【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电阻检测，特别是涉及一种电阻仪的校准装置。
技术介绍
1、在电池的生产过程中，利用电阻仪检测极片的电阻，电阻仪在使用一定时间后，由于电阻仪的探头和极片重复摩擦，会导致探头会出现不同程度的磨损，进而导致极片的电阻检测结果失真。
2、目前，通过标准电阻块与探头接触后，并通过探头测出的检测值与标准电阻值比对，从而判断探头是否磨损。采用上述方式，只能判断探头是否有磨损，无法判断探头的平整度及磨损程度。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对现有的标准电阻块无法校验探头的平整度及磨损程度的问题，提供一种电阻仪的校准装置。
2、一种电阻仪的校准装置，包括绝缘件及校验块，绝缘件内设容纳腔，校验块容置于容纳腔内；其中，校验块的数量为至少两个，全部校验块的端部暴露在容纳腔外且齐平，探头的探测面与各校验块的端部接触。上述的电阻仪的校准装置，绝缘件内容置有至少两个校验块，全部校验块的端部暴露在容纳腔外且齐平，便于全部校验块的端部与探头的探测面接触并形成电连接，根据探头测出的各校验块并联的电阻总值而判断探测面的平整度；探头由单点式接触校验转变为均匀多点式校验，能够准确判断探头的检测面的平整度，有效改善因探头磨损造成的检测结果偏差的情况。
3、在其中一实施例中，绝缘件具有与容纳腔连通的通孔，校验块穿设于通孔，且校验块的端部暴露于通孔背离容纳腔的一侧。如此，便于校验块容置于绝缘件内且使校验块的端部外露。
4、在其中一实施例中，绝缘件具有沿第一方向相对的两
5、在其中一实施例中，通孔包括与容纳腔的顶侧连通的第一通孔，校验块具有位于顶侧的第一端面，第一端面超出于第一通孔的高度范围为0.01mm～0.02mm。如此，通过限定第一端面超出于第一通孔的高度范围，在使探头与第一端面充分接触，同时不会使校准装置的体积过大而占用较大空间。
6、在其中一实施例中，第一端面为平面。如此，第一端面与对应的探头检测面接触时，贴合度更好，改善因二者未贴合而影响探头的检测准确度的情况。
7、在其中一实施例中，通孔包括与容纳腔的底侧连通的第二通孔，校验块具有位于底侧的第二端面，第二端面超出于第二通孔的高度范围为0.01mm～0.02mm。如此，通过限定第二端面超出于第二通孔的高度范围，在使探头与第二端面充分接触，同时不会使校准装置的体积过大而占用较大空间。
8、在其中一实施例中，第二端面均为平面。如此，第二端面与对应的探头检测面接触时，贴合度更好，改善因二者未贴合而影响探头的检测准确度的情况。
9、在其中一实施例中，绝缘件具有至少两个容纳腔，各容纳腔互不连通且被配置为与各校验块一一对应设置，第一通孔、第二通孔被配置为与各容纳腔一一对应设置。如此，各容纳腔互不连通且被配置为与各校验块一一对应设置，能使各校验块之间绝缘，且便于各校验块容置于绝缘件内。
10、在其中一实施例中，全部容纳腔均布于绝缘件。如此，全部容纳腔均布于绝缘件内，能够提高绝缘件的空间利用率。
11、在其中一实施例中，绝缘件呈立方体状，全部容纳腔呈矩形阵列均布。如此，便于绝缘件中各容纳腔的批量加工，且能够提高绝缘件的空间利用率。
12、在其中一实施例中，全部校验块及全部容纳腔均呈圆柱状，全部第一通孔及第二通孔均呈圆孔。如此，全部校验块及全部容纳腔均呈圆柱状，全部第一通孔及第二通孔均呈圆孔，便于校验块与容纳腔的插接配合，能够提高装配效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电阻仪的校准装置，其特征在于，所述校准装置包括：
2.根据权利要求1所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)具有与所述容纳腔(101)连通的通孔，所述校验块(200)穿设于所述通孔，且所述校验块(200)的端部暴露于所述通孔背离所述容纳腔(101)的一侧。
3.根据权利要求2所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)具有沿第一方向相对的两个所述通孔，所述校验块(200)具有沿所述第一方向相对的两个端面，所述校验块(200)沿所述第一方向穿设于两个所述通孔且所述端面由对应的所述通孔露出，所述第一方向为所述绝缘件(100)的高度方向。
4.根据权利要求3所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述通孔包括与所述容纳腔(101)的顶侧连通的第一通孔(102)，所述校验块(200)具有位于顶侧的第一端面(201)，所述第一端面(201)超出于所述第一通孔(102)的高度范围为0.01mm～0.02mm。
5.根据权利要求4所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述第一端面(201)为平面。
6.根
7.根据权利要求6所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述第二端面(202)均为平面。
8.根据权利要求6所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)具有至少两个所述容纳腔(101)，各所述容纳腔(101)互不连通且被配置为与各所述校验块(200)一一对应设置，所述第一通孔(102)、所述第二通孔(103)被配置为与各所述容纳腔(101)一一对应设置。
9.根据权利要求8所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，全部所述容纳腔(101)均布于所述绝缘件(100)。
10.根据权利要求9所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)呈立方体状，全部所述容纳腔(101)呈矩形阵列均布。
11.根据权利要求9所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，全部所述校验块(200)及全部所述容纳腔(101)均呈圆柱状，全部所述第一通孔(102)及所述第二通孔(103)均呈圆孔。
...【技术特征摘要】
1.一种电阻仪的校准装置，其特征在于，所述校准装置包括：
2.根据权利要求1所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)具有与所述容纳腔(101)连通的通孔，所述校验块(200)穿设于所述通孔，且所述校验块(200)的端部暴露于所述通孔背离所述容纳腔(101)的一侧。
3.根据权利要求2所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述绝缘件(100)具有沿第一方向相对的两个所述通孔，所述校验块(200)具有沿所述第一方向相对的两个端面，所述校验块(200)沿所述第一方向穿设于两个所述通孔且所述端面由对应的所述通孔露出，所述第一方向为所述绝缘件(100)的高度方向。
4.根据权利要求3所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述通孔包括与所述容纳腔(101)的顶侧连通的第一通孔(102)，所述校验块(200)具有位于顶侧的第一端面(201)，所述第一端面(201)超出于所述第一通孔(102)的高度范围为0.01mm～0.02mm。
5.根据权利要求4所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述第一端面(201)为平面。
6.根据权利要求4所述的电阻仪的校准装置，其特征在于，所述通孔...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴浩，葛银彪，朱韦业，
申请(专利权)人：江苏时代新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。