一种ＲＦＩＤ标签排列密度的基准测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种ＲＦＩＤ标签排列密度的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板、基底板支架组成，在输入能量相同的情况下，通过测量ＲＦＩＤ标签在不同排列方式和不同排列密度下反向散射信号与标签单独存在时反向散射信号的对比来评价该款测试标签在多标签部署时所受到的相邻标签干扰程度。利用该测试系统与方法，可以协助使用者在ＲＦＩＤ部署前即根据应用环境中物品摆放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的ＲＦＩＤ标签。进而为使用者提供一种简单、明确、有效的ＲＦＩＤ自动化测试工具和基准测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频识别技术的测试
，尤其涉及一种对RFID标签排列密度 进行测试的系统及方法。
技术介绍
RFID全称为射频识别(Radio Frequency Identif ication)，是一种利用射频技 术实现的非接触式自动识别技术。RFID标签具有体积小、读写速度快、形状多样、使用寿命 长、可重复使用、存储容量大、能穿透非导电性材料等特点，结合RFID读写器可以实现多目 标识别和移动目标识别，进一步通过与互联网技术的结合还可以实现全球范围内物品的跟 踪与信息的共享。RFID技术应用于物流、制造、公共信息服务等行业，可大幅提高管理与运 作效率，降低成本。RFID技术目前已经成为IT领域的热点，众多机构和企业都在大力推广这种技术。 随着RFID技术飞速发展，相关产品的生产厂家逐渐增多，RFID标签的品种也已经上升到数 百种，并且还在不断推出新的产品。为了在繁多的RFID标签中选择最能够满足使用者需求 的产品，就需要对RFID产品的性能指标进行专门的测试，由于在实际应用中，尤其是在物 流与仓储管理领域，RFID标签都是以标签群的形式出现的，即大量的RFID标签按照一定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＲＦＩＤ标签排列密度的基准测试系统，其特征在于：包括测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签，其中发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与标准读写器信令单元通过射频馈线连接，用于感应主测试标签和从测试标签，接收天线固定于接收天线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收主测试标签和从测试标签响应；塑料基底板与基底板支架通过多轴方式连接，在塑料基底板上布置主测试标签和从测...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：关强，刘禹，
申请(专利权)人：中国科学院自动化研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]