一种手机故障测量方法技术

本发明专利技术提供了一种手机故障测量方法，方案为：将被测的手机断电，获得被测手机的主板电路；将数字万用表调节到二极管档，将数字万用表的黑表笔连接被测手机的主板电路上的被测点，将数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行被测点电路的检测，获得测量二极体值，测量二极体值为所述数字万用表测得的数值；将测量二极体值与被测点电路的正常二极体值作比较，判定被测点的故障状态，实现对被测手机的主板电路的故障测量。本发明专利技术的手机故障测量方法，采用了万用表中的二极管档电路可提供足够大的电流进行手机故障点的检测，提高了手机故障点检测的准确性，并且不需要拆卸主板电路中的电子元件进行故障检测，延长了手机主板的使用寿命。

Mobile phone fault measuring method

The invention provides a mobile phone fault measurement method, scheme is: the tested mobile phone off, get the main board circuit under test mobile phone; digital multimeter to adjust the diode file, will be measured by digital multimeter connected mobile phone watch black pen on the circuit board test, the number of million the table with the red pen grounding detection circuit based on measured point file diode circuit, measuring diode, diode measurement value measured for the digital multimeter; the measurement of diode diode and the normal value of measured point circuit body values for comparison, determine the fault the state point, realize the fault measurement circuits of the main board of the mobile phone to be measured. Mobile phone fault measuring method of the invention, the universal circuit diode file table in the mobile phone can detect the fault point current is large enough, improves the accuracy of fault detection of mobile phone, and does not need disassembling electronic elements in circuit board fault detection, prolong the service life of the mobile phone.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子领域，尤其涉及一种手机故障测量方法。
技术介绍
在手机维修中，一般使用万用表的欧姆档进行手机故障点的测量，通常测量故障点的电压、电路电流、对地阻值等，来粗略判断手机的大致故障部位，根据判断的大致故障部位再次进行维修，维修的方法主要有更换元器件、拆除元器件来判断故障是否排除。但是，由于采用万用表的欧姆档进行测量，欧姆档电路所能提供的测试电流太小，就常用的DT830型(以下均以此型为例)而言，它的20K档不大于7.5uA，而20M档仅仅只有75nA。由于半导体元件具有非线性特性，其PN结的正、反电阻与通过其中测试电流的大小密切相关，以如此微弱的测试电流测试元件的正、反向电阻，其工作点注定要落在PN结伏安特性曲线的弯曲区段，即死区范围。因此，在电阻档测出的阻值比正常使用的值相差甚远，在对手机主板上的电子元件进行故障检测的时候，造成检测不准确，容易出现误判；另外，通过上述方法进行手机故障点检测，需要拆卸手机主板上的电子元件进行检测，很容易造成手机主板的损坏。因此，现有技术中的缺陷是，通过万用表的欧姆档进行手机故障点的检测，由于欧姆档电路中测试点电流过小，对于一些电子元件无法正常检测出是否存在故障，使故障测量不准确，同时，拆卸手机主板的电子元件进行检测容易造成主板损坏。
技术实现思路
针对上述技术问题，本专利技术提供一种手机故障测量方法，采用了万用表中的二极管档电路可提供足够大的电流进行手机故障点的检测，提高了手机故障点检测的准确性，并且不需要拆卸主板电路中的电子元件进行故障检测，延长了手机主板的使用寿命。为解决上述技术问题，本专利技术提供的技术方案是：本专利技术提供一种手机故障测量方法，包括：步骤S1，将被测的手机断电，获得所述被测手机的主板电路；步骤S2，将数字万用表调节到二极管档，将所述数字万用表的黑表笔连接所述被测手机的主板电路上的被测点，将所述数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行所述被测点电路的检测，获得测量二极体值，所述测量二极体值为所述数字万用表测得的数值；步骤S3，将所述测量二极体值与所述被测点电路的正常二极体值作比较，判定所述被测点的故障状态，实现对所述被测手机的主板电路的故障测量：当所述测量二极体值不在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路存在故障；当所述测量二极体值在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路不存在故障。本专利技术的手机故障测量方法，其技术方案为：将被测的手机断电，获得所述被测手机的主板电路；将数字万用表调节到二极管档，将所述数字万用表的黑表笔连接所述被测手机的主板电路上的被测点，将所述数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行所述被测点电路的检测，获得测量二极体值，所述测量二极体值为所述数字万用表测得的数值；将所述测量二极体值与所述被测点电路的正常二极体值作比较，判定所述被测点的故障状态，实现对所述被测手机的主板电路的故障测量：当所述测量二极体值不在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路存在故障；当所述测量二极体值在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路不存在故障。本专利技术的手机故障测量方法，采用了万用表中的二极管档电路可提供足够大的电流进行手机故障点的检测，提高了手机故障点检测的准确性，并且不需要拆卸主板电路中的电子元件进行故障检测，延长了手机主板的使用寿命。进一步地，所述手机的主板电路中包括电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管及集成电路。进一步地，所述二极管档电路中的测试电流范围为1.066毫安至1.296毫安。进一步地，所述二极管档电路中的基准电压为2.8伏。进一步地，所述二极管档电路中包括输入端高频滤波电路、集成电路芯片、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、热敏电阻、第二电容、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第十一电阻；所述输入端高频滤波电路由第一电容、第一电阻和第二电阻组成，所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电容的第二端与所述第二电阻的第一端连接，所述第一电阻的第一端与所述集成电路芯片的基准电压高电平端连接，所述第二电阻的第一端与所述集成电路芯片的基准电压低电平端连接，所述第一电阻的第二端与可调电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端与所述集成电路芯片的低电平输入端连接；所述可调电阻的第二端与所述第七电阻的第一端连接，所述第七电阻与所述第八电阻并联，所述可调电阻的第三端与所述第九电阻的第一端连接，所述第九电阻与所述第十电阻并联，所述第九电阻的第二端与所述第二电阻的第二端连接，所述第七电阻的第二端与所述集成电路芯片的电源连接；所述第四电阻的第一端以所述集成电路芯片的电源连接，所述第四电阻的第二端与所述第三电阻的第一端连接，所述第三电阻的第二端与所述热敏电阻的第一端连接，所述热敏电阻的第二端与所述第五电阻的第一端连接，所述第五电阻的第二端与所述第六电阻的第一端连接，所述第六电阻的第二端接地，所述第六电阻的第一端与所述第十一电阻的第一端连接，所述第十一电阻的第二端与所述集成电路芯片的高电平输入端连接，所述第十一电阻的第二端与所述第二电容的第一端连接，所述第二电容的第二端与所述集成电路芯片的串口端连接；所述热敏电阻的第二端与所述第六电阻的第二端之间连接被测电子元件。进一步地，所述二极管档电路还包括过压保护电路，所述过压保护电路包括第一三极管、第二三极管、所述第三电阻和所述热敏电阻组成，所述第一三极管的基极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与所述第三电阻的第一端连接，所述第二三极管的集电极与所述第一三极管的基极连接，所述第二三极管的发射极与所述集成电路芯片的低电平输入端连接。进一步地，所述热敏电阻为正温系数的PTC热敏电阻。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。图1示出了本专利技术第一实施例所提供的一种手机故障测量方法的流程图；图2示出了本专利技术第一实施例所提供的一种手机故障测量方法的二极管档电路第一电路图；图3示出了本专利技术第二实施例所提供的一种手机故障测量方法的二极管档电路第二电路图。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本专利技术的技术方案，因此只是作为示例，而不能以此来限制本专利技术的保护范围。实施例一图1示出了本专利技术第一实施例所提供的一种手机故障测量方法的流程图；，如图1所示，本专利技术实施例一提供一种手机故障测量方法，包括：步骤S1，将被测的手机断电，获得被测手机的主板电路；步骤S2，将数字万用表调节到二极管档，将数字万用表的黑表笔连接被测手机的主板电路上的被测点，将数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行被测点电路的检测，获得测量二极体值，测量二极体值为数字万用表测得的数值；步骤S3，将测量二极体值与被测点电路的正常二极体值作比较，判定被测点的故障状态，实现对被测手机的主板电路的故障测量：当测量二极体值小于或大于正常二极体值，判定被测点电路存在故障；当测量二极体值接近正常二极体值，判定被测点电路不存在故障。本专利技术的手机故障测量方法，其技术方案为：将被测的手机断电，获得被测手机的主板电路；将数字本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种手机故障测量方法，其特征在于，包括：步骤S1，将被测的手机断电，获得所述被测手机的主板电路；步骤S2，将数字万用表调节到二极管档，将所述数字万用表的黑表笔连接所述被测手机的主板电路上的被测点，将所述数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行所述被测点电路的检测，获得测量二极体值，所述测量二极体值为所述数字万用表测得的数值；步骤S3，将所述测量二极体值与所述被测点电路的正常二极体值作比较，判定所述被测点的故障状态，实现对所述被测手机的主板电路的故障测量：当所述测量二极体值不在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路存在故障；当所述测量二极体值在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路不存在故障。

