一种集成电路芯片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路芯片检测装置，包括底板和固定连接于底板顶部的检测框，所述底板的顶部转动连接有齿环且内表面转动连接有若干转杆，若干所述转杆的外表面均固定连接有齿轮，若干所述齿轮的外侧均与齿环的内侧啮合连接，所述底板的顶部固定连接有若干固定块，若干所述固定块的顶部均滑动连接有齿条，本实用新型专利技术涉及芯片检测技术领域

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路芯片检测装置


[0001]本技术涉及芯片检测
，具体为一种集成电路芯片检测装置
。

技术介绍

[0002]集成电路芯片检测装置是对芯片的焊接引脚进行检测的装置，通常是使用检测探针检测芯片是否能正常工作
。
[0003]现有的集成电路芯片检测装置，多为针对某一种规格的芯片进行检测，对芯片的规格有一定要求，当芯片较大或较小时，会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置，为此，本技术提出了一种集成电路芯片检测装置
。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路芯片检测装置，解决了现有的集成电路芯片检测装置当检测芯片较大或较小时会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置的问题
。
[0005]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种集成电路芯片检测装置，包括底板和固定连接于底板顶部的检测框，所述底板的顶部转动连接有齿环且内表面转动连接有若干转杆，若干所述转杆的外表面均固定连接有齿轮，若干所述齿轮的外侧均与齿环的内侧啮合连接，所述底板的顶部固定连接有若干固定块，若干所述固定块的顶部均滑动连接有齿条，若干所述齿条均与齿轮啮合连接且底部均与检测框的顶部滑动连接，所述底板的顶部设有支撑框架，所述检测框的正上方设有检测组件，所述检测组件位于支撑框架的下方
。
[0006]优选的，所述支撑框架包括固定连接于底板顶部的若干支撑杆，若干所述支撑杆的顶部固定连接有横板
。
[0007]优选的，所述检测组件包括固定连接于横板底部的电伸缩杆，所述电伸缩杆的底部固定连接有检测板，所述检测板的底部固定连接有若干检测探针
。
[0008]优选的，若干所述齿条的内表面滑动连接有连接杆，若干所述连接杆的一端均固定连接有橡胶板且另一端与齿条的内表面之间均固定连接有弹簧
。
[0009]优选的，所述底板的底部固定连接有若干支撑脚，若干所述齿条的一端均固定连接有限位板
。
[0010]优选的，所述底板的底部固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出端与转杆的一端通过联轴器固定连接
。
[0011]有益效果
[0012]本技术提供了一种集成电路芯片检测装置
。
与现有技术相比具备以下有益效果：该集成电路芯片检测装置，通过底板
、
检测框
、
齿环
、
转杆
、
齿轮
、
固定块
、
齿条
、
支撑框架和检测组件之间的配合，达到了转动转杆即可控制多个齿条同时向中心移动的效果，使芯片能够始终被定位在中心位置，能够满足不同规格芯片检测时的固定需求，解决了现有的
集成电路芯片检测装置当检测芯片较大或较小时会无法放入检测的凹槽内或难以定位中心位置的问题
。
附图说明
[0013]图1为本技术的主视图；
[0014]图2为本技术的局部结构主视图；
[0015]图3为本技术的第一局部结构俯视图；
[0016]图4为本技术的第二局部结构俯视图；
[0017]图5为本技术的图3中
A
处的局部放大图
。
[0018]图中：1‑
底板
、2
‑
检测框
、3
‑
齿环
、4
‑
转杆
、5
‑
齿轮
、6
‑
固定块
、7
‑
齿条
、8
‑
支撑框架
、81
‑
支撑杆
、82
‑
横板
、9
‑
检测组件
、91
‑
电伸缩杆
、92
‑
检测板
、93
‑
检测探针
、10
‑
连接杆
、11
‑
橡胶板
、12
‑
弹簧
、13
‑
支撑脚
、14
‑
限位板
、15
‑
驱动电机
。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚
、
完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例
。
基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围
。
[0020]请参阅图1‑5，本技术提供两种技术方案：
[0021]实施例1：一种集成电路芯片检测装置，包括底板1和固定连接于底板1顶部的检测框2，检测框2内用于放置待检测芯片，底板1的顶部转动连接有齿环3且内表面转动连接有若干转杆4，若干转杆4的外表面均固定连接有齿轮5，若干齿轮5的外侧均与齿环3的内侧啮合连接，一个齿轮5转动时能够通过齿环3带动所有齿轮5同时转动
,
底板1的顶部固定连接有若干固定块6，若干固定块6的顶部均滑动连接有齿条7，若干齿条7均与齿轮5啮合连接且底部均与检测框2的顶部滑动连接，若干齿条7都对应有一个齿轮5，当齿轮5同步转动时，齿条7也将同步在检测框2和固定块6上滑动，底板1的顶部设有支撑框架8，检测框2的正上方设有检测组件9，检测组件9位于支撑框架8的下方，支撑框架8用于支撑检测组件9，检测组件9用于检测芯片
。
[0022]本实施例中，支撑框架8包括固定连接于底板1顶部的若干支撑杆
81
，若干支撑杆
81
的顶部固定连接有横板
82
，检测组件9包括固定连接于横板
82
底部的电伸缩杆
91
，电伸缩杆
91
与外部电源连接，电伸缩杆
91
的底部固定连接有检测板
92
，检测板
92
位于检测框2的正上方，检测板
92
的底部固定连接有若干检测探针
93
，电伸缩杆
91
能够通过检测板
92
控制检测探针
93
的升降，检测板
92
上的检测探针的分布和数量根据待测芯片型号确定
。
[0023]本实施例中，若干齿条7的内表面滑动连接有连接杆
10
，若干连接杆
10
的一端均固定连接有橡胶板
11
且另一端与齿条7的内表面之间均固定连接有弹簧
12
，橡胶板
11
为橡胶材质，避免在推动芯片时使芯片摩擦受本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种集成电路芯片检测装置，包括底板
(1)
和固定连接于底板
(1)
顶部的检测框
(2)
，其特征在于：所述底板
(1)
的顶部转动连接有齿环
(3)
且内表面转动连接有若干转杆
(4)
，若干所述转杆
(4)
的外表面均固定连接有齿轮
(5)
，若干所述齿轮
(5)
的外侧均与齿环
(3)
的内侧啮合连接，所述底板
(1)
的顶部固定连接有若干固定块
(6)
，若干所述固定块
(6)
的顶部均滑动连接有齿条
(7)
，若干所述齿条
(7)
均与齿轮
(5)
啮合连接且底部均与检测框
(2)
的顶部滑动连接，所述底板
(1)
的顶部设有支撑框架
(8)
，所述检测框
(2)
的正上方设有检测组件
(9)
，所述检测组件
(9)
位于支撑框架
(8)
的下方
。2.
根据权利要求1所述的一种集成电路芯片检测装置，其特征在于：所述支撑框架
(8)
包括固定连接于底板
(1)
顶部的若干支撑杆
(81)
，若干所述支撑杆
...

【专利技术属性】
技术研发人员：兰斌，夏翥亮，
申请(专利权)人：深圳市科亿微科技有限公司，
类型：新型
国别省市：