自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法技术

本发明专利技术公开了一种自动光学检查设备及其测光工具板和调光方法。所述设备包括：检测平台；放置于所述检测平台上的测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物；位于所述检测平台上方的光源、扫描器，所述光源发出的光线投射至所述参照物，所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；调节装置，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和／或反射光的均匀度，在不满足时调节所述光源光线的强度和／或角度直至满足要求。本发明专利技术可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备的生产效率和产能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其涉及一种。
技术介绍
自动光学检查(A0I)设备一般自带光学识别系统，机器会自动根据测量物反光情 况自动调整光学参数，进行光学校正。常见的光学校正如平面图像检测，即对设定好的平面 图像进行图像摄取，根据图形清晰度来调节CCD焦距，并根据平面的光的反射的强度即灰 度值来改变入射光的强度即灯源发出的光的能量，使平面图像最清楚地显示出来，并记录 好所调节的参数。另一种光学检测技术可参阅2008年9月3日公开的中国专利技术专利申请第 200710170086. 2号所揭露的自动光学检查方法，能够减少检测对象物如挠性印制电路板的 过度检测，所述方法包括步骤在检查形成于上述印制电路板上的图案时，利用在首次沿倾 斜方向照射光得到的第一反射图像，先区分图案成分和空间成分，来先执行图案形状检查， 然后利用在其次沿垂直方向照射光得到的第二反射图像，参考由上述第一反射图像得到的 图案成分的区域，以表面凹陷为中心进行检查。但是，现有技术A0I自动光学校正是根据程序设计者的思维来进行校正的，校正 方式很死板，而且不能根据现场的实际需要来进行调整，对于光的强度无法用肉眼直接识 别，并且对于凹凸面的反光情况无法判断是否符合用户需求，人对设备的干预没有一个参 照标准。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种自动光学检查设备及其测光工具板和调 光方法，可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备 的生产效率和产能。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是提供一种自动光学检查设 备，包括检测平台；放置于所述检测平台上的测光工具板，所述测光工具板表面设有自表 面圆弧隆起或凹下的参照物；位于所述检测平台上方的光源、扫描器，所述光源发出的光线 投射至所述参照物，所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行 扫描，并得到扫描图像；调节装置，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光 源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均勻度，在不满足时 调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。其中，所述测光工具板上圆弧隆起的参照物是半圆凸球或十字叉，所述十字叉由 两根圆柱体组成。其中，所述测光工具板上圆弧凹下的参照物是圆形凹坑。其中，所述参照物是表面抛光的金属物体。其中，所述参照物包括多种，每种参照物的数量为多个，并且大小不一。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是提供一种自动光学检查 设备用测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物。其中，所述测光工具板上圆弧隆起的参照物是半圆凸球或十字叉，所述十字叉由 两根圆柱体组成，所述测光工具板上圆弧凹下的参照物是圆形凹坑。其中，所述参照物是表面抛光的金属物体。其中，所述参照物包括多种，每种参照物的数量为多个，并且大小不一。为解决上述技术问题，本专利技术采用的又一个技术方案是提供一种自动光学检查 设备的调光方法，包括将测光工具板放置于检测平台上的，所述测光工具板表面设有自表 面圆弧隆起或凹下的参照物；以一定强度和角度向所述参照物投射光线，利用所述参照物 对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；分析所述扫描图像，根据所述 扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的 均勻度，在不满足时调节所述光源光线的强度和/或角度直至满足要求。