【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种三维测量方法，具体涉及一种利用投影技术的物体三维测量方法。
技术介绍
目前，现有的相位调制解调3维轮廓测量技术是白光扫描测量方式。有如下技术 特征先是光源产生的平行光，经过光栅产生的结构光经过透镜照射测量对象，光栅移动N 次后，图像采集装置依次采集N幅图像，经过相位调制解调算法计算出两三维图3维测量。 扫描测量装置测量时，光源的强度，相机的曝光时间和增益值保持恒定，这样在测量对象表 面颜色亮暗变化明显时，如同时存在黑色和白色的表面，由于CCD相受感光动态范围的限 制，会同时存在欠曝光和过度曝光的情况，这样普通白光扫描无法取得整幅图像的3维测 量结果。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的不足，开发设计出一种能解决黑白大反差被测对象的三维 测量方法；本专利技术是通过以下技术方案实现的，分两次设定光源强度，相机曝光时间和增益值，分别对其 表面的亮部分和暗部分做三维测量，对测量结果按照预定阀值做筛选，最后得到被测物体 表面三维结果。，进一步说是分别采集被测物体暗部分反射和被测物体亮 部分反射的光栅图像；然后使用相同的相位调制解调算法计算出被测物体的两次...
【技术保护点】
一种投影三维测量方法，分两次设定光源强度，相机曝光时间和增益值，分别对其表面的亮部分和暗部分做三维测量，对测量结果按照预定阀值做筛选，最后得到被测物体表面三维结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：姚征远，
申请(专利权)人：合肥思泰光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：34[中国|安徽]
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