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本发明公开了一种ＲＦＩＤ标签排列密度的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板、基底板支架组成，在输入能量相同的情况下，通过测量ＲＦＩＤ标签在不同排列方式和不同...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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