本专利技术的有益效果是区别于现有技术自动光学检查设备不能根据现场的实际 需要来进行调整、也无法对凹凸面的反光情况来判断是否符合用户需求的情况，本专利技术设 计独特的测光工具板，利用设备自身所具有的扫描功能对所述测光工具板的参照物进行扫 描，以参照物作为反光点来判断所检测需要的光是否合理，在不合理时根据反光情况改变 光强和/或入射角度，通过反复扫描对比，调节设备内部参数至所需反光效果即可，可以根 据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检测效果，提高设备的生产效率和 产能。附图说明图1是本专利技术自动光学检查设备实施例的结构示意图；图2是本专利技术测光工具板中参照物的立体示意图；图3是本专利技术测光工具板实施例的结构示意图；图4是本专利技术自动光学检查设备的调光方法实施例的流程图。具体实施例方式为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式 并配合附图详予说明。请参阅图1、图2以及图3，本专利技术自动光学检查设备实施例，包括检测平台(图未示)；放置于所述检测平台上的测光工具板20，所述测光工具板20表面设有自表面圆 弧隆起或凹下的参照物21 ；位于所述检测平台上方的光源30、扫描器(图未示)，所述光源30发出的光线投 射至所述参照物21，所述扫描器用于利用所述参照物21对所述光线的反射对所述参照物 21进行扫描，并得到扫描图像；调节装置(图未示)，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源30 投射至参照物21的光线的是否满足预设的强度、角度和/或反射光的均勻度，在不满足时 调节所述光源30光线的强度和/或角度直至满足要求，即在不满足时调节所述光源30光线的强度和/或角度，然后再扫描，分析，直至满足要求。其中判断所述光源30投射至参照物21的光线的是否满足预设的强度、角度和/ 或反射光的均勻度，包括判断所述光源30投射至参照物21的光线的是否满足预设的强度、 判断所述光源30投射至参照物21的光线的是否满足预设的角度、判断所述光源30投射至 参照物21的光线的是否满足预设的反射光的均勻度或以上的任何两者结合。本专利技术设计独特的测光工具板20，利用设备自身所具有的扫描功能对所述测光工 具板20的参照物21进行扫描，以参照物21作为反光点来判断所检测需要的光是否合理， 在不合理时根据反光情况改变光强和/或入射角度，通过反复扫描对比，调节设备内部参 数至所需反光效果即可，可以根据检测产品的实际需要来调整检测光情况，调节设备的检 测效果，提高设备的生产效率和产能。其中，区别于现有技术黑点或白点检测中主要是进行物体平面反射光检测的技 术，本专利技术提出的表面圆弧隆起或凹下的参照物21的设计，因其圆弧立体表面可以对光线 进行全范围的反射，接近于实际产品中元件对光线的反射效果，经大量实验，证明表面圆弧 隆起或凹下的参照物21最适合作为产品的检测参照物21来调整自动光学检查设备的光学 环境和参数。在一个实施例中，所述测光工具板20上圆弧隆起的参照物21是半圆凸球或十字 叉，所述十字叉由两根圆柱体组成。当然还可以是其他形状，只要设计精神满足其圆弧立体 表面可以对光线进行全范围的反射即可。在一个实施例中，所述测光工具板20上圆弧凹下的参照物21是圆形凹坑。在一个实施例中，所述参照物21是表面抛光的金属物体，抛光后的物体表面反光 效果最好，也较适合作为调光用参照物21。当然，也可以是镀锡的金属物体。在一个实施例中，所述参照物21包括多种，每种参照物21的数量为多个，并且大 小不一。图3中从上至下，在上述参照物21分布为十字叉、半圆凸球、圆形凹坑作为反光点 来判断所需要的光是否合理的实施例中，每种作为反光点的参照物21都有多种规格尺寸， 可以判断不同解析度下的反光情况，所有的反光点都建立在一块金属板上，整个工具的厚 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动光学检查设备，其特征在于，包括：　　检测平台；　　放置于所述检测平台上的测光工具板，所述测光工具板表面设有自表面圆弧隆起或凹下的参照物；　　位于所述检测平台上方的光源、扫描器，所述光源发出的光线投射至所述参照物，所述扫描器用于利用所述参照物对所述光线的反射对所述参照物进行扫描，并得到扫描图像；　　调节装置，用于分析所述扫描图像，根据所述扫描图像判断所述光源投射至参照物的光线的是否满足预设的强度、角度和／或反射光的均匀度，在不满足时调节所述光源光线的强度和／或角度直至满足要求。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓波，
申请(专利权)人：深南电路有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]