一种多通道芯片测试平台制造技术

本实用新型专利技术提供一种多通道芯片测试平台，涉及芯片测试技术领域，包括主机框架，主机框架的顶部设有测试面板，测试面板的一侧设有主计数器和备份计数器，测试面板的另一侧设有辅助支架和安装支架，测试面板靠近辅助支架的位置设有定位平台，辅助支架的侧面设有识别摄像头，采用主计数器和备份计数器来设置和记录测试参数，可以确保测试过程的精确控制，同时，测试面板的橡胶垫和接地线有助于减少电气干扰，提高测试的可靠性，此外，通过使用真空吸附的定位平台和识别摄像头来精确定位和识别芯片，可以进一步提高测试精度

【技术实现步骤摘要】
一种多通道芯片测试平台


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种多通道芯片测试平台
。

技术介绍

[0002]在芯片制造和开发过程中，芯片是电子设备的核心组件，负责处理和执行各种任务，由于其微小的尺寸和高度集成，任何缺陷或错误都可能导致性能下降或故障，因此，测试是确保芯片质量和性能的关键步骤，为了确保芯片的性能和可靠性，需要对其进行多种测试，然而，由于芯片的复杂性和微小的尺寸，测试过程往往是复杂和耗时的，此外，测试过程需要高精度和可重复性
。
[0003]因此需要一种多通道芯片测试平台
。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种多通道芯片测试平台
。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种多通道芯片测试平台，包括主机框架，所述主机框架的顶部设有测试面板，所述测试面板的一侧设有主计数器和备份计数器，所述测试面板的另一侧设有辅助支架和安装支架，所述测试面板靠近辅助支架的位置设有定位平台，所述辅助支架的侧面设有识别摄像头
。
[0006]优选的，所述主机框架的正面一侧设有存储箱体，且存储箱体为抽屉结构
。
[0007]优选的，所述主机框架的侧面设有设备接口，且设备接口为圆形接口，嵌合在主机框架侧面的中部
。
[0008]优选的，所述主计数器和备份计数器之间相互平行设置，且主计数器和备份计数器均通过螺栓和测试面板之间相互连接
。/>[0009]优选的，所述定位平台为两组平行设置，且定位平台为真空吸附平台，外接有真空气泵，且定位平台的顶部和识别摄像头之间处于同一个对焦平面
。
[0010]优选的，所述安装支架和辅助支架均为直线滑轨结构，且安装支架和辅助支架的表面均匀开设有矩形槽口，并且安装支架为双板平行构成
。
[0011]优选的，所述测试面板的表面贴合有橡胶垫，且测试面板的底部连接有接地线
。
[0012]有益效果
[0013]本技术中，采用主计数器和备份计数器来设置和记录测试参数，可以确保测试过程的精确控制，同时，测试面板的橡胶垫和接地线有助于减少电气干扰，提高测试的可靠性，此外，通过使用真空吸附的定位平台和识别摄像头来精确定位和识别芯片，可以进一步提高测试精度；
[0014]本技术中，采用存储箱体的抽屉结构提供了方便的存储空间，使得测试工具和芯片的管理更加高效，同时，设备接口的设计允许轻松连接各种外部设备，增加测试平台的灵活性，通过在主机框架的侧面设置圆形接口，可以方便地添加新的硬件和功能，增强测
试平台的扩展性
。
附图说明
[0015]图1为本技术的正立体图；
[0016]图2为本技术的侧向立体图；
[0017]图3为本技术的侧视图；
[0018]图4为本技术的俯视图
。
[0019]图例说明：
[0020]1、
主机框架；
2、
辅助支架；
3、
存储箱体；
4、
安装支架；
5、
定位平台；
6、
测试面板；
7、
主计数器；
8、
备份计数器；
9、
设备接口；
10、
识别摄像头
。
具体实施方式
[0021]为了使本技术实现的技术手段
、
创作特征
、
达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例和附图，进一步阐述本技术，但下述实施例仅仅为本技术的优选实施例，并非全部
。