【技术特征摘要】
1.一种手机故障测量方法，其特征在于，包括：步骤S1，将被测的手机断电，获得所述被测手机的主板电路；步骤S2，将数字万用表调节到二极管档，将所述数字万用表的黑表笔连接所述被测手机的主板电路上的被测点，将所述数字万用表的红表笔接地，通过二极管档电路进行所述被测点电路的检测，获得测量二极体值，所述测量二极体值为所述数字万用表测得的数值；步骤S3，将所述测量二极体值与所述被测点电路的正常二极体值作比较，判定所述被测点的故障状态，实现对所述被测手机的主板电路的故障测量：当所述测量二极体值不在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路存在故障；当所述测量二极体值在所述正常二极体值范围内，判定所述被测点电路不存在故障。2.根据权利要求1所述的手机故障测量方法，其特征在于，所述手机的主板电路中包括电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管及集成电路。3.根据权利要求1所述的手机故障测量方法，其特征在于，所述二极管档电路中的测试电流范围为1.066毫安至1.296毫安。4.根据权利要求1所述的手机故障测量方法，其特征在于，所述二极管档电路中的基准电压为2.8伏。5.根据权利要求1所述的手机故障测量方法，其特征在于，所述二极管档电路中包括输入端高频滤波电路、集成电路芯片、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、热敏电阻、第二电容、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第十一电阻；所述输入端高频滤波电路由第一电容、第一电阻和第二电阻组成，所述第一电容的第一端与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电容的第二端与所述第二电阻的第一端连接，所述第一电阻的第一端与所述集成电路芯片的基准电压高电平端连接，所述第二电阻的第一端与所述集成电路芯片的基...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯海亭，
申请(专利权)人：侯海亭，
类型：发明
国别省市：山东;37