其计算特性阻抗劣化程度 的宽度方向上的范围；图10图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中存在于对其计算特性阻抗 劣化程度的范围中的实心图案移除区域的面积计算方法；图11以表格形式图示了图10的判定结果；图12图示了受图10中所示的实心图案移除区域影响的布线图案的特性阻抗；图13图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中用于辅助印刷电路板的测 试的计算处理的流程图；图14A和14B图示了实施例1的印刷电路板测试辅助设备中的分级结果和提取结 果；图15图示了这样一种状态其中针对在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中连 接到被确定为具有高特性阻抗劣化程度的No. 3、No. 1和No. 5的布线图案6的信号过孔9A 以及最近的GND过孔9B设置了通过丝网印刷形成的标记；图16A和16B图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中计算实心图案移除 区域8的面积的另一种方法；图17A和17B图示了在实施例1的印刷电路板测试辅助设备中从测量点到实心图 案移除区域8的信号传播时间的计算方法；图18图示了布线图案6B、6C和实心图案移除区域8A之间的位置关系的一个示例 的立体图19以平面图方式图示了图18中所示的布线图案6B、6C和实心图案移除区域8A 之间的位置关系；图20图示了实施例2中的印刷电路板测试辅助设备的功能框图；图21图示了在实施 例2的印刷电路板测试辅助设备中用于计算串扰区域的每单 位面积的串扰强度的每单位面积噪声的表格；图22图示了在实施例2的印刷电路板测试辅助设备中用于计算串扰强度的校正 系数的表格；图23图示了在实施例2的印刷电路板测试辅助设备中用于计算串扰强度的串扰 区域的面积计算方法；图24以表格形式图示了图23的判定结果以及布线图案之间的距离的提取结果； 以及图25A和25B图示了在实施例3的印刷电路板测试辅助设备中计算串扰强度时的 分级结果和提取结果。具体实施例方式下面，将描述应用了根据本专利技术的印刷电路板测试辅助设备、印刷电路板测试辅 助方法和计算机可读信息记录介质的实施例。图1图示出应用了实施例1中的印刷电路板测试辅助设备的计算机系统的立体 图。图1中所示的计算机系统10包括主体部分11、显示器12、键盘13、鼠标14和调制解调 器15。主体部分11内置有CPU(中央处理单元)、HDD(硬盘驱动器)、盘驱动器等等。显 示器12充当显示部分，其响应于主体部分11给出的指令而在显示屏12A上显示分析结果 等等。显示器12例如可以是液晶显示监视器。键盘13充当用于将各类信息输入到计算机 系统10的输入部分。鼠标14充当用于在显示器12的显示屏12A上指定任意位置的输入 部分。调制解调器15用于访问外部数据库等，并下载存储在另一计算机系统中的程序等。用于使得计算机系统10具有辅助印刷电路板的测试的功能的印刷电路板测试辅 助程序(印刷电路板测试辅助程序软件或工具)被存储在诸如盘17等的便携式记录介质 中，或者被利用诸如调制解调器15之类的通信装置从另一计算机系统的记录介质16下载， 并因而被输入到计算机系统10并被编译。印刷电路板测试辅助程序使得计算机系统10(即，后面将描述的CPU 21)作为印 刷电路板测试辅助设备而操作，该印刷电路板测试辅助设备具有辅助印刷电路板的测试的 功能。印刷电路板测试辅助程序例如可以存储在诸如盘17之类的计算机可读信息记录介 质中。计算机可读信息记录介质并不限于诸如盘17之类的便携式记录介质本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种印刷电路板测试辅助设备，其辅助形成在印刷电路板上的布线图案的测试，所述印刷电路板测试辅助设备包括：第一数据库，该第一数据库以使得指示出所述布线图案的属性和位置的属性信息和位置信息与所述布线图案相关联的方式，存储所述属性信息和所述位置信息；第二数据库，该第二数据库存储位置信息和尺寸信息，该位置信息和尺寸信息指示出存在于设在所述印刷电路板中的实心图案中的图案移除区域的位置和尺寸；第三数据库，该第三数据库存储劣化程度信息，该劣化程度信息指示出相对于所述布线图案和所述图案移除区域之间的位置关系以及所述图案移除区域的尺寸的、所述布线图案中的信号特性的劣化程度；输入部分，该输入部分被输入布线图案的属性信息；劣化程度处理部分，该劣化程度处理部分基于与输入到所述输入部分的属性信息相对应的所述布线图案的位置信息、所述图案移除区域的位置信息和尺寸信息、以及所述劣化程度信息，来获得与输入到所述输入部分的属性信息相对应的所述布线图案中的信号特性的劣化程度；以及提取处理部分，该提取处理部分从劣化程度已被所述劣化程度处理部分获得了的布线图案中提取劣化程度等于或大于预定程度的布线图案以用于实际测量测试。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：锷本大太，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]