基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本技术的保护范围
。
[0022]下面结合附图描述本技术的具体实施例
。
[0023]具体实施例一：
[0024]参照图1‑4，一种多通道芯片测试平台，包括主机框架1，主机框架1的正面一侧设有存储箱体3，且存储箱体3为抽屉结构，主机框架1的侧面设有设备接口9，且设备接口9为圆形接口，嵌合在主机框架1侧面的中部，主机框架1的顶部设有测试面板6，测试面板6的表面贴合有橡胶垫，且测试面板6的底部连接有接地线，测试面板6的一侧设有主计数器7和备份计数器8，主计数器7和备份计数器8之间相互平行设置，且主计数器7和备份计数器8均通过螺栓和测试面板6之间相互连接，测试面板6的另一侧设有辅助支架2和安装支架4，安装支架4和辅助支架2均为直线滑轨结构，且安装支架4和辅助支架2的表面均匀开设有矩形槽口，并且安装支架4为双板平行构成，测试面板6靠近辅助支架2的位置设有定位平台5，定位平台5为两组平行设置，且定位平台5为真空吸附平台，外接有真空气泵，且定位平台5的顶部和识别摄像头
10
之间处于同一个对焦平面，辅助支架2的侧面设有识别摄像头
10。
[0025]确保主机框架1的电源和接地线已正确连接，打开存储箱体3，并确保所需的测试芯片和工具已准备就绪，确保设备接口9已连接到所需的外部设备，使用主计数器7和备份计数器8来设置和记录测试参数，将芯片放置在定位平台5上，定位平台5通过真空吸附固定芯片，使用识别摄像头
10
扫描并识别芯片的特征，启动测试程序，通过测试面板6上的接口和连接进行测试，监控测试过程，通过识别摄像头
10
和其他传感器收集数据，如果需要，调整测试参数并重复测试，收集测试数据，并使用主计数器7和备份计数器8记录结果，分析测试数据，确定芯片是否符合规格要求，完成测试后，关闭所有设备并断开连接，从定位平台5上移除芯片，整理和分析测试数据，然后生成测试报告
。
[0026]具体的工作步骤：
[0027]连接主机框架1的电源和接地线，打开存储箱体3，取出所需的测试芯片和工具，通过设备接口9连接任何必要的外部设备，使用主计数器7设置测试参数，将测试芯片放置在
定位平台5上，使用识别摄像头
10
扫描芯片，启动测试程序，监控测试过程，收集数据，如果需要，调整测试参数并重复测试，收集并记录测试数据，分析数据，确定芯片是否合格，关闭所有设备，断开所有连接，从定位平台5上移除芯片，将测试工具和芯片放回存储箱体3，整理测试数据并生成测试报告
。
[0028]综上所述：
[0029]1、
采用主计数器7和备份计数器8来设置和记录测试参数，可以确保测试过程的精确控制，同时，测试面板6的橡胶垫和接地线有助于减少电气干扰，提高测试的可靠性，此外，通过使用真空吸附的定位平台5和识别摄像头
10
来精确定位和识别芯片，可以进一步提高测试精度；
[0030]2、
采用存储箱体3的抽屉结构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种多通道芯片测试平台，包括主机框架
(1)
，其特征在于：所述主机框架
(1)
的顶部设有测试面板
(6)
，所述测试面板
(6)
的一侧设有主计数器
(7)
和备份计数器
(8)
，所述测试面板
(6)
的另一侧设有辅助支架
(2)
和安装支架
(4)
，所述测试面板
(6)
靠近辅助支架
(2)
的位置设有定位平台
(5)
，所述辅助支架
(2)
的侧面设有识别摄像头
(10)。2.
根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试平台，其特征在于：所述主机框架
(1)
的正面一侧设有存储箱体
(3)
，且存储箱体
(3)
为抽屉结构
。3.
根据权利要求1所述的一种多通道芯片测试平台，其特征在于：所述主机框架
(1)
的侧面设有设备接口
(9)
，且设备接口
(9)
为圆形接口，嵌合在主机框架
(1)
侧面的中部
。4.

【专利技术属性】
技术研发人员：赵斌，
申请(专利权)人：深圳市百禾芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：